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非破壊検査ソリューション

概要

工程内表面探傷向けの強力な渦流アレイソリューション

QuickScan iX ECAデータ収集装置は、材料生産環境の表面探傷専用に設計されています。実証済みのQuickScan iX PAデータ収集装置と同様に、信頼できる24 V I/O工業規格に適合する設計です。装置あたり最大8台のプローブを接続できます。プローブ数や速度に関して要求の厳しい構成には、複数台の装置を結合可能です。

QuickScan iX ECAデータ収集装置

工業要求に耐える設計

QuickScan iX ECAは、工業用探傷システム向けに開発された最新の渦流データ収集装置です。IP55に準拠しており、工業環境に問題なく適応することができます。

自動リフトオフ補正

最大

8

装置あたりの入力数


高速検査ニーズに合わせて拡張可能

装置あたり最大8台のプローブを接続できます。より多くのプローブ、より高速の要件を含む要求の厳しい構成には、複数台の装置を結合可能です。
 

最大

40kHz

データ収集速度

50kHz~
2MHz

周波数範囲

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