BX53Mシステム

BX53Mは、落射照明専用および落射／透過照明の2種類の顕微鏡フレームを用意しています。工業用途で必要とされる代表的な観察法（明視野、暗視野、微分干渉、MIX、簡易偏光、蛍光、透過明視野）を利用できます。

BX53M IR観察（落射）

赤外（IR）光によって、可視光を通さない実装されたICチップなどの内部観察ができます。また、可視域から近赤外域まで収差補正した5～100Xの対物レンズを、ラインアップとして揃えています。特に20X以上の対物レンズでは、観察対象物を覆うシリコン層によって生じる収差を補正環によって補正し、クリアな像を得ることができます。

IR用対物レンズについてさらに詳しく

BX53M偏光観察（透過）

偏光特性を考慮した光学系を持つBX53M偏光では、鉱物や結晶の観察やリタデーションの測定が可能です。さらに、回転ステージや心出しレボによる調整機能で対物切り替え時の像ずれを抑え、観察を容易にします。

鮮明なオルソスコープ像・コノスコープ像

コノスコープ観察ユニットU-CPAの使用により、簡単な操作でオルソスコープ、コノスコープの切り換えや、コノスコープ像のフォーカシングが可能です。また、ベルトラン絞りの採用により、試料の微小範囲でもシャープなコノスコープ像が観察できます。