Evident LogoOlympus Logo
Resources
Application Notes
Back to Resources

Pomiary wymiarów perforacji na papierowym opakowaniu


Pomiar kształtów o rozmiarach rzędu mikronów za pomocą mikroskopu laserowego

„Zamek” na papierowym opakowaniu

„Zamek” na papierowym opakowaniu

1.  Zastosowanie

Żywność jest często pakowana w papierowe opakowania, z których wiele posiada perforacje, nazywane tutaj „zamkiem”. Opakowanie tego typu otwiera się przez oderwanie „zamka” wzdłuż perforacji. Aby czynność ta nie sprawiała problemów, konieczne jest przeprowadzanie kontroli głębokości i kąta perforacji.

2.  Rozwiązanie firmy Olympus

Skaningowy mikroskop laserowy 3D Olympus LEXT jest w stanie połączyć wiele obrazów pochodzących z konfokalnego układu optycznego i umożliwia obserwację wysoce precyzyjnych trójwymiarowych kształtów, nawet w przypadku bardzo głębokich perforacji. Dzięki specjalnym obiektywom o dużej aperturze numerycznej oraz dedykowanemu układowi optycznemu, który osiąga maksymalną wydajność przy użyciu lasera półprzewodnikowego emitującego światło o długości fali 405 nm, mikroskop LEXT umożliwia zarejestrowanie wyraźnego obrazu profilu ostrego nachylenia. LEXT jest również mikroskopem optycznym, dlatego operator może równocześnie rejestrować obrazy 3D i obrazy w kolorze (w celu wzmocnienia efektu wizualnego można nałożyć kolorowy obraz papierowego opakowania na obraz perforacji). Wyniki pomiarów wykonanych za pomocą mikroskopu LEXT mogą również posłużyć do korekty wymiarów ostrza używanego do wycięcia perforacji, a co za tym idzie do produkcji łatwych do otwarcia opakowań przyjaznych dla konsumentów.


Obrazy

(1)  Próbka 1
 

Materiał opakowaniowy z nacięciem_F


(2)  Próbka 2
 

Materiał opakowaniowy z nacięciem_L
 


(3)  Próbka 3

Materiał opakowaniowy z nacięciem_N

 

Olympus IMS

ProductsUsedApplications

The LEXT™ OLS5100 laser scanning microscope combines exceptional accuracy and optical performance with smart tools that make the system easy to use. The tasks of precisely measuring shape and surface roughness at the submicron level are fast and efficient, simplifying your workflow and delivering high-quality data you can trust.

Sorry, this page is not available in your country
Let us know what you're looking for by filling out the form below.
Sorry, this page is not available in your country