QuickScan iX ECAデータ収集装置は、材料生産環境の表面探傷専用に設計されています。実証済みのQuickScan iX PAデータ収集装置と同様に、信頼できる24 V
I/O工業規格に適合する設計です。装置あたり最大8台のプローブを接続できます。プローブ数や速度に関して要求の厳しい構成には、複数台の装置を結合可能です。
QuickScan iX ECAデータ収集装置
工業要求に耐える設計
QuickScan iX
ECAは、工業用探傷システム向けに開発された最新の渦流データ収集装置です。IP55に準拠しており、工業環境に問題なく適応することができます。
Bar inspection systems use advanced technologies, such as ultrasonic phased array, eddy current array, and X-ray fluorescence spectroscopy, to inspect the full volume and surface of round or square bars and pipes.
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