OmniScan™ X3 위상 배열 결함 검출기가 공식 출시되기 전에 올림푸스는 Institut de Soudure(프랑스의 용접 검사 그룹)의 IS Expert 부서에 유닛 하나를 빌려주어 이곳의 검사자들이 이 유닛을 테스트해 볼 수 있도록 했습니다. IS Expert 부서는 새롭고 혁신적인 비파괴 검사(NDT) 방법의 개발을 감독하는 일을 담당하고 있습니다.
UT 전문가, OmniScan X3를 테스트하고 평가 제공
초음파 검사 및 회절비행시간(UT/TOFD) 부문 NDT 엔지니어이자 전문가인 마누엘 테시어(Manuel Tessier)는 OmniScan X3 장비로 실험실 테스트를 수행한 후 검사자에게 가장 잠재력이 큰 새로운 기능에 대해 자신의 견해를 밝혔습니다. 그는 다중그룹 TFM (Total Focusing Method) 기능, 개선된 Dual Linear Array 및 Dual Matrix Array 프로브 지원, 혁신적인 AIM (Acoustic Influence Map) 모델링 도구가 제공하는 이점을 강조했습니다.
다음 내용은 Contrôles Essais Mesures(CEM) 매거진 69호에 실린 기사에서 발췌한 것입니다(원문: 프랑스어).
OmniScan X3 결함 검출기의 TFM 이미징 기능을 테스트한 프랑스 Institut de Soudure 연구소 UT/TOFD 부문 NDT 전문가 마누엘 테시어(Manuel Tessier)
 | "저희는 서로 다른 기준에서 TFM을 테스트할 수 있었습니다. 결과는 확실합니다."Institut de Soudure UT/TOFD 부문 NDT 전문가인 마누엘 테시어는 연구소에서 출시 전에 OmniScan X3의 새로운 기능을 테스트해 볼 수 있었습니다. 다음 질문과 답변은 CEM 매거진과의 인터뷰 내용입니다. |
CEM: Institut de Soudure의 부서에서 OmniScan 장비를 매일 사용하고 계신데요. 어떤 용도에 사용하시나요?
마누엘 테시어: OmniScan 장비는 저희에게 기본 장비입니다. 저희는 이 장비의 크기가 작고, 내구성이 우수하며, 현장에서 안정적이므로 높이 평가하고 있습니다. 모든 직원이 이 장비의 사용 방법과 무료 소프트웨어에 대한 교육을 받습니다. 여기 Institut de Soudure에는 이런 유형의 결함 검출기가 20대 정도 있습니다. 용접 검사, 매핑 및 두께 측정, 결함 특성화, 다양한 유형의 손상 검출 등에 사용합니다. 제가 근무하는 IS Expert 부서는 매일 기존 기술(하나의 프로브 사용) 용도로 이 장치를 사용하거나 TOFD 및 위상 배열 조합을 사용하는 용접 검사용 반자동 또는 자동 시스템 내에서 이 장치를 사용합니다.
"OmniScan X3 유닛은 매우 특수한 어플리케이션에서 사용할 수 있는 최첨단 프로브를 통해 여러 흥미로운 기회를 제공합니다."
CEM: 특정 프로브를 사용하는 것은 어떤가요?
마누엘 테시어: 이 장비를 DLA (Dual Linear Array) 또는 DMA (Dual Matrix Array) 프로브와 함께 하기도 합니다. OmniScan X3의 장점 중 하나는 이러한 유형의 센서를 쉽게 프로그래밍할 수 있다는 것입니다. OmniScan MX2에서는 이 프로브를 구동할 수 있더라도 프로그래밍이 용이하지 않았기 때문에 편의성이 떨어졌습니다. OmniScan X3 유닛은 매우 특수한 어플리케이션에서 사용할 수 있는 최첨단 프로브를 통해 여러 흥미로운 기회를 제공합니다. 일례로, 이 프로브의 초점 법칙 설정이 상당히 효과적입니다. 다시 말해, 설정을 조정하면 검사를 미세 조정할 수 있습니다. 이러한 유형의 프로브가 유닛에 통합되어 있어 장치에서 직접 초점 법칙 매개변수를 설정할 수 있으며, 이 작업은 MX2에서만 매우 제한적으로 수행할 수 있습니다. 저에게 이 기능이 상당히 유용합니다.
CEM: 현재 OmniScan X3에서 사용할 수 있는 TFM에 대해 어떻게 생각하시나요?
마누엘 테시어: TFM도 반가운 기능입니다. 지금까지 OmniScan MX2 유닛이 필요한 데이터를 제공할 수 없었기 때문에 특히 미세한 분석을 위해서는 이 결함 검출 모드가 있는 다른 장치를 사용했습니다. 새로운 OmniScan X3 유닛 덕분에 특히 HTHA 손상 검출에서 더 이상 다른 결함 검출기가 필요하지 않습니다(현장에서 여러 장치가 필요하지 않음). 저희는 서로 다른 기준에서 TFM을 테스트할 수 있었습니다. 결과는 확실합니다. 최대 4개 그룹을 동시에 사용할 수 있는 다중그룹 TFM에 대한 추가 테스트를 꼭 수행하고 싶습니다. 다른 장치에는 없는 AIM (Acoustic Impact Map) 기능도 특히 유용하다고 생각합니다. 이 기능을 통해 빔을 시뮬레이션하고 정의된 영역에서 잠재적인 상호작용을 확인할 수 있어 유용하고 우수한 교육 도구입니다.
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백서: TFM Acoustic Influence Map
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