Evident LogoOlympus Logo
InSight Blog

Od makro do mikro: jak mikroskopy cyfrowe zmieniają kontrole przemysłowe

By  -
Mikroskopy cyfrowe zapewniające pole widzenia od 22 mm aż do 42 µm

Wolna przestrzeń w laboratorium jest na wagę złota, dlatego tak ważne jest posiadanie systemu łączącego funkcje dostępne w różnorodnych mikroskopach. Takie są właśnie dostępne na rynku mikroskopy cyfrowe, oferujące zakres powiększeń umożliwiający prowadzenie obserwacji przy polu widzenia od 22 mm do 42 µm. Ta funkcja „od makro do mikro” ułatwia obserwację próbki w małym powiększeniu w celu obejrzenia charakterystycznych cech próbki względem dużej powierzchni, a następnie zbadanie małego obszaru próbki w dużym powiększeniu w celu obejrzenia szczegółów. Dodatkowo, dzięki interfejsowi przyjaznemu dla użytkownika, nawet początkujący operator może szybko i łatwo uzyskiwać wyniki przy użyciu jednego urządzenia.

Makro

Możliwości mikroskopów cyfrowych to nie tylko szeroki zakres powiększeń — są one wyposażone w zmotoryzowane elementy, które jeszcze bardziej rozszerzają funkcjonalność systemu. W przypadku większych próbek, które wykraczają poza pole widzenia systemu, można szybko i łatwo przechwycić obrazy całej próbki za pomocą funkcji zszywania obrazów oraz przy użyciu stolika zmotoryzowanego w osiach X, Y, Z. Uzyskiwany jest w pełni wyostrzony obraz o wysokiej rozdzielczości, który można wykorzystać do dalszej analizy w celu obserwacji cech w dużym powiększeniu lub względem dużej powierzchni próbki.

Mikro

Korzystając z tego samego systemu mikroskopowego przy wyższym powiększeniu, można przejść do dowolnego punktu na próbce, po prostu klikając na obraz makro, co eliminuje konieczność ponownego wyszukiwania wad w przypadku przechodzenia z jednego systemu do drugiego lub konieczności polegania na skomplikowanych metodach współrzędnych. Niezależnie od tego, czy operator chce przeprowadzić kontrolę chropowatości powierzchni, wad o rozmiarach mikronowych, cech strukturalnych, czy też kontrolę innego rodzaju, nasze mikroskopy cyfrowe oferują szereg konwencjonalnych technik optycznych i zaawansowane możliwości przetwarzania obrazu, takie jak HDR (High Dynamic Range), umożliwiające poprawę powierzchni i kontrastu obrazu.

Kontrola polerowanych próbek, która często stanowi wyzwanie w przypadku pracy z mikroskopami konwencjonalnymi, nie sprawia żadnych trudności przy użyciu mikroskopów cyfrowych. Wypolerowane próbki często nie są obserwowane przy użyciu mikroskopów prostych, ponieważ próbki takie zazwyczaj nie są idealnie płaskie i poziome, co utrudnia ich wypoziomowanie w taki sposób, aby powierzchnia próbki znajdowała się pod odpowiednim kątem do elementów optycznych mikroskopu. Z tego względu preferowane jest użycie mikroskopów odwróconych, w których próbka naturalnie leży pod kątem prostym do osi mikroskopu. Jednak w przypadku zastosowania technologii cyfrowej i elementów zmotoryzowanych możliwe jest skompensowanie ograniczeń mikroskopów prostych, co stwarza nowe możliwości analizy.

Zaawansowana analiza

Integracja mikroskopów cyfrowych z zaawansowanym oprogramowaniem do analizy obrazu umożliwia dostosowanie urządzenia do indywidualnych potrzeb operatora. Dzięki dostępnym w naszych mikroskopach cyfrowych serii DSX standardowym procedurom operacyjnym i funkcjom prowadzącym użytkownika przez proces obserwacji, praca jest łatwiejsza niż kiedykolwiek. Obecnie nawet użytkownicy po krótkim przeszkoleniu mogą wykonywać wiele rodzajów analiz, od analizy ziaren do zaawansowanej klasyfikacji cząstek.

Poniżej przedstawiono przykład prowadzenia szczegółowej obserwacji całej próbki przy użyciu jednego mikroskopu cyfrowego.

Obraz makro plakietki samochodowej. Okrągłe elementy to wypukłości.
Obraz makro plakietki z aluminium. Okrągłe elementy to wypukłości.
Jedna z wypukłości przy większym powiększeniu.
Jedna z wypukłości przy większym powiększeniu.

Obraz powierzchni wypukłości przy powiększeniu 5000x.
Obraz powierzchni wypukłości przy powiększeniu 5000x.
Mapa 3D jednej z wypukłości.
Mapa 3D jednej z wypukłości.

Powiązane treści

Zastosowanie mikroskopu cyfrowego: analiza krawędzi pociętych układów półprzewodnikowych

Zastosowanie mikroskopu cyfrowego: analiza pęknięć powierzchni

Zastosowanie mikroskopu cyfrowego: kontrola wyszczerbionych przekładni

Product Applications Manager, Olympus Corporation of the Americas, Scientific Solutions Group

A member of the Olympus team since 2016, Hamish provides product and application support for Olympus industrial microscope systems throughout the Americas. He is an expert in inspection applications, image analysis, measurement, and reporting, as well as custom optical solutions, with an emphasis on technical cleanliness and semiconductor equipment.

październik 2, 2018
Sorry, this page is not available in your country
InSight Blog Sign-up
Sorry, this page is not available in your country
Let us know what you're looking for by filling out the form below.
Sorry, this page is not available in your country