Wprowadzenie
W ślad za miniaturyzacją i coraz większym wyrafinowaniem urządzeń elektronicznych pojawia się rosnące zapotrzebowanie na zminiaturyzowane płytki drukowane. Jednym z kluczowych etapów produkcji płytek drukowanych jest wiązanie folii miedzianej do dielektrycznego podłoża z żywicy. Aby folia miedziana niezawodnie przylegała do podłoża z żywicy, nadaje mu się chropowatość, która ma zwiększyć efektywne pole powierzchni przylegania. Jeśli jednak powierzchnia będzie zbyt chropowata, zwiększy się impedancja elektryczna, która będzie niekorzystnie wpływać na działanie urządzenia elektronicznego. Dlatego konieczne są pomiary chropowatości powierzchni, które zweryfikują, czy mieści się ona w optymalnych granicach.
Rozwiązania firmy Olympus
Pomiarowy mikroskop laserowy Olympus LEXT 3D został zaprojektowany z myślą o pomiarze chropowatości powierzchni z rozdzielczością 0,12 μm w płaszczyźnie i rozdzielczością detekcji nierówności na poziomie 5 nm, co czyni go idealnym przyrządem do kontroli chropowatości płytek drukowanych. Mikroskop oferuje zarówno wysoką gęstość pikseli, jak i czułość detekcji zboczy, pozwalając na pomiar powierzchni z drobnymi nierównościami i ostrymi uskokami. W mikroskopie LEXT stosowana jest bezstykowa technika pomiaru chropowatości, zatem powierzchnia podłoża nie jest narażona na uszkodzenie podczas kontroli.
Charakterystyka produktu
Mikroskop LEXT oferuje niezwykle wysoką rozdzielczość obrazu i dużą gęstość pikseli, co pozwala na dokładne obserwacje i pomiary w 3D. Charakteryzuje się dużą czułością detekcji zboczy i pozwala na wiarygodne pomiary próbek z ostrymi uskokami. Pomiary chropowatości powierzchni są bezstykowe, zatem nie narażają podłoża żywicznego na uszkodzenie. Mikroskop LEXT spełnia wymagania norm JIS/ISO dotyczące pomiarów chropowatości powierzchni.
Obraz
Rysunek 1: Obraz 3D przedstawiający wyniki pomiaru podłoża z żywicy
