Evident LogoOlympus Logo
Resources
Application Notes
Back to Resources

Profil powierzchni płytki rozpraszającej światło w ekranach LCD / Bezstykowy pomiar trójwymiarowego kształtu z użyciem mikroskopu laserowego


Zastosowanie

Warstwy folii o specjalnym przeznaczeniu łączone są w systemie optycznym, by utrzymać jednolitą jasność wyświetlaczy ciekłokrystalicznych (LCD). W niewielkich wyświetlaczach wykorzystuje się płytkę przewodzącą światło, która ułatwia kierowanie światła przez panel. Światło pochodzące ze źródła takiego jak diody LED rozmieszczone na krawędziach wyświetlacza panelowego zostaje rozproszone przez płytkę i ulega wielokrotnemu odbiciu, oświetlając przednią część panelu. Gęstość rozmieszczenia losowych nieregularności na płytce przewodzącej światło jest dobrana w taki sposób, by w miarę zwiększania odległości od źródła światło stawało się coraz bardziej rozproszone. Natężenie światła wydostającego się z tej płytki jest ujednolicane w płytce dyfuzyjnej. Następnie pada ono na folię pryzmatyczną, która zwiększa jego intensywność i nakierowuje na matrycę TFT. Ocena profilu powierzchni, czyli chropowatości płytki przewodzącej światło, jest istotna w celu zapewnienia jednolitej jasności ekranów LCD.

Rozwiązanie firmy Olympus

Skaningowy mikroskop laserowy 3D Olympus LEXT umożliwia pomiar kąta stożka w płytce przewodzącej światło oraz kąta nachylenia i wysokości między szczytem a doliną, z zachowaniem wysokiej rozdzielczości i ostrości obrazu. System LEXT zawiera specjalne obiektywy z wysoką aperturą numeryczną i zaawansowany układ optyczny — zaprojektowany, by optymalnie wykorzystywać laser emitujący światło o długości 405 nm. Umożliwia zobrazowanie profili nieregularnych powierzchni nachylonych, wcześniej niemożliwych do wykrycia, pozwalając na uzyskanie bardziej wiarygodnych danych 3D i zapewniając wysoką jakość płytek przewodzących światło.

Trójwymiarowy profil powierzchni płytki przewodzącej światło  

Trójwymiarowy profil powierzchni płytki przewodzącej światło

Obiektyw 100X; zoom 1X

Olympus IMS

ProductsUsedApplications

The LEXT™ OLS5100 laser scanning microscope combines exceptional accuracy and optical performance with smart tools that make the system easy to use. The tasks of precisely measuring shape and surface roughness at the submicron level are fast and efficient, simplifying your workflow and delivering high-quality data you can trust.

Sorry, this page is not available in your country
Let us know what you're looking for by filling out the form below.
Sorry, this page is not available in your country