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LEXT OLS4100は、非接触でサンプルの3次元表面形状の観察・測定が可能なレーザー顕微鏡です。複雑な微細形状の測定に優れ、触針式表面粗さ測定機とのデータ互換性もあります。2倍の画像取得速度や従来より広い範囲の画像取得ができるようになりました。
高N.A.の専用対物レンズと、405nmレーザーの性能を最大限に引き出す専用光学系により、OLS4100は、今まで測ることのできなかった急峻な角度を持つサンプルでも、測定することが可能です。
急峻な角度を持つサンプル(カミソリ) | LEXT 専用対物レンズ | 収差を抑えた専用対物レンズ |
(対物レンズ:MPLAPON50XLEXT) STEP高さ標準Bタイプ、PTB- 5、ドイツ、マイクロエレクトロニクス研究所 6nm段差を検知 | 短波長405nmのレーザー光と高N.A.の専用対物レンズの採用により、最大0.12μmの平面分解能を実現。サンプル表面のサブミクロンの測定が可能になります。さらに、高精度リニアスケールと、IZカーブを利用したCFOサーチ(23ページ参照)の採用により、10ナノメートル以下の高さの違いを検知することが可能です。 |
ダイヤモンド電着工具 対物レンズ:MPLAPON50XLEXT | OLS4100は、コンフォーカル光学系を2系統搭載したデュアルコンフォーカルシステムを採用。高感度ディテクター(検出器)と組み合わせることで、極端に異なる反射率をもつサンプルでも、信頼性の高い測定ができます。 |
OLS4100に搭載したマルチレイヤー機能では、複数のレイヤー(層)の反射光量のピークを認識し、それぞれの層を焦点位置として採用することができるようになりました。 マルチレイヤー機能を使えば、透明サンプルの最表面にある透明膜の観察や測定が可能になります。樹脂がコーティングされているようなサンプルでも、透明体の各層の粗さ測定、さらに面膜厚の測定も可能となります。 |
測定機器としての性能は二つの異なった用語で表現されます。それが「正確性」と「繰り返し性」です。「正確性」とは、真の値にどれだけ近づいているかを表し、「繰り返し性」とは、複数回の測定においてどれだけ変動が少ないかを表すものです。OLS4100は、レーザー顕微鏡で業界で初めて*この二つの性能を保証しました。 * レーザー顕微鏡において(2008年12月1日現在)。当社調べ。
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LEXT OLS4100 トレーサビリティー体系図 | OLS4100では、すべての部品が厳格なシステムの基で製造されています。対物レンズから本体までを自社工場で一貫製造し、厳格な検査基準を経て出荷。納品時の校正と最終調整は、実際に使用される環境で専任の技術者が行います。 |
段差測定断面プロファイル上の任意の2点間の段差を測定することができます。 | 表面粗さ測定ワンラインの線粗さ測定、面全体の面粗さ測定が可能です。 | 面積/体積測定断面プロファイル上で任意のしきい値を設定することにより、その上部または下部の体積を測定することができます。 |
粒子測定セパレータ機能による粒子の自動分離、しきい値の設定、ROIによる検出範囲の設定が可能です。 | 幾何測定画像上の任意の2点間の距離を測定することができます。また、任意のエリアによる面積測定も可能です。 | 膜厚測定 (オプション)合焦位置を検出することにより、透明体の膜厚を測定することができます。 |
エッジ自動検出測定 (オプション)画像内のエッジを自動で検出し、線幅・円の測定をすることができます。オペレーターによる測定誤差を軽減できます。 |
粒子サイズの分析や非金属含有率など、より専門的なアプリケーションには、工業用画像処理解析ソフトウェア「Olympus Stream」(オプション)が用意されており、LEXTからの画像データの受け渡しが容易です。
OLS4100は表面粗さ測定機の新基準をめざし開発されました。必要なほぼ全ての粗さパラメーター、フィルターを搭載しています。これにより、触針式表面粗さ測定機をご使用のお客様にとって抵抗のない操作性、互換性のある出力結果を実現しました。
さらに、OLS4100では粗さ専用モードを搭載し、1ラインの自動貼合わせにより最大100mmの長寸法線粗さの測定が可能です。OLS4100は、触針式表面粗さ測定機と同様の粗さ(2次元)パラメーターを搭載しています。触針式表面粗さ測定機と同様の操作性、互換性のある測定結果を得ることができます。
断面曲線 | Pp, Pv, Pz, Pc, Pt, Pa, Pq, Psk, Pku, Psm, PΔq, Pmr(c), Pδc, Pmr |
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粗さ曲線 | Rp, Rv, Rz, Rc, Rt, Ra, Rq, Rsk, Rku, Rsm, RΔq, Rmr(c),Rδc, Rmr, RZJIS, Ra75 |
うねり曲線 | Wp, Wv, Wz, Wc, Wt, Wa, Wq, Wsk, Wku, Wsm, WΔq, Wmr(c), Wδc, Wmr |
負荷曲線 | Rk, Rpk, Rvk, Mr1, Mr2 |
モチーフ | R, Rx, AR, W, Wx, AW, Wte |
粗さ( JIS1994) | Ra(JIS1994), Ry, Rz(JIS1994), Sm, S, tp |
その他 | R3z, P3z, PeakCount |
次世代のパラメーターへの対応
OLS4100は、ISO25178準拠した粗さ(3次元)パラメーターを搭載しています。面領域での評価を行うことで、より信頼性の高い解析が可能です。
振幅パラメーター | Sq, Ssk, Sku, Sp, Sv, Sz, Sa |
機能パラメーター | Smr(c), Sdc(mr), Sk, Spk, Svk, SMr1, SMr2, Sxp |
体積パラメーター | Vv(p), Vvv, Vvc, Vm(p), Vmp, Vmc |
横方向パラメーター | Sal, Str |
• 触針式粗さ測定機による測定断面曲線
触針式表面粗さ測定機では、スタイラスの先端径より微細な凹凸を測定することはできません。レーザー顕微鏡は、レーザーのスポット径が微小なため、微細形状を高分解能に粗さ測定することができます。 |
非接触測定触針式表面粗さ測定機では、柔らかいサンプルはスタイラスにより傷がつけられ形状が変わってしまいます。また、粘着性のあるサンプルではスタイラスに引っ張られ正確な測定結果が出ません。レーザー顕微鏡は非接触のため、表面状態に影響されず、正確な粗さ測定をすることができます。 | |
柔らかいサンプル 粘着性のあるサンプル |
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ボンディングワイヤー | 触針式表面粗さ測定機では、スタイラスを微小領域に下ろすことができず測定することができません。レーザー顕微鏡では位置を正確に特定し、狙った微小エリアの粗さ測定を簡単に行うことができます。 |
OLS4100は、同一視野内のカラー画像・レーザー輝度画像・高さ画像を同時に取得することができ、それぞれ2D・3Dにて表示できます。レーザー輝度画像だけでなくカラー画像も、焦点が合った画像のみ取り込むのでクリアな画像の取得が可能です。
リアルカラー画像 | レーザー輝度画像 | 高さ画像 |
2Dカラー画像(インクジェットドット、対物レンズ20X) | 3Dカラー画像(インクジェットドット、対物レンズ20X) | OLS4100は白色LEDを採用。色再現に優れた撮像素子と組み合わせることにより、クリアで自然な色合いのカラー画像を生成することができます。 |
レーザー画像(ポリマーフィルム) | 微分干渉観察は、レーザー顕微鏡の分解能をさらに超えた、ナノメーターレベルの微小凹凸を可視化する観察方法です。このレーザーDICにより、OLS4100は、低倍率のライブ観察でも電子顕微鏡の分解能に迫る画像を得ることができます。 |
レーザーDIC画像(ポリマーフィルム) | レーザー画像(対物レンズ5X) STEP高さ標準タイプB、PTB-5、ドイツ、マイクロエレクトロニクス研究所 | レーザーDIC画像(対物レンズ5X) STEP高さ標準タイプB、PTB-5、ドイツ、マイクロエレクトロニクス研究所 |
ハイブリッド除振機構 | OLS4100は、外部からの影響を抑え測定およびイメージング環境を安定させるために、本体にコイルスプリングとダンピングラバーによる「ハイブリッド除振機構」を内蔵しています。このため、専用の除振台を用意することなく、測定が可能です。 |
OLS4100では、サンプルをステージにセットするだけで、すぐに観察・測定がスタートできます。直感的にわかりやすい、画像取得、測定、レポート作成の3つのステップで、レーザー顕微鏡に慣れていない初心者でも、簡単に測定方法をマスターすることができます。
OLS4100では、マクロマップ機能を搭載しているので「今どこにいるか」を画面上で示すことができます。電動レボルバを搭載しているので、低倍率時の広範囲サンプル画像を自動で表示します。
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マクロマップの範囲指定を行うには、ライブ感覚で取り込みができるマニュアルと、自動的に取り込みを行うオートの2つのモードがあります。オートでの画像の取り込みはワンクリックで開始され、より広い範囲を瞬時に取り込むことができます。またオートの貼合わせのサイズは、5種類(3x3、5x5、7x7、9x9、21x21)から選択することができます。 |
OLS4100には、スマートスキャン機能を新搭載。従来の3Dスキャンでは、初心者には難しい複雑な設定が必要でしたが、スマートスキャン機能により、簡単に3D画像の取り込みが行えるようになりました。上下限の設定に加えて、明るさの調整も自動的に行われ、ワンクリックで画像の取り込みができ、初心者でも熟練者のような最適な画像取得が可能です。
3D 画像取り込み
自動明るさ調整
平面の明るさ調整 高さの範囲内での明るさ調整
取り込み時間が大幅に短縮
新搭載の超高速モードでは、従来の高速モードの約2倍、高精細モードの約9倍の速さでスキャンができます*。これにより、広範囲のZ方向の取得と高倍率を必要とする、ナイフの先端のような急峻な角度をもつサンプルの測定も短時間で可能です。
* 実際のスキャン時間はZ方向の範囲および対物レンズの倍率などにより変動します。
同一時間あたりの画像取得枚数:
フルスキャンによる画像取得 | バンドスキャンによる画像取得(約1/8 の時間で実現) | OLS4100のバンドスキャン機能では、サンプルのスキャン範囲を限定することにより、従来の約1/8という高速な測定が可能です。 |
マクロマップと同じ手順で取得した広範囲の画像から3Dの貼合わせの範囲を指定することができます。最大625枚の画像の貼合わせが従来の約半分の時間で行うことができます。貼合わせの範囲の指定方法は、矩形だけでなく円形からも選択可能です。
貼合わせ範囲:矩形:63(21x3)ピース 貼合わせ範囲:円形(3点) |
画面上のカーソルで取得不要の箇所を指定し、複雑な形状のサンプルを効率的に画像取得することができます。 |
貼合わせ範囲の断面図(スマートスキャン) | 貼合わせ範囲の断面図(従来のスキャン) | スマートスキャンを使用することで、画像の取り込みがワンクリックで開始できます。スマートスキャンモードではZ方向の設定が自動的に行われるため、Z方向の取り込み範囲を限定することで、さらに大幅な時間短縮につながります。 |
観察・測定結果の素早いレポート作成も、レーザー顕微鏡の大切な役割です。OLS4100は、測定終了後にワンクリックでレポートの作成が可能。個々のテンプレートのカスタマイズが自由自在にできるなど、充実の編集機能も備えています。 |
簡単に測定を一括で行える、カスタマイズ可能なウィザード機能を搭載しています。マニュアルを読む手間やトレーニングの時間を費やすことなく、測定結果を出力できます。 |
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