Różne techniki badań mikroskopowych przy użyciu mikroskopów cyfrowych
Płytka drukowana
1. Zastosowanie
Wraz z miniaturyzacją urządzeń elektronicznych otwory przelotowe na płytkach drukowanych (PCB) są rozmieszczane coraz gęściej. Jednocześnie producenci kładą nacisk na wysoką jakość otworów przelotowych. Podczas nawiercania otworu przelotowego na płytce mogą pozostawać resztki żywicy rozpuszczonej wskutek wiercenia. Po powleczeniu płytki resztki te uniemożliwiają przewodzenie w wewnętrznej folii miedzianej, powodując rozłączanie obwodu. W związku z tym przed powleczeniem płytki konieczne jest sprawdzenie jej pod kątem obecności resztek żywicy. Zanieczyszczone otwory nawet po ich powleczeniu mogą powodować zmiany oporu elektrycznego i prowadzić do zwarcia — dlatego należy również przeprowadzić ich kontrolę.
2. Rozwiązanie firmy Olympus
Zanieczyszczenia przylegające do wewnętrznej ściany otworu przelotowego znajdują się na różnej wysokości, dlatego podczas obserwacji pod mikroskopem wymagane jest ogniskowanie w pionie. Dzięki funkcji Extended Focal Image (EFI) mikroskop cyfrowy Olympus DSX umożliwia ogniskowanie w pionie przy jednoczesnym utrzymaniu wyraźnego obrazu. Pozwala to systemowi automatycznie stworzyć w pełni wyostrzony obraz całego otworu. Mikroskop DSX oferuje kilka metod obserwacji, takich jak obserwacja w jasnym polu, obserwacja w ciemnym polu, MIX (połączenie obserwacji w jasnym polu i obserwacji w ciemnym polu), kontrast różnicowo-interferencyjny i obserwacja w świetle spolaryzowanym. Użytkownik może wybrać metodę najbardziej odpowiednią dla danego zastosowania jednym kliknięciem. Eliminuje to konieczność dokonywania skomplikowanych ustawień i regulacji (niezbędnych w przypadku tradycyjnych mikroskopów). Wewnętrzna ściana otworu przelotowego jest ciemna i trudna do obserwacji przy oświetleniu światłem odbitym, lecz rozszerzenie obserwacji o oświetlenie światłem przechodzącym pozwala na dużo bardziej wiarygodne potwierdzenie obecności zanieczyszczeń. Obserwacja przy oświetleniu światłem odbitym i przechodzącym umożliwia równoczesne obserwowanie powierzchni płytki oraz wewnętrznej ściany otworu.
Obrazy
(1) Różne techniki badań mikroskopowych odpowiednie do konkretnych zastosowań
 Obserwacja w jasnym polu |  MIX (połączenie obserwacji w jasnym polu i obserwacji w ciemnym polu) |  Polaryzacja |
(2) Obserwacja resztek żywicy przy oświetleniu światłem przechodzącym
