Evident LogoOlympus Logo
Resources
Application Notes
Back to Resources

Ocena profilu powierzchni podkładek regulacyjnych / Bezstykowy pomiar trójwymiarowego kształtu z użyciem mikroskopu laserowego


Zastosowanie

Podkładka dystansowa jest elementem służącym do dostosowywania wysokości lub rozmieszczenia produktów i znajduje zastosowanie w różnych dziedzinach (części składowe maszyn, konstrukcje czy przemysł samochodowy). Grubość, rozmiar i materiał, z którego wykonuje się podkładki dystansowe, są różne. Najcieńsze z nich mogą mieć zaledwie 5 μm grubości. Przeważnie wykonywane są z żelaza, stali nierdzewnej, aluminium, miedzi i mosiądzu.
Podkładki są stosowane głównie do regulacji przerw między częściami lub do stabilizacji rezystancji zestyku. Jednym z kryteriów określających jakość podkładek jest ich profil powierzchni, który podlega ścisłej kontroli w trakcie procesu produkcyjnego. Producenci starają się wytwarzać możliwie jak najgładsze podkładki. Pomiar profilu powierzchni jest oparty na ocenie chropowatości powierzchni, a nie na konwencjonalnej chropowatości linii.

Rozwiązanie firmy Olympus

Skaningowy mikroskop laserowy 3D Olympus LEXT umożliwia bezstykowy pomiar trójwymiarowego kształtu z zachowaniem wysokiej rozdzielczości i precyzji. Pozwala użytkownikom na dokładny pomiar profilu głębokości (lub wysokości) nieregularności powierzchni oraz jej chropowatości. Z uwagi na fakt, że powierzchnia podkładki dystansowej jest jednolita, bezstykowe, milimetrowe pomiary chropowatości długiej linii mogą być wykorzystywane do określenia długości przy użyciu trybu chropowatości. Dane te można z kolei zestawić z informacjami uzyskanymi z innych urządzeń, które nie wykonują pomiarów bezstykowych. Dodatkowo średnica promienia lasera jest mniejsza od średnicy rysika, dzięki czemu użytkownicy mogą dokonywać dokładnych pomiarów mniejszych nieregularności.

Powierzchnia podkładki dystansowej

Powierzchnia podkładki dystansowej

Obiektyw 100X; zoom 1X

Olympus IMS

ProductsUsedApplications

The LEXT™ OLS5100 laser scanning microscope combines exceptional accuracy and optical performance with smart tools that make the system easy to use. The tasks of precisely measuring shape and surface roughness at the submicron level are fast and efficient, simplifying your workflow and delivering high-quality data you can trust.

Sorry, this page is not available in your country
Let us know what you're looking for by filling out the form below.
Sorry, this page is not available in your country