Przed oficjalną premierą defektoskopu typu Phased Array OmniScan™ X3 Olympus wypożyczył przyrząd specjalistycznemu wydziałowi Institut de Soudure (francuskiej organizacji zajmującej się badaniem spoin), by dać inspektorom możliwość wypróbowania go w trakcie prac. Specjalistyczny wydział Institut de Soudure nadzoruje rozwój najnowszych, innowacyjnych metod badań nieniszczących (NDT).
Ekspert z zakresu badań ultradźwiękowych ocenia defektoskop OmniScan X3
Po wykonaniu kilku testów laboratoryjnych z wykorzystaniem przyrządu OmniScan X3 Manuel Tessier, inżynier zajmujący się badaniami nieniszczącymi i ekspert w dziedzinie badań ultradźwiękowych oraz techniki time-of-flight diffraction (UT/TOFD), podzielił się swoimi spostrzeżeniami na temat nowych funkcji, o które wzbogacony został defektoskop, by usprawnić pracę inspektorów. Podkreślił zalety wykorzystania wielogrupowej metody Total Focusing Method (TFM), ulepszonej funkcji umożliwiającej korzystanie z sond Dual Linear Array i Dual Matrix Array oraz innowacyjnego narzędzia modelowania Acoustic Influence Map (AIM).
Poniższy tekst jest fragmentem artykułu opublikowanego w numerze 69 magazynu Contrôles Essais Mesures (CEM) (tłumaczenie z języka francuskiego).
Manuel Tessier, inżynier zajmujący się badaniami nieniszczącymi i ekspert w dziedzinie badań ultradźwiękowych oraz techniki TOFD z Institut de Soudure we Francji, przetestował możliwości obrazowania metodą TFM z wykorzystaniem defektoskopu OmniScan X3
 | „Przeprowadziliśmy badania metodą TFM na różnych wzorcach odniesienia. Wyniki są rozstrzygające”.Manuel Tessier, inżynier zajmujący się badaniami nieniszczącymi i ekspert w dziedzinie badań ultradźwiękowych oraz techniki TOFD z Institut de Soudure, miał możliwość przetestowania nowych funkcji przyrządu OmniScan X3 w trakcie badań laboratoryjnych jeszcze przed jego oficjalną premierą. Podzielił się swoimi spostrzeżeniami z magazynem CEM. |
CEM: Pański wydział w Institut de Soudure na co dzień pracuje na przyrządach OmniScan. Do czego są one wykorzystywane?
M. Tessier: Przyrządy OmniScan stanowią nasze standardowe wyposażenie. Cenimy je za niewielkie rozmiary, wytrzymałość i wiarygodność pomiarów. Nasz personel jest przeszkolony w użytkowaniu tych urządzeń oraz towarzyszącego im oprogramowania. Obecnie mamy około 20 defektoskopów tego typu. Mój wydział zajmuje się różnego rodzaju zadaniami, od badania spoin, mapowania, pomiarów grubości i charakteryzacji defektów po wykrywanie różnego rodzaju uszkodzeń. Korzystamy z tego sprzętu codziennie, czy to do badań konwencjonalnych (z użyciem jednej sondy), czy na wpół lub w pełni zautomatyzowanych, służących do inspekcji spoin przy użyciu techniki TOFD w połączeniu metodą Phased Array.
„Dzięki zaawansowanym sondom OmniScan X3 oferuje szerokie możliwości zastosowania w wysoce specjalistycznych badaniach”.
CEM: Jak wygląda wykorzystanie poszczególnych sond?
M. Tessier: Używamy tego przyrządu również z sondami Dual Linear Array (DLA) i Dual Matrix Array (DMA). Jedną z zalet defektoskopu OmniScan X3 jest łatwość, z jaką można zaprogramować ten typ czujników. Proces ten był mniej wygodny w przypadku defektoskopu OmniScan MX2 — nawet jeśli urządzenie umożliwiało operowanie tymi sondami, nie ułatwiało ich programowania. Dzięki zaawansowanym sondom OmniScan X3 oferuje szerokie możliwości zastosowania w wysoce specjalistycznych badaniach. Ustawienia parametrów ogniskowania mają tu znaczący wpływ. Oznacza to, że odpowiednie ustawienie parametrów pozwala zwiększyć dokładność inspekcji. Fakt, że sondy te zostały zintegrowane z urządzeniem, umożliwia ustawienie parametrów ogniskowania bezpośrednio w defektoskopie, co w przypadku modelu MX2 było możliwe w bardzo ograniczonym stopniu. Według mnie jest to ogromna zaleta.
CEM: Co Pan myśli o trybach TFM, które są od teraz dostępne w defektoskopie OmniScan X3?
M. Tessier: Są niezwykle przydatne. Do tej pory korzystaliśmy z innych defektoskopów wyposażonych w tę funkcję, głównie do precyzyjnej analizy, ponieważ nie byliśmy w stanie uzyskać potrzebnych danych, używając urządzenia OmniScan MX2. Pracując na defektoskopie OmniScan X3, nie potrzebujemy już innych urządzeń — nawet do wykrywania uszkodzeń spowodowanych przez wysokotemperaturowy atak wodorowy (HTHA). Dzięki temu ograniczyliśmy ilość sprzętu w laboratorium. Przeprowadziliśmy badania metodą TFM na różnych wzorcach odniesienia. Wyniki są rozstrzygające. Wielogrupowa metoda TFM oferuje możliwość inspekcji do czterech grup jednocześnie. Z chęcią przeprowadziłbym więcej testów z jej wykorzystaniem. Kolejną atrakcyjną funkcją, niedostępną na innych urządzeniach, jest Acoustic Influence Map (AIM) do opracowywania mapy wpływu akustycznego. Symuluje ona przebieg wiązki i pozwala na sprawdzenie możliwych interakcji w zdefiniowanej strefie, co jest przydatne nie tylko w badaniach, ale i do celów edukacyjnych.
Powiązane treści
A jak Ty wykorzystujesz nasze urządzenia? Podziel się swoją historią!
Opracowanie: TFM Acoustic Influence Map
Warto nawiązać kontakt
