OmniScan™ 제품군의 최신 구성 요소 소개
눈으로 볼 수 있는 확신. 신제품 OmniScan X3 결함 검출기를 설명할 때 사용하는 문구입니다. 무슨 의미일까요? 이는 OmniScan의 강점이 화면에서 직접 보면서 판단하는 것이기 때문에 올바른 판단을 내렸다는 확신을 준다는 의미입니다. OmniScan X3 결함 검출기에는 매우 세밀한 고품질 이미징 외에도 현장에서 검사를 확인하고 검증할 때 사용할 수 있는 혁신적인 시뮬레이션 및 시각화 도구가 다양하게 포함되어 있습니다. 이 결함 검출기는 MX2의 업그레이드 제품일 뿐만 아니라 완전한 위상 배열 도구 상자입니다. 장비의 고급 이미징 및 분석 기능 덕분에 결함으로 인한 최악의 시기는 발생한 적이 없습니다.
다음은 전환해야 하는 5가지 이유입니다.
1. 보이면 믿을 수 있음: TFM (Total Focus Method) 이미지가 제공하는 고유한 선명도를 활용할 수 있습니다. OmniScan X3 결함 검출기의 고급 TFM 처리에는 표준 TFM 이미지에서 음향파 진동을 제거하여 이미지 해석을 수월하게 해 주는 실시간 엔벨로프 기능이 포함되어 있습니다. 엔벨로프 기능을 사용하면 설정된 허용 오차(2dB) 미만의 진폭 충실도를 유지하면서도 더 거친 TFM 그리드 해상도를 사용할 수 있습니다. 거친 그리드 해상도 설정을 통해 엔벨로프의 과도한 계산 부하를 보상하여 획득 속도를 높일 수 있습니다. 이미지를 보고 나면 결과를 반박하기 어렵습니다.
엔벨로프 없음, 0.07mm 그리드 해상도, 1.7dB 진폭 충실도, 10.6Hz 획득률: HTHA 결함
실시간 엔벨로프를 사용, 0.15mm 그리드 해상도, 1.9dB 진폭 충실도, 19.5Hz 획득률: HTHA 결함이 선명하게 보임
2. 모든 각도 포괄: FMC (Full Matrix Capture)를 통해 수집된 고해상도 TFM 이미지는 기하학적으로 정확하므로 부품 내 결함의 위치와 방향을 더 쉽게 이해할 수 있습니다. 또한 서로 다른 TFM 전파 모드를 최대 4개까지 동시에 보고 비교할 수 있으므로 특이한 방향의 결함을 발견하는 데 유용할 수 있습니다.
3. 비교 및 확인: 새로운 최첨단 소프트웨어 도구는 검사 전, 검사 도중, 검사 후에 다음과 같은 이점을 제공합니다.
- 스캔 도면을 잊으셨나요? 온보드 마법사를 사용하여 현장에서 실시간으로 제작할 수 있습니다. 빔 시뮬레이터를 통해 TFM 영역을 포함하여 빔을 시각화하고 현장에서 필요에 따라 빔을 조정할 수 있습니다. 스캔 도면에는 검출 민감도가 가장 높은 부분과 검출 범위가 부족한 부분을 보여주는 모델을 생성하는 AIM (Acoustic Influence Map) 도구가 포함되어 있습니다.
- 검사 중에 동시 "분할-화면" 보기를 사용하여 최대 4개의 다른 전파 모드의 결과를 비교할 수 있습니다. 따라서 검출한 결함 유형을 검증 및 특성화하고 크기 조정 커서를 정확히 배치할 위치를 정확히 파악하여 깊이 측정 정밀도를 향상시킬 수 있습니다.
- 이제 검사 후 OmniPC™ 데이터 분석 소프트웨어를 사용하여 화면에서 한 번에 두 가지 검사 파일을 비교할 수 있습니다. 예를 들어, 이 방법은 용접부 양면을 나란히 보거나 이전 검사에서 결함의 진행 정도를 추적하려는 경우에 편리할 수 있습니다.
4. 속도 필요성에 부합: 다중그룹 시각화, 대용량 파일, 800%의 높은 진폭 범위, 간소화된 메뉴 구조 등은 검사 속도를 높여주는 기능 중 일부에 불과합니다. TFM 이미지를 포함하여 유연한 고급 데이터 해석 도구 덕분에 분석 속도도 빨라졌습니다.
5. 대폭 단축된 설정 시간: 다음과 같이 장비를 보다 쉽고 효율적으로 구성할 수 있는 여러 기능 덕분에 곧바로 작업을 시작할 수 있습니다.
- 개선된 고속 보정(감도, TCG [Time-Corrected Gain])
- 다중그룹 동시 구성
- 저장된 설정에서 단순해진 보정 확인
- 간소화된 회절비행시간(TOFD)이 불필요한 단계를 없애 줌
이 기능에 대해 자세히 알아보기
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TFM (Total Focusing Method)을 사용한 위상 배열 초음파 이미징 개선
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