개요
편광 관찰을 위한 새로운 표준BX53-P 편광 현미경은 UIS2 무한 보정 광학 장치와 독특한 광학 설계를 조합하여 편광 애플리케이션에서 탁월한 성능을 제공합니다. 호환 가능하며 확장된 보정기 제품군은 BX53-P 현미경을 사실상 모든 분야에서 관찰 및 측정 응용을 할 수 있을 만큼 다용도로 만들어 줍니다. |
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뛰어난 확장성을 제공하는 UIS2 광학 제품무한 보정의 장점을 극대화한 UIS2 광학 시스템은 편광판, 검판 또는 보정기 등 편광 요소가 광경로에 유입된 경우에도 광학 현미경 성능 저하를 방지하고 배율 요인을 제거합니다. BX53-P 현미경은 BX3 시리즈 현미경 뿐만 아니라 카메라 및 이미징 시스템에도 사용할 수 있는 중간 장착 장치를 허용합니다. | |
석영 섬록암에서 사장석의 누대 구조
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MBBA의 광학적 질감
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| 정상경 및 평광경 관찰용 베르트랑 렌즈정상경 장착 장치를 이용하면 정상경과 평광경 관찰을 전환하기가 간편해집니다. 후방 초점면 간섭 패턴을 명확하게 보기 위해 초점을 조정할 수 있습니다. 베르트랑 렌즈는 후방 초점면 간섭 패턴을 명확하게 볼 수 있도록 초점을 조정할 수 있습니다. 시야 조리개로 선명하고 일관된 정상경 이미지를 얻을 수 있습니다. |
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매우 다양한 보정기 및 파장판
암석 및 광물 얇은 부분의 복굴절 측정을 위해 여섯 가지 보정기를 사용할 수 있습니다. 측정 시 위상차 정도의 범위는 0에서 20λ까지입니다. 보다
쉬운 측정과 높은 이미지 대비를 위한 Berek 및 Senarmont
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보정기의 측정 범위
보다 정확한 측정을 위해 간섭 필터 45-IF546과 함께 보정기(U-CWE2 제외)를 사용하는 것이 좋습니다. |
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| 긴장이 최소화된 광학당사의 편광 대물렌즈는 내부 긴장을 최소한으로 감소시킵니다. EF 값이 더 높아져 이미지 대비가 우수해집니다. |
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견고하고 정확한 회전식 스테이지회전식 스테이지에 부착된 회전식 중앙 장치는 표본을 부드럽게 회전시킬 수 있게 해줍니다. 또한 45도마다 클릭 중지 메커니즘이 있어 정확한 측정이 가능합니다. 이중 기계식 스테이지로 옵션으로 신중한 X-Y 이동이 가능합니다. |
이중 기계식 스테이지 |
사양
| 관찰 방법 > 명시야 | ✓ |
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| 관찰 방법 > 편광 | ✓ |
| 관찰 방법 > 간이 편광 | ✓ |
| 포커스 > 포커스 메커니즘 > 스테이지 포커스 | ✓ |
| 스테이지 > 기계식 > 정밀 회전 스테이지 | 회전 : 360도 |
| 콘덴서 > 수동 > 편광 콘덴서 | NA 0.9/ W.D. 1.3 mm (slide glass 1.5 mm) (4X–100X) |
| 경통 > 광시야 (FN 22) > 삼안 | ✓ |
| 경통 > 광시야 (FN 22) > 틸팅 삼안 | ✓ |
| 치수 (W x D x H) | 274 (W) x 436 (D) x 535 (H) mm |
| 무게 | 16 kg |
자원
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