Przedstawiamy najnowszego członka rodziny OmniScan™
Wiarygodność, którą możesz zobaczyć. Tego hasła używamy do opisu nowego defektoskopu OmniScan X3. Co to oznacza? W ten sposób podkreślamy moc defektoskopu OmniScan — informacje wyświetlane na ekranie gwarantują wiarygodność wyników. Oprócz wysokiej jakości i wysoce szczegółowego obrazowania defektoskop OmniScan X3 oferuje innowacyjne narzędzia do symulacji i wizualizacji, które umożliwiają weryfikację i walidację inspekcji na miejscu. To już nie tylko nowa wersja defektoskopu MX2 — to kompletny zestaw narzędzi umożliwiający pracę w oparciu o metodę Phased Array. Wady nigdy nie były łatwiejsze do wykrycia, a wszystko to dzięki zaawansowanym możliwościom obrazowania i analizy zapewnianym przez przyrząd.
Oto 5 powodów, dla których warto wybrać nowy defektoskop:
1. Zobaczyć znaczy uwierzyć: Korzystaj z niezwykłej przejrzystości, jaką zapewnia metoda Total Focusing Method (TFM). Zaawansowane przetwarzanie w ramach metody TFM dostępne w defektoskopie OmniScan X3 wykorzystuje funkcję obwiedni na żywo, która usuwa oscylacje fal akustycznych ze standardowego obrazu TFM, ułatwiając interpretację obrazu. Funkcja obwiedni umożliwia ustawienie mniejszej rozdzielczości siatki TFM przy zachowaniu wierności amplitudy poniżej ustalonej dopuszczalnej wartości (2 dB). Ustawienie mniejszej rozdzielczości siatki pozwala na ograniczenie wykorzystania mocy obliczeniowej, a tym samym zwiększenie prędkości akwizycji. Trudno zakwestionować wiarygodność wyników po obejrzeniu tak zarejestrowanych obrazów.
Brak obwiedni, rozdzielczość siatki 0,07 mm, wierność amplitudy 1,7 dB i prędkość akwizycji 10,6 Hz: uszkodzenia HTHA
Obwiednia na żywo, rozdzielczości siatki 0,15 mm, wierność amplitudy 1,9 dB i prędkość akwizycji 19,5 Hz: uszkodzenia HTHA są wyraźnie widoczne
2. Obejrzyj wszystkie kąty: Obrazy TFM o wysokiej rozdzielczości rejestrowane metodą akwizycji pełnej macierzy (FMC) są geometrycznie poprawne, dzięki czemu łatwiej jest zrozumieć położenie i orientację wady w badanym elemencie. Jednocześnie można przeglądać obraz w maksymalnie czterech różnych trybach propagacji TFM i porównać je, aby łatwiej wychwycić wady w nietypowej orientacji.
3. Porównaj i zatwierdź: Nowe zaawansowane narzędzia programowe zapewniają dodatkowe korzyści przed, w trakcie i po inspekcji:
- Zdarzyło Ci się zapomnieć planu skanowania? Utwórz go na żywo, na miejscu, korzystając z kreatora dostępnego w narzędziu. Symulator wiązek umożliwia wizualizację wiązek, w tym strefy TFM, i dostosowanie ich odpowiednio do potrzeb podczas pracy w terenie. W planie skanowania dostępne jest narzędzie Acoustic Influence Map (AIM), które generuje model wskazujący, w którym miejscu czułość wykrywania będzie najwyższa, a także który obszar nie jest pokryty wiązką.
- Podczas inspekcji można skorzystać z jednoczesnego widoku „na podzielonym ekranie” w celu porównania wyników nawet czterech różnych trybów propagacji. Ułatwia to zwalidowanie i scharakteryzowanie typu wykrytej wady oraz dokładne określenie, gdzie należy umieścić kursory do wymiarowania, co poprawia precyzję pomiarów głębokości.
- Oprogramowanie OmniPC™ do analizy danych po inspekcji oferuje teraz możliwość porównania dwóch różnych plików z inspekcji na jednym ekranie. Jest to przydatne, gdy na przykład chcemy obejrzeć obrazy dwóch stron spoiny obok siebie lub obserwować proces pogłębiania się wady zaobserwowanej przy poprzedniej inspekcji.
4. Osiągnij potrzebną szybkość: Wielogrupowa wizualizacja, większe pliki, rozszerzony do 800% zakres amplitudy i uproszczona struktura menu — to tylko niektóre z funkcji, które przyspieszają inspekcję. Analiza jest również szybsza dzięki elastycznym i zaawansowanym narzędziom do interpretacji danych, w tym obrazom TFM.
5. Znacznie krótszy czas konfiguracji: Dzięki kilku funkcjom, które sprawiają, że konfiguracja przyrządu jest łatwiejsza i bardziej efektywna, można od razu przystąpić do pracy:
- Ulepszona szybka kalibracja (czułość, kalibracja TCG (time-corrected gain))
- Jednoczesna konfiguracja wielu grup
- Uproszczona weryfikacja kalibracji dla zapisanych ustawień
- Zoptymalizowane menu techniki dyfrakcyjnej TOFD (time-of-flight diffraction) eliminuje zbędne kroki
Więcej informacji na temat funkcji przyrządu
Powiązane treści
Obejrzyj film: Przyrząd OmniScan X3 typu Phased Array z funkcją TFM/FMC
Często zadawane pytania (FAQ) dotyczące funkcji TFM
Warto nawiązać kontakt
