USPM-RU III은 후면 반사광으로부터의 간섭없이, 작고 휘었으며 가느다란 샘플의 구면 반사측정에 최적화 시킨 반사계입니다.

측정 이미지

근소한 부분 측정 렌즈의 휘어진 표면은 샘플표면위에 형성된 ø60 µm크기의 근소 부분으로 부터 측정될 수 있습니다. 이것은 휘어진 사이드 렌즈 또는 다른 광학 요소들을 측정하기 위해 고니오미터를 사용하는 기능을 가지고 있습니다.

후방 표면 반사 제거 원리

후면 간섭 감소 표면반사의 정확한 측정은 후방 표면 반사 방지가 필요한 금전적인 과정없이 작동됩니다. 후방 표면 반사광은 특별한 OPTICS를 사용함으로써 줄어듭니다. 특별한 OPTICS는 컨포칼 시스템과 유사한 반사광 포커스 아웃을 막습니다. 광학요소가 구형이든지, 비구형이든지, 평평하든지, USPM-RU III는 안티 반사를 통해 샘플 준비과정을 필요로 하지 않습니다.

빠른 결과

빠르고, 반복되는 측정은 평평한 격자와, 라인 센서, 그리고 높은 속도의 분광광도계를 사용함으로써, 몇 초이내에 반복측정을 할 수 있게 합니다.

XY 색도

X-Y 색도 다이어그램과 L*A*B 측정 물체 색상은 프리즘 반사로 부터 결정된 분광광도계의 색체계를 기반으로 측정됩니다.

소프트웨어

그래프이미지 반사

텍스트 데이터 이미지 반사