Evident LogoOlympus Logo
Resources
Application Notes
Back to Resources

Pomiar odsetka powierzchni zajmowanej przez złoto (Au) wykonywany na powierzchniach lutowanych po oddzieleniu kulki


Złoto (Au) pozostające na powierzchni lutowanej po oddzieleniu kulki_ob50×z4×_BF
Kulka wykonana ze złota (Au)

1. Informacje ogólne

Technologie miniaturyzacji obudowy i redukcji zajmowanej przestrzeni zwiększają ogólną wydajność produktów wchodzących w skład nowoczesnych urządzeń elektronicznych. W związku z tym coraz częściej stosowana jest technologia połączeń Flip-Chip Bonding (FCB), która umożliwia zmniejszenie powierzchni montażowej i skrócenie połączeń.

2. Zastosowanie

Technologia Flip-Chip Bonding polega na połączeniu elektrod znajdujących się na strukturze układu elektronicznego z elektrodami umieszczonymi na płytce drukowanej (PCB) poprzez kulki lutownicze wykonane ze złota (Au). Brak dodatkowych połączeń drutowych sprawia, że wytrzymałość wiązania bezpośrednio wpływa na przewodność elektryczną obwodu. Ze względu na to, że wytrzymałość wiązania jest zwiększana poprzez jego lutowanie, pomiar odsetka powierzchni zajmowanej przez elektrody lutowane niestopowym złotem umożliwia określenie siły wiązania między kulką a płytką drukowaną.

3. Rozwiązanie firmy Olympus

Mikroskop cyfrowy Olympus DSX1000 osiąga rozdzielczości porównywalne z najnowocześniejszymi mikroskopami optycznymi dzięki zastosowaniu soczewek polowych o wysokiej aperturze numerycznej/niskiej aberracji pola widzenia. Technologia Extended Focal Image (EFI) umożliwia rejestrację obrazów ostrych w całym polu widzenia. Dotyczy to nawet próbek o powierzchni, którą trudno wyostrzyć na obrazie. Oprogramowanie OLYMPUS Stream bezpośrednio przesyła zarejestrowane obrazy w celu dokonania na nich pomiarów. Użytkownicy mogą dodatkowo zoptymalizować obszar pomiarowy, korzystając z ustawień HSV.

Złoto (Au) pozostające na powierzchni lutowanej po oddzieleniu kulki_ob50×z4×_BF_ROI

Obserwacja w jasnym polu: obiektyw o powiększeniu 50X, zoom 4X

Złoto (Au) pozostające na powierzchni lutowanej po oddzieleniu kulki_ustawienia ręczne

Ręczne ustawienia progu HSV

Złoto (Au) pozostające na powierzchni lutowanej po oddzieleniu kulki_ob50×z4×_BF_ROI_Obliczenia i pomiar

Wyznaczenie obszaru ROI / wynik pomiaru

Olympus IMS

ProductsUsedApplications

Wyższa jakość obrazu i lepsze wyniki. Mikroskopy cyfrowe DSX1000 umożliwiają wykonanie szybkiej analizy defektów przy doskonałej dokładności i powtarzalności.

The MX 63 and MX63L microscope systems offer quality observations for 300 mm wafers at largest, flat panel displays, print circuit boards, and other large samples, featuring the versatile functions and ergonomic, user-friendly designs. The flexible module design provides optimal observation systems for diverse inspection purposes. By the combination with OLYMPUS Stream image analysis software, your inspection procedure from observation to report generation can be simplified and streamlined.
Oprogramowanie do analizy obrazów OLYMPUS Stream umożliwia szybki i wydajny przepływ pracy podczas wykonywania kontroli. Dotyczy to wszystkich etapów akwizycji obrazu, wykonywania pomiarów ilościowych i analizy obrazu, a także raportowania i zaawansowanych zadań kontroli materiałoznawczej.
Sorry, this page is not available in your country
Let us know what you're looking for by filling out the form below.
Sorry, this page is not available in your country