IR(적외선) 관찰

IR 관찰은 실리콘 또는 필름과 같이 IR을 투과하는 소재를 사용하는 전자 장치의 내부를 검사하는데 선호되는 관찰 방식입니다. 특히 반도체 기판 검사에 적합하며, CSP(칩 스케일 패키지) 연구개발 프로그램에 폭넓게 사용되고 있습니다. IR 대물 렌즈 근적외선 라만 분광기 및 (1,064nm) YAG 레이저를 사용하는 레이저 수리 용도에도 사용됩니다.

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