HTHA를 조기에 안정적으로 감지하는 일은 매우 어려운 작업이기 때문에 감지 가능성을 극대화하기 위해 여러 가지 검사 방법을 함께 사용하는
경우가 많습니다. 특히 Dual Linear Array™(DLA)를 사용하는 초점 위상 배열(Phased Array, PA) 및 TFM(Total Focusing Method)과 함께 회절파 시간 측정(Time-of-flight diffraction, TOFD)을 사용하는 것이 이 응용
분야에서 특히 효과적인 검사 기법으로 입증되었습니다.
OmniScan™ X4 결함 감지기는 미세 결함 및 팁 균열 감지를 향상시키는 혁신적인 PCI(Phase Coherence Imaging)뿐만 아니라 관련 방법들을 모두 지원합니다. 또한 OmniScan X4 기기는
설정 및 분석 워크플로를 용이하게 하는 다양한 온보드 소프트웨어 도구를 제공합니다.
통합형 DLA 프로브 구성 및 스캐너 구성
고해상도 TFM 이미지(최대 1024 × 1024포인트)
설정부터 분석까지 TFM 검사 프로세스를 최적화하는 소프트웨어 도구(AIM 모델을 사용하는 스캔 플랜, 자동 TCG, 스파스 파이어링(sparse firing), 소프트 게인 및
팰릿 슬라이더, 라이브 TFM 엔벨로프 및 이미지 필터, 게이트 및 알람)
64요소 및 TFM 조리개 그리고 128요소 확장형 TFM 조리개(OmniScan X4 64:128PR 모델)
미세 결함 및 팁 균열 감지를 향상하는 PCI(모든 OmniScan X4 장치)
효율적인 스크리닝을 위해 최대 8개의 TOFD 및 위상 배열 그룹을 동시에 획득
한 번에 4개의 TFM 및 PCI 그룹 획득 및 표시
TFM 및 PCI를 사용한 PWI(Plane Wave Imaging) 사용 가능(선형 배열 프로브와 함께 OmniScan X4 장치 사용)
프로브
HTHA용 고감도 프로브
고온수소침식을 조기에 안정적으로 감지
용접부 및 열 영향부에 대한 앵글 빔 적용 범위 극대화
A38 및 A28 Dual Linear Array™ 앵글 빔 프로브
피치-캐치(pitch-catch) 구성의 고감도 10MHz 이중 배열
작은 요소 피치가 용접부 및 열 영향부(HAZ)의 선명한 TFM 이미징 및 광각 적용을 가능하게 함
특허받은 피봇팅 하우징 기술로 배열을 더 가까이 위치시켜 프로브의 두께 통과 적용 범위가 확장됨
4~48인치 OD의 파이프 직경과 최대 95mm(3.74인치)의 두께를 지원하는 전용 웨지 시리즈
A38 DLA의 64요소 배열이 더 날카롭고 깊은 초점 조절을 가능하게 하므로 OmniScan™ X4 결함 감지기의 잠재력을 모두 활용 가능
A28 DLA의 32요소 배열은 작은 웨지 풋프린트를 제공하므로 용접부에 쉽게 액세스하고 커플링 가능
상위 재료를 빠르게 스캔하여 안정적인 HTHA 감지
0도 REX1 이중 선형 배열 프로브
10MHz의 이중 64요소 배열
최대 30mm(1.18인치)의 빔 너비 지원
4인치(101.6mm) OD만큼 작은 파이프 표면에 맞는 조정 가능한 안정화 및 카바이드 마모 보호 시스템
4mm~95mm(0.16~3.74인치)의 두께를 지원하는 통합형 웨지
인코더 또는 스캐너와 사용시 선명한 C 스캔 이미지 제공
안정적인 HTHA 감지를 위해 다양한 검사 방법 활용
HTHA에 최적화된 A31 및 A32 펄스-에코 프로브
효율적인 TFM 및 PWI 검사를 위해 최적화되어 높은 선명도를 제공하는 10MHz 64요소 선형 프로브
A31 프로브의 소형 요소 피치로 용접부 및 HAZ의 광각 적용 가능
A32 프로브의 전체 조리개가 넓으므로 미세한 해상도와 깊은 초점 구현 가능
사양
부품 번호/설명
항목 번호
주파수(MHz)
요소 구성
요소 개수
피치(mm)
활성 조리개(mm)
상승(mm)
루프 각도(도)
두께 범위(mm)
10DL32-9.6X5-A28
(FD25 웨지)
Q3301742
10
이중 32
64
0.3
9.6
5
웨지별 설정
4–45
10DL32-9.6X5-A28
(FD60 웨지)
Q3301742
10
이중 32
64
0.3
9.6
5
웨지별 설정
45–95
10DL32-19.2X5-A38
(FD25 웨지)
Q3302412
10
이중 64
128
0.3
19.2
5
웨지별 설정
4–45
10DL32-19.2X5-A38
(FD60 웨지)
Q3302412
10
이중 64
128
0.3
19.2
5
웨지별 설정
45–95
10DL64-32X5-1DEG-REX1-PR
Q3301737
10
이중 64
128
0.5
32
5
1
30–95
10DL64-32X5-5DEG-REX1-PR
Q3301733
10
이중 64
128
0.5
32
5
5
4–30
10L64-19.84X10-A31
Q3301607
10
선형
64
0.31
19.84
10
해당 없음
3–90
10L64-32X10-A32
Q3300429
10
선형
64
0.5
32
10
해당 없음
8–110
모든 Dual Linear Array 프로브는 10MHz 피에조 복합물로 제조되지만, 통합된 웨지에서 발생하는 감쇠 때문에 REX1 모델의 시험된 중심 주파수 사양은 ~9.0MHz로
내려갑니다.
이 프로브는 OmniScan™ 커넥터 및 2.5m(8.2ft) 케이블과 함께 기본 제공되지만 다른 커넥터 및 케이블 길이와 특별히 연결할 수 있습니다.
중요한 고지 사항: 검사 중 표면과 직접 접촉되도록 위상 배열 프로브를 사용하면 영구적인 손상이 발생할 수 있습니다. 이를 방지하기 위해
웨지를 사용해야 합니다.
A38 및 A28 프로브용 웨지
A38 및 A28 DLA 프로브의 전용 앵글 빔 웨지 시리즈는 용접 볼륨 및 열 영향부 검사를 위해 최적화되었습니다. 이러한 웨지의 각도는 강철의 경우 65도 공칭
입사각에서 L 웨이브를 생성하도록 설정됩니다. 이 웨지들은 4~48인치(101.6mm~1220mm)의 각 AOD 직경에 대해 계산된 루프 각도를 사용합니다.
SA38 및 SA28 웨지는 두 가지 초점 깊이(FD)로 제공되므로 4mm~95mm(0.16~3.74인치)의 광범위한 두께를 지원할 수 있습니다. 이러한 웨지를 사용하여 A38 프로브의 확장된
초점 조정 기능을 모두 활용할 수 있습니다.
