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産業ソリューション
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工業用顕微鏡
仕様

メインライセンス

Enterprise Desktop
画像取り込み HDR、倍率の自動校正を含む画像取得の基本機能、LiveHDR*1、位置ナビゲーション*1 ■

ソフトウェアオートフォーカス*2、動画撮影（Avi形式） ■

タイムラプス、インスタントEFI、インスタント/手動MIA*3 ■

自動EFI/MIA、Zシリーズ画像の取得 ■

画像ツール・カスタマイズ 基本ツールウィンドウ（画像履歴、プロパティ、ナビゲーター、ギャラリービュー）*4 ■ ■
文字・図形描写、レイヤー管理、スケールバー、十字線（クロスライン）、情報スタンプの表示、画像フィルター ■ ■
スケール付き十字線表示/グリッド、ラインプロファイル表示、お気に入り機能、レイアウト管理、マクロ機能 ■

計測 ツール/画像解析 基本計測ツール（2点間距離、角度、矩形、円、楕円、多角形、円の中心間距離、角度可変スケール、直線ルーラー）、MS Excelへの出力 ■ ■
フェーズ分析、マジックワンド、フリーハンド多角線、補間多角形、モルフォロジーフィルター、画像演算 ■ ■
高さ計測、3Dプロファイル計測、3Dサーフェイスビュー ■ ■
レポート*5 レポート作成（MS-WordおよびMS-Excel形式） ■ ■
プレゼンテーション作成 ■ ■
データ管理 無制限の同時データベースユーザー数が可能なクライアント/サーバーデータ管理システム*6 ■ ■
画像や文章のユーザー/プロジェクト指向の管理 ■ ■
画像やデータのユーザー権限を変更可能 ■ ■
高速で制御可能なデータアクセス ■ ■
高度な検索機能 ■ ■
対応DBMS：Microsoft SQL Server 2008 R2/R2 Express、Microsoft SQL Server 2012（SP1およびSP2）/Express（SP1およびSP2）、Microsoft SQL Server 2014/Express、Microsoft SQL Server 2017/Express、Microsoft SQL Server 2019/Express、Oracle 11g R2/express、Oracle 12g R2/Express ■ ■
Secure File Repository（SFR）技術による安全な保管のための高度なサービス ■ ■
制御デバイス エビデント製顕微鏡**7とカメラ*8 ■

他社製のカメラと画像ソースコンバーター*9 ■

他社製ステージコントローラー*9 ■

PC動作環境
CPU Intel® Core i5、Intel® Core i7、Intel® Xeon
RAM / HDD / DVDドライブ 4 GB以上（8 GB以上推奨）／空き容量2.4 GB以上／DVD+R DL対応
OS*10 Windows 10 Pro（64ビット）、Windows 8.1（64ビット）Pro
.NET Framework バージョン4.6.2以降
グラフィックカード*11 1280×1024の解像度、32ビット表示が可能なビデオカード
ウェブブラウザー Windows Internet Explorer 8、9、10、または11

*1   DP74カメラが必要です。Live HDR機能には64ビットのOSが必要です。
*2   電動Z機構付きの当社顕微鏡または他社製電動フォーカスユニットが必要です。
*3   インスタントMIAは一部のカメラで動作しない可能性があります。
*4   各種一般ファイル形式と当社独自の公開ファイル形式（.DSX/.LEXT/.POIR形式ファイル）の読み込み・書き出し
*5   Microsoft Word 2010、2013、2016、2019、またはOffice 365が事前にインストールされている必要があります（付属していません）。
*6   Microsoft SQL Server Expressを利用
*7   BX53M、BX2、IX2、GX、GX53、SZX、SZX2、SZX-ZE、MX、MX63、MX63L、MVX、STM7-CB、CBS、BX3M-CB、BX3M-CBFM、BX-REMCBに対応しています。
*8   LC20、LC30、LC35、DP22、DP23、DP27、DP28、DP73、DP74、SC30、SC50、SC100、SC180、UC30、UC50、UC90、XC10、XC30、XC50、XM10、DP23Mに対応しています。
*9   対応する機器については、当社にお問い合わせください。
*10 Stream 2.5以降では、当社製カメラDP74、DP73、SC180/UC90はWindows 10/8.1のみ対応となります。Windows 7には対応しなくなりました。
*11 DP74ではLive HDR用の構成が必要です。NVIDIA製CUDA対応グラフィックボード（Compute Capability 2.1以上）。CUDA9.1以上に対応したグラフィックボードドライバー。

その他のオプションソフトウェア

ソリューション 組み合わせ可能ライセンス 機能概要
Enterprise Desktop 機能・計測タイプ
3D 標準 一部標準* 3Dサーフェイスビュー、3D計測、3Dプロファイル表示、シリーズ画像取得、高さマップ付きの自動EFI（電動Z機構が必要）
溶接計測 ■ ■ のど厚、非対称線、複数の垂直線の計測
カウントと計測（粒子解析） ■ ■ 多様なしきい値設定（自動、手動HSV、手動、適応）
さまざまなパラメーターで全対象物を自動計測（直径、面積、周囲長、フェレ径、伸長、円形度、色相、重心、配向度など）{個別の計測結果およびクラス分類結果を表やグラフに表示

TruAIディープラーニング技術

■ ■ セマンティック（対象物のクラス識別）またはインスタンス（対象物間の境界を区別）セグメンテーションによるニューラルネットワークの学習

* 画像取得に関する機能は使用できません

マテリアルソリューション

ソリューション 結果出力 機能概要
Enterprise Desktop レポート自動出力 計測結果の表出力 画像プロパティに結果保存 計測タイプ 対応規格
粒度解析（切断法） ■ ■ ■ ■ ■ 試験パターンの選択（円、十字、十字と円、垂直線、水平線、垂直線と水平線）

試験線数の調整（結晶粒の伸長計測用）

マテリアルソリューションのツールウィンドウ上のG値の表示 		ASTM E112-13(2021)、ISO 643:2020、JIS G 0551:2020、JIS G 0552:1998、GOST 5639-82、GB/T 6394-2017、DIN 50601:1985、ASTM E1382-97(2015)
粒度解析（計数法） ■ ■ ■ ■*2 ■ 結晶粒界の自動抽出

抽出条件はStreamスライダーにより簡単操作で設定可能

G値分布のヒストグラム表示（比率を表示） 		ASTM E112-13(2021)、ISO 643:2020、JIS G 0551:2020、JIS G 0552:1998、GOST 5639-82、GB/T 6394-2017、DIN 50601:1985、ASTM E1382-97(2015)
非金属介在物解析 ■ ■ ■ ■ ■ 色（グレイスケール）、形状、サイズによる非金属介在物の自動検出

酸化物系、アル ミナ系、硫化物系、シリケート系の自動分類

最悪視野:{観察視野における最大の介在物を測定{検出された介在物を結果とともにライブ表示

非金属含有量: {電動ステージによる広範囲の画像取得 取得画像内で介在物の格付け {検出された介在物と格付けの結果は、表形式で出力
  		ASTM E45-18a (method A)、DIN 50602:1985 (method M)、ISO 4967:2013 (method A)、GB/T 10561-2005 (method A, equivalent to ISO 4967)、JIS G 0555:2003 (method A, equivalent to ISO 4967)、UNI 3244:1980 (method M)、EN 10247:2017 (methods P and M)、EN 10247:2007 (methods P and M)、ASTM E45-18 (method D)、ISO 4967:2013 (method B)、SEP 1571-2017 (methods M and K)、EN10247:2017 (method K)。
鋳鉄解析 ■ ■ ■ ■ ■ エッチング前の標本：黒鉛球状化率、黒鉛の特性（サイズ、形状、分布）

エッチング後の標本：フェライト/パーライト面積率を計測

標本状態（エッチング前/後）を考慮したウィザードを装備 		EN ISO 945-1:2018、ASTM A247-17、
JIS G 5502:2001、KS D 4302:2006、
GB/T 9441-2009、ISO 16112:2017、
JIS G 5505:2013、NF A04-197:2017、
ASTM E2567-16a（球状化率のみ）

チャート比較

■ ■

■ ■ 複数チャート表示可能（ライブ画像への重ね合わせを含む）

スライダーによる簡単操作で設定可能

選択値による統計分析 		DIN 50602:1985、ISO 945-1:2019、ISO 643:1983、ISO 643:2012、EN 10247:2017、SEP 1520:1998、SEP 1572:2019、ASTM E112:13(2021)、ISO 4505:1978

レイヤー厚計測

■ ■ ■ ■

自動、マジックワンド、手動の検出によるレイヤー線の設定（2点または3点指定による）

各計測ポイントを追加、削除可能

開いたレイヤー、閉じたレイヤーの計測可能

全体、個別のレイヤー厚の統計データ（平均、最小、最大値）

皮膜厚さ測定

■ ■ ■ ■ ■ サンプル上面から取得した画像の圧痕を計測

サンプル形状に対応してめっきなどの薄皮膜の厚さを算出 		EN 1071-2:2002、VDI 3824: 2001、ISO 26423:2016

アルミニウムDAS （デンドライトアーム スペーシング）測定

■ ■ ■ ■ ■ 鋳造アルミニウムの平均デンドライトアーム間隔（DAS）等の測定

自動計測

■

■

距離を自動的に計測（2点間、点と線間、2円間、点と円間、線と円間）

円の直径（円形度や円を囲む矩形領域）、2線による角度を自動的に測定

2本の線間の角度を自動的に計測

計測対象の公差を設定し、合否判定が可能

管理者・ユーザーモードで繰り返し計測可能

スローイングパワー計測

■

■ ■ ■ サンプル上で検査すべき箇所を手動計測

オペレーターが計測開始しやすいように、計測すべき箇所をイラスト表示

スルーホール、ビアの種別の選択が可能

手動測定値を応じて、スローイングパワー（%）を自動計算

気孔率解析

■ ■ ■ ■ ■ 画像内またはROI （三角形、円、矩形、多角形、マジックワンド）内の気孔の検出

気孔の面積率、数、密度の計測

最大気孔径の計測

計測対象径の最大、最小値の設定が可能 		VW 50093/ P6093:2012、
VDG P201-2002、VDG P202-2010、
VDG P211-2010

粒子解析

■ ■ ■ ■ ■ 輝度のしきい値の設定により粒子を検出

選択されたパラメーター（サイズ、色、形）に従って自動的にクラス分類

複数のROIや複数のしきい値を設定して計測が可能

クラスの範囲や名称はユーザーが設定可能

フェーズ分析PLUS

■ ■ ■ ■ ■ 画像内またはROI （三角形、円、矩形、多角形、マジックワンド）内のフェーズの検出

マジックワンド（輪郭自動検出）、フリーハンド多角線、補間多角形の追加計測パラメーター

画像または全ROIにおけるフェーズの面積率の計測

計測対象サイズの最小値の設定が可能


*2 分布が表示されたStream Enterpriseチャートを出力できます。

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