투과 파면 측정 KIF-PU간섭계는 투과된 광학요소의 수차파면을 평가하기 위한 간섭계입니다. 이 시스템은 특히 광 픽업 생산 라인에서 대물렌즈 또는 collimated 렌즈의 평가에 최적입니다.

1. 사용자의 숙련도와 관계없는 안정된 측정
   압전력 드라이브 스테이지와 전용 소프트웨어가 적용된 표준 장비는 얼라인먼트의 에러로 인한 수치변화를 줄여줍니다.

2. Available for measurement of 405nm-band and 650nm-band lenses
   This system is standard-equipped with two-wavelength light sources of 405nm and 658nm which can be switched in a simple operation, thereby allowing evaluation of optical components with either wavelength.

3. Capable of switching between linear and circular polarized light
   To measure a polarization-dependent test substance to be used for an optical pickup component, switching between linear and circular polarized light is needed. This system is optimal for transmitted wavefront measurement of birefringent components such as a plastic and crystal.

4. Compact and high-rigidity
   The compact and high-rigidity main unit takes up less space in view of the operating environments on the shop floor, thus supporting quick quality inspections.

5. OK/NG 판단 가능
   특정 소프트웨어는 생산라인 임의의 적용가능 허용에 따른 설정 기능을 포함하여 OK/NG판단을 쉽게 합니다.