Przegląd

Zaawansowana mikroskopia, łatwa obsługa Dzięki projektowi, w którym uwzględniono modułową konstrukcję, seria BX3M zapewnia elastyczność pracy w zastosowaniach materiałoznawczych i przemysłowych. Lepsza integracja mikroskopu BX53M z oprogramowaniem OLYMPUS Stream gwarantuje sprawny przepływ pracy podczas standardowych zadań mikroskopii oraz obrazowania cyfrowego — od obserwacji po tworzenie raportów. Poznaj mikroskop BX53M

Zaawansowana mikroskopia, łatwa obsługa

Dzięki projektowi, w którym uwzględniono modułową konstrukcję, seria BX3M zapewnia elastyczność pracy w zastosowaniach materiałoznawczych i przemysłowych. Lepsza integracja mikroskopu BX53M z oprogramowaniem OLYMPUS Stream gwarantuje sprawny przepływ pracy podczas standardowych zadań mikroskopii oraz obrazowania cyfrowego — od obserwacji po tworzenie raportów.

Poznaj mikroskop BX53M

	Wybierz najlepszy model Sześć sugerowanych konfiguracji mikroskopu BX53M zapewnia swobodę podczas wyboru żądanych funkcji. Przeznaczenie ogólne: model podstawowy, standardowy, zaawansowany Przeznaczenie do specjalnych zastosowań: model obsługuje fluorescencję, podczerwień, polaryzację Różne konfiguracje spełniające oczekiwania użytkowników Dzięki modułowej konstrukcji stworzysz dokładnie taki system, jakiego potrzebujesz Zobacz więcej

Wybierz najlepszy model

Sześć sugerowanych konfiguracji mikroskopu BX53M zapewnia swobodę podczas wyboru żądanych funkcji.

Przeznaczenie ogólne: model podstawowy, standardowy, zaawansowany
Przeznaczenie do specjalnych zastosowań: model obsługuje fluorescencję, podczerwień, polaryzację
Różne konfiguracje spełniające oczekiwania użytkowników
Dzięki modułowej konstrukcji stworzysz dokładnie taki system, jakiego potrzebujesz

Zobacz więcej

Wygoda i łatwość użytkowania Mikroskop BX53M upraszcza złożone zadania mikroskopowe dzięki dobrze zaprojektowanym i łatwym w obsłudze elementom sterującym. Użytkownicy mogą w pełni wykorzystać funkcje mikroskopu bez konieczności odbywania szczegółowego szkolenia. Łatwa i wygodna obsługa mikroskopu BX53M zwiększa również powtarzalność wyników, minimalizując prawdopodobieństwo popełnienia błędu przez człowieka. Prosty oświetlacz Intuicyjne sterowanie mikroskopem Szybka regulacja ostrości Jednolite oświetlenie Łatwa i ergonomiczna obsługa Proste przywracanie ustawień mikroskopu Podstawowe funkcje pomiarowe Zobacz więcej

Wygoda i łatwość użytkowania

Mikroskop BX53M upraszcza złożone zadania mikroskopowe dzięki dobrze zaprojektowanym i łatwym w obsłudze elementom sterującym. Użytkownicy mogą w pełni wykorzystać funkcje mikroskopu bez konieczności odbywania szczegółowego szkolenia. Łatwa i wygodna obsługa mikroskopu BX53M zwiększa również powtarzalność wyników, minimalizując prawdopodobieństwo popełnienia błędu przez człowieka.

Prosty oświetlacz
Intuicyjne sterowanie mikroskopem
Szybka regulacja ostrości
Jednolite oświetlenie
Łatwa i ergonomiczna obsługa
Proste przywracanie ustawień mikroskopu
Podstawowe funkcje pomiarowe

Zobacz więcej

	Funkcjonalność Mikroskop BX53M obsługuje tradycyjne metody kontrastowania mikroskopii konwencjonalnej, takie jak obserwacja w jasnym polu, w ciemnym polu, w świetle spolaryzowanym oraz z kontrastem różnicowo-interferencyjnym. Wiele trudności związanych z wykrywaniem defektów przy użyciu standardowych metod kontrastu pojawiających się w miarę opracowywania nowych materiałów można rozwiązać za pomocą zaawansowanych technik mikroskopowych, które umożliwiają prowadzenie dokładniejszych i wiarygodnych kontroli. Dzięki nowym technikom oświetlenia oraz opcjom akwizycji obrazów dostępnym w oprogramowaniu do analizy obrazów OLYMPUS Stream użytkownicy mogą analizować próbki i dokumentować wyniki na więcej sposobów. Zobaczyć niewidoczne Ostrość na całej powierzchni obrazu Łatwe przesuwanie stolika w celu uzyskania obrazów panoramicznych Wizualizacja zarówno jasnych, jak i ciemnych obszarów Możliwość adaptacji odpowiednio do preferencji dotyczących obserwacji i analizy Możliwość pracy z różnorodnymi próbkami Zobacz więcej

Funkcjonalność

Mikroskop BX53M obsługuje tradycyjne metody kontrastowania mikroskopii konwencjonalnej, takie jak obserwacja w jasnym polu, w ciemnym polu, w świetle spolaryzowanym oraz z kontrastem różnicowo-interferencyjnym. Wiele trudności związanych z wykrywaniem defektów przy użyciu standardowych metod kontrastu pojawiających się w miarę opracowywania nowych materiałów można rozwiązać za pomocą zaawansowanych technik mikroskopowych, które umożliwiają prowadzenie dokładniejszych i wiarygodnych kontroli. Dzięki nowym technikom oświetlenia oraz opcjom akwizycji obrazów dostępnym w oprogramowaniu do analizy obrazów OLYMPUS Stream użytkownicy mogą analizować próbki i dokumentować wyniki na więcej sposobów.

Zobaczyć niewidoczne
Ostrość na całej powierzchni obrazu
Łatwe przesuwanie stolika w celu uzyskania obrazów panoramicznych
Wizualizacja zarówno jasnych, jak i ciemnych obszarów
Możliwość adaptacji odpowiednio do preferencji dotyczących obserwacji i analizy
Możliwość pracy z różnorodnymi próbkami

Zobacz więcej

Najnowocześniejsze układy optyczne

Doświadczenie firmy Olympus w opracowywaniu układów optycznych o wysokiej jakości pozwala na konstruowanie znakomitych mikroskopów cechujących się wysoką dokładnością pomiaru.

Doskonałe parametry optyczne
Stałość temperatury barw i białe oświetlenie LED o wysokim natężeniu
Precyzyjne pomiary
Łączenie bezspoinowe

Zobacz więcej

_{Minimalne aberracje czoła fali}

Nieprawidłowe czoło fali (minimalizacja aberracji czoła fali)

Prawidłowe czoło fali (minimalizacja aberracji czoła fali)

Konfiguracje

Skomponowanie wysoce niezawodnego systemu o modułowej konstrukcji
nigdy nie było tak łatwe

Sześć sugerowanych konfiguracji mikroskopu BX53M zapewnia swobodę podczas wyboru żądanych funkcji.

Przeznaczenie ogólne			Przeznaczenie do specjalnych zastosowań

Podstawowy Łatwa konfiguracja i podstawowe funkcje	Standardowy Łatwość użytkowania z różnorodnymi rozszerzonymi funkcjami	Zaawansowany Wyposażony w wiele zaawansowanych funkcji	Fluorescencja Idealnie nadaje się do obserwacji w świetle fluorescencyjnym	Podczerwień Przeznaczony do prowadzenia obserwacji w podczerwieni w celu kontroli układów scalonych	Polaryzacja Przeznaczony do prowadzenia obserwacji obiektów dwójłomnych
_{Filtr kolorów LCD} ^{(światło przechodzące/BF)}	_{Mikrostruktura z ziarnami} ^ferrytowymi ^{(światło odbite/DF)}	_{Zwój drutu miedzianego} ^{(BF + DF/MIX)}	_{Opór na matrycy układu scalonego} ^{(FL + DF/MIX)}	_{Warstwa krzemowa matrycy układu scalonego} ^(IR)	_Azbest ^(POL)

Zobacz tabelę danych technicznych

	Podstawowy	Standardowy	Zaawansowany	Fluorescencja	Podczerwień	Polaryzacja
Rama mikroskopu	Światło odbite lub światło odbite/światło przechodzące		Światło odbite lub światło odbite/światło przechodzące		Światło odbite	Światło przechodzące
Standardowy
Opcja					－	－
Prosty oświetlacz	－			－	－	－
Legenda apertury	－				－
Kodowany sprzęt	－				－
Indeks skali ostrości
Moduł zarządzania natężeniem światła				－	－
Obsługa za pomocą przełącznika ręcznego					－	－
Obserwacja MIX					－	－
Obiektywy	Do wyboru 3 obiektywy odpowiednio do zastosowania		Do wyboru 3 obiektywy odpowiednio do zastosowania		Obiektywy do obserwacji w podczerwieni	Obiektywy do obserwacji w świetle spolaryzowanym
Stolik	Do wyboru 5 stolików odpowiednio do rozmiaru próbek		Do wyboru 5 stolików odpowiednio do rozmiaru próbek			Stolik do obserwacji w świetle spolaryzowanym

METODA OBSERWACJI

R-BF: jasne pole (światło odbite)
T-BF: jasne pole (światło odbite/światło przechodzące)
DF: ciemne pole
DIC: kontrast różnicowo-interferencyjny/polaryzacja prosta
MIX: MIX
FL: fluorescencja
IR: podczerwień
POL: polaryzacja

_{*Metody T-BF można używać po wybraniu ramy mikroskopu do obserwacji w świetle odbitym/świetle przechodzącym.}

: Standard
: Opcja

Przykładowe konfiguracje dla materiałoznawstwa

Modułowa konstrukcja umożliwia wybór konfiguracji dostosowanej do konkretnych wymagań użytkownika.
Poniżej przedstawiono przykładowe konfiguracje dla materiałoznawstwa.

Konfiguracja mikroskopu BX53M — obserwacja w świetle odbitym i w świetle odbitym/świetle przechodzącym W serii BX3M dostępne są dwa typy ram mikroskopu — jedna przeznaczona wyłącznie do obserwacji w świetle odbitym, a druga do obserwacji w świetle odbitym i przechodzącym. Obie ramy można skonfigurować w taki sposób, aby zawierały podzespoły ręczne, kodowane lub zmotoryzowane. Ramy są wyposażone w możliwość blokowania wyładowań elektrostatycznych, aby chronić próbki elektroniczne.	_{BX53MRF-S — przykładowa konfiguracja}	_{BX53MTRF-S — przykładowa konfiguracja}

Konfiguracja mikroskopu BX53M — obserwacja w świetle odbitym i w świetle odbitym/świetle przechodzącym

W serii BX3M dostępne są dwa typy ram mikroskopu — jedna przeznaczona wyłącznie do obserwacji w świetle odbitym, a druga do obserwacji w świetle odbitym i przechodzącym. Obie ramy można skonfigurować w taki sposób, aby zawierały podzespoły ręczne, kodowane lub zmotoryzowane. Ramy są wyposażone w możliwość blokowania wyładowań elektrostatycznych, aby chronić próbki elektroniczne.

BX53MRF-S — przykładowa konfiguracja

_{BX53MRF-S — przykładowa konfiguracja}

BX53MTRF-S — przykładowa konfiguracja

_{BX53MTRF-S — przykładowa konfiguracja}

	Konfiguracja mikroskopu BX53M — obserwacja w podczerwieni Obiektywy IR mogą być używane do zastosowań takich jak kontrola, wykonywanie pomiarów i obróbka półprzewodników, podczas których wymagane jest prowadzenie obrazowania przez warstwy krzemowe w celu obserwacji matrycy. Obiektywy do obserwacji w podczerwieni (IR) dostępne są w wariantach o powiększeniu od 5X do 100X, z korekcją aberracji chromatycznej od długości światła widzialnego do bliskiej podczerwieni. Podczas pracy przy dużych powiększeniach aberracje wywołane grubością próbki koryguje się, obracając kołnierz korekcyjny obiektywów z serii LCPLNIR. Wyraźny obraz można uzyskać za pomocą jednego obiektywu. Kliknij tutaj, aby uzyskać szczegółowe informacje na temat soczewek obiektywów do obserwacji w podczerwieni

Konfiguracja mikroskopu BX53M — obserwacja w podczerwieni

Obiektywy IR mogą być używane do zastosowań takich jak kontrola, wykonywanie pomiarów i obróbka półprzewodników, podczas których wymagane jest prowadzenie obrazowania przez warstwy krzemowe w celu obserwacji matrycy. Obiektywy do obserwacji w podczerwieni (IR) dostępne są w wariantach o powiększeniu od 5X do 100X, z korekcją aberracji chromatycznej od długości światła widzialnego do bliskiej podczerwieni. Podczas pracy przy dużych powiększeniach aberracje wywołane grubością próbki koryguje się, obracając kołnierz korekcyjny obiektywów z serii LCPLNIR. Wyraźny obraz można uzyskać za pomocą jednego obiektywu.

Kliknij tutaj, aby uzyskać szczegółowe informacje na temat soczewek obiektywów do obserwacji w podczerwieni

Konfiguracja mikroskopu BX53M — obserwacja w świetle spolaryzowanym Układ optyczny dostępny w konfiguracji mikroskopu BX53M przeznaczonej do obserwacji w świetle spolaryzowanym udostępnia geologom narzędzia odpowiednie do prowadzenia wysokokontrastowego obrazowania w świetle spolaryzowanym. Stabilność systemu i precyzyjne wyrównywanie elementów układu optycznego są wysoce korzystne w przypadku zastosowań takich jak identyfikacja minerałów, badanie właściwości optycznych kryształów i obserwacja części skał litych.	_{BX53-P — konfiguracja ortoskopowa}	_{BX53-P — konfiguracja konoskopowa/ortoskopowa}

Konfiguracja mikroskopu BX53M — obserwacja w świetle spolaryzowanym

Układ optyczny dostępny w konfiguracji mikroskopu BX53M przeznaczonej do obserwacji w świetle spolaryzowanym udostępnia geologom narzędzia odpowiednie do prowadzenia wysokokontrastowego obrazowania w świetle spolaryzowanym. Stabilność systemu i precyzyjne wyrównywanie elementów układu optycznego są wysoce korzystne w przypadku zastosowań takich jak identyfikacja minerałów, badanie właściwości optycznych kryształów i obserwacja części skał litych.

BX53-P — konfiguracja ortoskopowa

_{BX53-P — konfiguracja ortoskopowa}

BX53-P — konfiguracja konoskopowa/ortoskopowa

_{BX53-P — konfiguracja konoskopowa/ortoskopowa}

Soczewka Bertranda do obserwacji konoskopowych i ortoskopowych Przystawka do obserwacji konoskopowych U-CPA ułatwia i przyspiesza przełączanie widoku między obserwacją ortoskopową a obserwacją konoskopową. Regulacja ogniskowej zapewnia uzyskiwanie wyraźnych wzorów interferencji tylnej płaszczyzny ogniskowania. Przysłona polowa Bertranda umożliwia generowanie jednolicie ostrych i wyraźnych obrazów konoskopowych.

Soczewka Bertranda do obserwacji konoskopowych i ortoskopowych

Przystawka do obserwacji konoskopowych U-CPA ułatwia i przyspiesza przełączanie widoku między obserwacją ortoskopową a obserwacją konoskopową. Regulacja ogniskowej zapewnia uzyskiwanie wyraźnych wzorów interferencji tylnej płaszczyzny ogniskowania. Przysłona polowa Bertranda umożliwia generowanie jednolicie ostrych i wyraźnych obrazów konoskopowych.

	Szeroka gama kompensatorów i płytek falowych Dostępnych jest sześć różnych kompensatorów przeznaczonych do pomiarów dwójłomności w cienkich warstwach skał i minerałów. Zakres poziomu opóźnienia pomiaru wynosi od 0 do 20 λ. Aby ułatwić wykonywanie pomiarów i zwiększyć kontrast obrazu, można używać kompensatorów Bereka i Senarmonta, które zmieniają poziom opóźnienia w całym polu widzenia.

Szeroka gama kompensatorów i płytek falowych

Dostępnych jest sześć różnych kompensatorów przeznaczonych do pomiarów dwójłomności w cienkich warstwach skał i minerałów. Zakres poziomu opóźnienia pomiaru wynosi od 0 do 20 λ. Aby ułatwić wykonywanie pomiarów i zwiększyć kontrast obrazu, można używać kompensatorów Bereka i Senarmonta, które zmieniają poziom opóźnienia w całym polu widzenia.

Zakres pomiarowy kompensatorów

Kompensator	Zakres pomiarowy	Główne zastosowanie
Gruby Bereka (U-CTB)	od 0 do 11 000 nm (20 λ)	Pomiar wysokiego poziomu opóźnienia (R^*>3 λ) (kryształy, makrocząsteczki, włókna itd.)
Bereka (U-CBE)	od 0 do 1640 nm (3 λ)	Pomiar poziomu opóźnienia (kryształy, makrocząsteczki, żywe organizmy itd.)
Kompensator Senarmonta (U-CSE)	od 0 do 546 nm (1 λ)	Pomiar poziomu opóźnienia (kryształy, żywe organizmy itd.) Wzmocnienie kontrastu obrazu (żywe organizmy itd.)
Kompensator Brace'a-Koehlera 1/10 λ (U-CBR1)	od 0 do 55 nm (1/10 λ)	Pomiar niskiego poziomu opóźnienia (żywe organizmy itd.) Wzmocnienie kontrastu obrazu (żywe organizmy itd.)
Kompensator Brace'a-Koehlera 1/30 λ (U-CBE2)	od 0 do 20 nm (1/30 λ)	Pomiar kontrastu obrazu (żywe organizmy itd.)
Klin kwarcowy (U-CWE2)	od 500 do 2200 nm (4 λ)	Szacunkowy pomiar poziomu opóźnienia (kryształy, makrocząsteczki itd.)

_{*R = poziom opóźnienia

W celu uzyskania dokładniejszych pomiarów zalecane jest korzystanie z kompensatorów (z wyjątkiem U-CWE2) w połączeniu z filtrem interferencyjnym 45-IF546.}

Układ optyczny wolny od naprężeń

Dzięki zaawansowanej konstrukcji i technologii produkcyjnej firmy Olympus stosowanej w obiektywach UPLFLN-P maksymalnie zmniejszono naprężenia wewnętrzne. Oznacza to wyższą wartość EF, co przekłada się na doskonały kontrast obrazu.

Kliknij tutaj, aby uzyskać szczegółowe informacje na temat soczewek obiektywów UPLFLN-P

Kliknij tutaj, aby uzyskać szczegółowe informacje na temat soczewek obiektywów PLN-P / ACHN-P

	System BXFM System BXFM można zaadaptować do specjalnych zastosowań lub zintegrować z innymi przyrządami. Dzięki modułowej konstrukcji systemu można go łatwo zaadaptować do unikalnych środowisk i wybrać konfigurację z różnorodnymi małymi oświetlaczami i mocowaniami odpowiednimi do specjalnych zastosowań.

System BXFM

System BXFM można zaadaptować do specjalnych zastosowań lub zintegrować z innymi przyrządami. Dzięki modułowej konstrukcji systemu można go łatwo zaadaptować do unikalnych środowisk i wybrać konfigurację z różnorodnymi małymi oświetlaczami i mocowaniami odpowiednimi do specjalnych zastosowań.

Dzięki modułowej konstrukcji stworzysz dokładnie taki system, jakiego potrzebujesz

Ramy mikroskopu

Oferowane są dwie ramy mikroskopu przeznaczone do obserwacji w świetle odbitym; jedna z nich jest również przystosowana do obserwacji w świetle przechodzącym. Dostępny jest adapter, który umożliwia uniesienie oświetlacza w celu obserwacji wyższych próbek.

		Światło odbite	Światło przechodzące	Wysokość próbki
1	BX53MRF-S	■	－	od 0 do 65 mm
2	BX53MTRF-S	■	■	od 0 do 35 mm
1, 3	BX53MRF-S + BX3M-ARMAD	■	－	od 40 do 105 mm
2, 3	BX53MTRF-S + BX3M-ARMAD	■	■	od 40 do 75 mm

Akcesoria ułatwiające pracę z mikroskopem

－	HP-2	Ręczny docisk
－	COVER-018	Osłona przeciwpyłowa

Ramy mikroskopu

Stojaki

W przypadku zastosowań w mikroskopii, podczas których próbka nie mieści się na stoliku, oświetlacz i elementy optyczne można przymocować do większego stojaka lub innego elementu wyposażenia.

Konfiguracja z oświetlaczem BXFM + BX53M

1	BXFM-F	Do ramy przyłączony jest słupek o rozmiarze 32 mm mocowany do ściany
2	BX3M-ILH	Uchwyt na oświetlacz
3	BXFM-ILHSPU	Sprężyna dla BXFM
6	SZ-STL	Duży stojak

Konfiguracja z oświetlaczem BXFM + U-KMAS

1	BXFM-F	Do ramy przyłączony jest słupek o rozmiarze 32 mm mocowany do ściany
4	BXFM-ILHS	Uchwyt na U-KMAS
5	U-ST	Stojak
6	SZ-STL	Duży stojak

Stojaki

Nasadki obserwacyjne

W przypadku obrazowania mikroskopowego przy użyciu okularów lub w przypadku obserwacji przez kamerę należy dobrać nasadki obserwacyjne odpowiednio do typu obrazowania oraz postawy operatora podczas obserwacji.

		FN	Typ	Typ regulacji kąta	Obraz	Liczba mechanizmów regulacji dioptrii
1	U-TR30-2	22	Trinokular	Ust. w stałej pozycji	Odwrócony	1
2	U-TR30IR	22	Trinokular do podczerwieni	Ust. w stałej pozycji	Odwrócony	1
3	U-ETR-4	22	Trinokular	Ust. w stałej pozycji	Prosty	－
4	U-TTR-2	22	Trinokular	Przechylanie	Odwrócony	－
5	U-SWTR-3	26,5	Trinokular	Ust. w stałej pozycji	Odwrócony	－
6	U-SWETTR-5	26,5	Trinokular	Przechylanie	Prosty	－
7	U-TLU	22	Jeden port	－	－	－

Oświetlacze

Oświetlacz emituje światło na próbkę w sposób odpowiedni do wybranej metody obserwacji. Oprogramowanie łączy się z kodowanymi oświetlaczami w celu odczytu pozycji kostki filtrowej i automatycznego rozpoznania metody obserwacji.

		Funkcja kodowana	Źródło światła	BF	DF	DIC	POL	IR	FL	MIX	AS/FS
1	BX3M-RLAS-S	Pozycja – 3 kostki, montaż na stałe	LED — wbudowane	■	■	■	■	－	－	■	■
2	BX3M-URAS-S	Pozycja — 4 kostki, mocowane	LED	■	■	■	■	－	－	■	■
			Halogen	■	■	■	■	■	－	■	■
			Lampa rtęciowa/światłowód	■	■	■	■	－	■	■	■
3	BX3M-RLA-S		LED	■	■	■	■	－	－	■	■
3	BX3M-RLA-S		Halogen	■	■	■	■	■	－	■	■
4	BX3M-KMA-S		LED — wbudowane	■	－	■	■	－	－	■	－
5	BX3-ARM	Ramię mechaniczne do obserwacji w świetle przechodzącym
6	U-KMAS		LED	■	－	■	■	－	－	■	－
6	U-KMAS		Halogen	■	－	■	■	■	－	■	－

Źródła światła

Źródła światła i urządzenia zasilające do oświetlania próbki. Należy dobrać odpowiednie źródło światła do metody obserwacji.

Konfiguracja ze standardowym źródłem światła LED

1	BX3M-LEDR	Oprawa źródła LED dla światła odbitego
2	U-RCV	Konwerter DF dla BX3M-URAS-S, w określonych przypadkach wymagany do przeprowadzenia obserwacji DF i BF
3	BX3M-PSLED	Zasilacz do oprawy źródła LED, wymaga systemu BXFM
4	BX3M-LEDT	Oprawa źródła LED dla światła przechodzącego

Konfiguracja ze źródłem światła fluorescencyjnego

5	U-LLGAD	Adapter światłowodu
2	U-RCV	Konwerter DF dla BX3M-URAS-S, w określonych przypadkach wymagany do przeprowadzenia obserwacji DF
6	U-LLG150	Światłowód, długość: 1,5 m
7	U-LGPS	Źródło światła fluorescencyjnego
8, 9	U-LH100HG (HGAPO)	Oprawa lampy rtęciowej dla światła fluorescencyjnego
2	U-RCV	Konwerter DF dla BX3M-URAS-S, w określonych przypadkach wymagany do przeprowadzenia obserwacji DF
10	U-RFL-T	Zasilacz do lampy rtęciowej 100 W

Konfiguracja ze źródłem halogenowym i źródłem halogenowym światła podczerwonego

11	U-LH100IR	Oprawa lampy halogenowej dla podczerwieni
12	U-RMT	Przedłużacz do oprawy lampy halogenowej, długość przewodu 1,7 m{(w określonych przypadkach wymaga dodatkowego przedłużacza)
13, 14	TH4-100 (200)	Zasilacz o napięciu znamionowym 100 V (200 V) do lampy halogenowej 100 W/50 W
15	TH4-HS	Przełącznik ręczny do zmiany natężenia oświetlenia halogenowego (ściemniacz TH4-100 (200) bez przełącznika ręcznego)

Końcówki obiektywów

Przystawka do obiektywów i suwaków. Dobierana z uwzględnieniem potrzebnej liczby obiektywów i ich typów oraz tego, czy wymagana jest przystawka z suwakiem.

		Typ	Otwory	BF	DF	DIC	MIX	ESD	Liczba otworów centrujących
1	U-P4RE	Ręczny	4	■		■			4
2	U-5RE-2	Ręczny	5	■
3	U-5RES-ESD	Kodowany	5	■				■
4	U-D6RE	Ręczny	6	■		■
5	U-D6RES	Kodowany	6	■		■
6	U-D5BDREMC	Zmotoryzowany	5	■	■	■	■
7	U-D6BDRE	Ręczny	6	■	■	■	■
8	U-D5BDRES-ESD	Kodowany	5	■	■	■	■	■
9	U-D6BDRES-S	Kodowany	6	■	■	■	■	■
10	U-D6REMC	Zmotoryzowany	6	■		■
11	U-D6BDREMC	Zmotoryzowany	6	■	■	■	■	■

Suwaki

Można wybrać suwak pozwalający na uzupełnienie tradycyjnej obserwacji w jasnym polu o dodatkowe techniki. Suwak DIC umożliwia uzyskanie informacji o topografii próbki; dostępne są opcje maksymalizacji kontrastu albo rozdzielczości. Suwak MIX zapewnia swobodę regulacji oświetlenia przy użyciu segmentowego źródła LED w drodze pola ciemnego.

Suwak DIC

		Typ	Opór	Dostępne obiektywy
1	U-DICR	Standardowy	Średni	MPLFLN, MPLAPON, LMPLFLN i LCPLFLN-LCD

Suwak MIX

		Dostępne obiektywy
2	U-MIXR	MPLFLN-BD, LMPLFLN-BD, MPLN-BD

Przewód

U-MIXRCBL*

Przewód U-MIXR, długość przewodu: 0,5 m

_{*Wyłącznie MIXR}

Moduły sterowania i przełączniki ręczne

Moduły sterowania przeznaczone do łączenia elementów sprzętowych mikroskopu z komputerem oraz przełączniki ręczne umożliwiające sterowanie mechanizmami i wyświetlanie związanych z nimi informacji.

Konfiguracja BX3M-CB (CBFM)

1	BX3M-CB	Moduł sterowania dla systemu BX53M
2	BX3M-CBFM	Moduł sterowania dla systemu BXFM
3	BX3M-HS	Sterowanie obserwacją MIX, wskaźnik mechanizmu kodowanego, programowalny przycisk funkcyjny oprogramowania (Stream)
4	BX3M-HSRE	Zmotoryzowana rotacja końcówki obiektywu

Przewód

－

BX3M-RMCBL (ECBL)

Przewód do zmotoryzowanej końcówki obiektywu, długość przewodu: 0,2 m

Moduły sterowania i przełączniki ręczne

Stoliki

Stoliki i płytki na stolik do umieszczania próbki. Dobierane do kształtu i rozmiaru próbki.

Konfiguracja ze stolikiem 150 mm x 100 mm

1	U-SIC64	Stolik 150 mm × 100 mm z płaską górną częścią i rękojeścią
2	U-SHG (T)	Gumka na rękojeść wykonana z gumy silikonowej (grubego typu)
3	U-SP64	Płytka na stolik dla U-SIC64
4	U-WHP64	Płytka na wafel dla U-SIC64
5	BH2-WHR43	Uchwyt na wafel, rozmiar 4-3″
6	BH2-WHR54	Uchwyt na wafel, rozmiar 5-4″
7	BH2-WHR65	Uchwyt na wafel, rozmiar 6-5″
8	U-SPG64	Płytka szklana dla U-SIC64

Konfiguracja ze stolikiem 76 mm x 52 mm

13	U-SVRM	Stolik 76 mm × 52 mm z rękojeścią po prawej stronie
2	U-SHG (T)	Gumka na rękojeść wykonana z gumy silikonowej (grubego typu)
14	U-MSSP	Płytka na stolik dla U-SVR (/L) M
15, 16	U-HR (L) D-4	Uchwyt na cienkie szkiełka przeznaczony dla otworu po prawej (lewej) stronie
17, 18	U-HR (L) DT-4	Uchwyt na grube szkiełka przeznaczony dla otworu po prawej (lewej) stronie; do dociskania szkiełka do górnej powierzchni stolika; uniesienie próbki sprawia trudności

Konfiguracja ze stolikiem 100 mm x 100 mm

9	U-SIC4R2	Stolik 105 mm × 100 mm z rękojeścią po prawej stronie
10	U-MSSP4	Płytka na stolik dla U-SIC4R (L) 2
11	U-WHP2	Płytka na wafel dla U-SIC4R (L) 2
6	BH2-WHR43	Uchwyt na wafel, rozmiar 4-3″
12	U-MSSPG	Płytka szklana dla U-SIC4R

Inne

19	U-SRG2	Obrotowy stolik
20	U-SRP	Obrotowy stolik do obserwacji POL, możliwość blokady pod kątem 45° z dowolnej pozycji
21	U-FMP	Mechaniczny stolik dla U-SRP/U-SRG2

Adaptery do kamer

Adapter do obserwacji przez kamerę. Dobierany odpowiednio do żądanego pola widzenia i powiększenia. Rzeczywisty zakres obserwacji można obliczyć ze wzoru: rzeczywiste pole widzenia (przekątna w mm) = pole obserwacji (numer) ÷ powiększenie obiektywu.

		Powiększenie	Regulacja wycentrowania	Pole obrazu matrycy CCD (numer pola) mm
		Powiększenie	Regulacja wycentrowania	2/3 cala	1/1,8 cala	1/2 cala
1	U-TV1x-2 z U-CMAD3	1	－	10,7	8,8	8
2	U-TV1xC	1	ø2 mm	10,7	8,8	8
3	U-TV0.63xC	0,63	－	17	14	12,7
4	U-TV0.5xC-3	0,5	－	21,4	17,6	16
5	U-TV0.35xC-2	0,35	－	－	－	22
6	U-TV0.25xC	0,25	－	－	－	－

Okulary

Okular przeznaczony do patrzenia bezpośrednio przez mikroskop. Dobierany odpowiednio do żądanego pola widzenia.

		FN (mm)	Mechanizm regulacji dioptrii	Wbudowana siatka krzyżowa
1	WHN10x	22
2	WHN10x-H	22	■
3	CROSS WHN10x	22	■	■
4	SWH10x-H	26,5	■
5	CROSS SWH10x	26,5	■	■

Filtry optyczne

Filtry optyczne przekształcają światło ekspozycji próbki na różne typy oświetlenia. Filtr należy dobrać tak, aby uzyskać wymagane warunki obserwacji.

BF, DF, FL

1, 2	U-25ND25,6	Filtr o gęstości obojętnej, transmitancja 25%, 6%
3	U-25LBD	Filtr barwny do światła dziennego
4	U-25LBA	Filtr barwny do oświetlenia halogenowego
5	U-25IF550	Filtr zielony
6	U-25L42	Filtr wycinający promieniowanie ultrafioletowe
7	U-25Y48	Filtr żółty
8	U-25FR	Filtr frost (wymagany dla BX3M-URAS-S)

POL, DIC

9	U-AN-2	Stały kierunek polaryzacji
10	U-AN360-3	Możliwość obrotu kierunku polaryzacji
11	U-AN360P-2	Możliwość obrotu kierunku polaryzacji o wysokiej jakości
12	U-PO3	Stały kierunek polaryzacji
13	U-POTP3	Stały kierunek polaryzacji, do użytku z U-DICRH
14	45-IF546	Zielony filtr ø45 mm do obserwacji w świetle spolaryzowanym

IR

15	U-AN360IR	Możliwość obrotu kierunku polaryzacji IR (ograniczenie halacji przy obserwacji IR w przypadku stosowania w połączeniu z produktami U-AN360IR i U-POIR)
16	U-POIR	Stały kierunek polaryzacji IR
17	U-BP1100IR	Filtr pasmowoprzepustowy: 1100 nm
18	U-BP1200IR	Filtr pasmowoprzepustowy: 1200 nm

Światło przechodzące

19	43IF550-W45	Zielony filtr ø45 mm
20	U-POT	Filtr polaryzatora

Inne

22

U-25

Pusty filtr, do użytku z filtrami ø25 mm użytkownika

_{*W przypadku stosowania produktów BX3M-RLAS-S i U-FDICR filtry AN i PO nie są wymagane}

Kondensory

Kondensory zbierają i skupiają światło przechodzące. Są używane do obserwacji w świetle przechodzącym.

1	U-AC2	Kondensor Abbego (dostępny dla obiektywów o powiększeniu od 5x)
2	U-SC3	Kondensor wychylny (dostępny dla obiektywów o powiększeniu od 1,25x)
3	U-LWCD	Kondensor o dużej odległości roboczej dla płytki szklanej (U-MSSPG, U-SPG64)
4	U-POC-2	Kondensor wychylny do obserwacji w świetle spolaryzowanym

Zespoły zwierciadeł

Zespół zwierciadeł dla systemu BX3M-URAS-S. Należy dobrać zespół do specyfiki obserwacji.

1	U-FBF	Do BF, odłączany filtr ND
2	U-FDF	Do DF
3	U-FDICR	Do POL, stałe warunki przejścia przez nikol
4	U-FBFL	Do BF, wbudowany filtr ND (konieczne jest stosowanie zarówno BF*, jak i FL)
5	U-FWUS	Do fluorescencji w świetle UV: BP330-385 BA420 DM400
6	U-FWBS	Do fluorescencji niebieskiej: BP460-490 BA520IF DM500
7	U-FWGS	Do fluorescencji zielonej: BP510-550 BA590 DM570
8	U-FF	Pusty zespół zwierciadeł

_{*Wyłącznie do współosiowego episkopowego oświetlenia}

Nasadki pośrednie

Różne typy akcesoriów przeznaczone do różnych zastosowań. Do użytku między nasadką obserwacyjną a oświetlaczem.

1	U-CA	Zmieniacz powiększenia (1X, 1,25X, 1,6X, 2X)
2	U-TRU	Trinokularowa jednostka pośrednia

Obiektywy UIS2

Obiektywy powiększają próbkę. Należy wybrać obiektyw dopasowany do odległości roboczej, zdolności rozdzielczej i metody obserwacji właściwej dla danego zastosowania.

Kliknij tutaj, aby uzyskać szczegółowe informacje na temat soczewek obiektywów UIS2

Łatwość używania

Tradycyjne techniki łatwe w obsłudze:
prosty oświetlacz

Zastosowanie oświetlacza minimalizuje liczbę skomplikowanych czynności, które zwykle należy wykonać podczas obsługi mikroskopu. Pokrętło umieszczone z przodu oświetlacza umożliwia łatwą zmianę metody obserwacji. Operator może szybko przełączać się między metodami obserwacji najczęściej używanymi w mikroskopii w świetle odbitym, na przykład może przełączać się z obserwacji w polu jasnym przez obserwację w polu ciemnym do obserwacji w świetle spolaryzowanym, łatwo zmieniając typ analizy. Ponadto, obracając analizator, można dostosować prostą obserwację w świetle spolaryzowanym.

Intuicyjne sterowanie mikroskopem:
proste ustawienia FS i AS

Korzystanie z prawidłowych ustawień przysłony aperturowej i przysłony polowej zapewnia dobry kontrast obrazu i pełne wykorzystanie możliwości apertury numerycznej obiektywu. Dzięki legendzie użytkownik wybiera poprawne ustawienie odpowiednio do metody obserwacji i używanego obiektywu.

Szybka regulacja ostrości

Indeks skali ostrości na ramie umożliwia szybki dostęp do punktu ogniskowego. Operatorzy mogą wyregulować przybliżony punkt ogniskowy bez oglądania próbki przez okular, co oszczędza czas podczas przeprowadzania kontroli próbek o różnych wysokościach.

Przełącznik ręczny do zmotoryzowanej rotacji końcówki obiektywu

Łatwa i wygodna obsługa

Konstrukcja systemu wpływa na wydajność pracy użytkowników. Zarówno użytkownicy autonomicznych mikroskopów, jak i użytkownicy mikroskopów zintegrowanych z oprogramowaniem do analizy obrazów OLYMPUS Stream, odnoszą korzyści z wygodnych elementów sterujących modułu sterowania, które wyraźnie określają pozycje elementów sprzętowych. Proste moduły sterowania umożliwiają użytkownikowi skupienie się na próbce i kontroli, którą musi wykonać.

Jednolite oświetlenie:
moduł zarządzania natężeniem światła

Podczas początkowej konfiguracji intensywność oświetlenia można wyregulować w celu dopasowania go do konkretnej konfiguracji sprzętowej kodowanego oświetlacza i/lub kodowanej końcówki obiektywu.

Przywracanie ustawień mikroskopu:
kodowany sprzęt

Kodowane funkcje integrują ustawienia systemowe mikroskopu BX53M z oprogramowaniem do analizy obrazów OLYMPUS Stream. Metoda obserwacji, intensywność oświetlenia i powiększenie są automatycznie rejestrowane przez oprogramowanie i zapisywane z powiązanymi obrazami. Ze względu na to, że operatorzy zawsze mogą przeprowadzać kontrole przy tych samych ustawieniach obserwacji, możliwe jest uzyskanie wiarygodnych wyników kontroli.

Funkcjonalność

Zobaczyć niewidoczne:
obserwacja MIX

Technologia obserwacji MIX w systemie BX53M łączy tradycyjne metody oświetlenia z oświetleniem ciemnego pola. Gdy używany jest suwak MIX, jego pierścień diod LED oświetla próbkę ciemnym polem kierunkowym. Technologia ta daje efekt podobny do tradycyjnej technologii ciemnego pola, ale zapewnia możliwość wyboru kwadrantu diod LED w celu skierowania światła pod różnymi kątami. To połączenie kierunkowego ciemnego pola i jasnego pola, fluorescencji lub polaryzacji nazywane jest oświetleniem MIX i jest szczególnie pomocne w uwidocznianiu wad i odróżnianiu uniesionych powierzchni od zagłębień.

Ostrość na całej powierzchni obrazu: EFI

Funkcja obrazowania z powiększoną głębią ostrości (EFI — Extended Focus Imaging) dostępna w oprogramowaniu OLYMPUS Stream rejestruje obrazy próbek, których wysokość wykracza poza głębię ostrości obiektywu, i łączy je, tworząc jeden, w pełni ostry obraz. Funkcja EFI może być stosowana zarówno z manualną, jak i zmotoryzowaną osią Z i tworzy mapę wysokości pozwalającą na łatwe wizualizowanie struktur. Obrazy EFI mogą być konstruowane w trybie offline, w aplikacji Stream Desktop.

Wizualizacja zarówno jasnych, jak i ciemnych obszarów: HDR

Funkcja szerokiego zakresu dynamicznego (HDR — High Dynamic Range) za pomocą zaawansowanych technik przetwarzania obrazu kompensuje różnice w jasności na obrazie, aby ograniczyć lśnienie. HDR podnosi jakość wizualną obrazów cyfrowych, ułatwiając opracowywanie profesjonalnie prezentujących się raportów.

_{Wyraźne wyeksponowanie jasnych i ciemnych obszarów przy użyciu funkcji HDR (przykład: nabój z paliwem)}

_{Wzmocnienie kontrastowe techniką HDR

(próbka: magnezyt pocięty na warstwy)}

_{Obraz Instant MIA monety}

Łatwe przesuwanie stolika w celu uzyskania obrazów panoramicznych: Instant MIA

W celu szybkiego i łatwego sklejenia obrazów wystarczy poruszyć pokrętłami osi XY na stoliku ręcznym — nie jest do tego wymagany stolik zmotoryzowany. Oprogramowanie OLYMPUS Stream, stosując technikę rozpoznawania wzorców, generuje obraz panoramiczny, oferując użytkownikowi szersze pole widzenia niż pojedyncza klatka.

Wszechstronność możliwości pomiarowych

Funkcje pomiarów rutynowych lub podstawowych

Oprogramowanie OLYMPUS Stream udostępnia różne funkcje pomiarowe, dzięki czemu użytkownik może łatwo uzyskać przydatne dane z obrazów. W celu przeprowadzenia kontroli jakości i inspekcji często wymagane jest korzystanie z funkcji pomiarowych na obrazach. Wszystkie poziomy licencji oprogramowania OLYMPUS Stream obejmują interaktywne funkcje pomiarowe, takie jak odległości, kąty, prostokąty, koła, elipsy i wielokąty. Wszystkie wyniki pomiarów są zapisywane razem z plikami obrazów do celów dokumentacyjnych.

Count and Measure (Zliczanie i pomiar)

Wykrywanie obiektów i określanie rozkładu rozmiarów należą do najważniejszych zastosowań obrazowania cyfrowego. Oprogramowanie OLYMPUS Stream zawiera silnik wykrywania, który wykorzystuje metody progowe do niezawodnego wyodrębniania obiektów (np. cząstki, rysy) z tła.

Rozwiązania w dziedzinie materiałoznawstwa

Oprogramowanie OLYMPUS Stream oferuje intuicyjny interfejs do kompleksowej analizy obrazów, ukierunkowany na realizację konkretnych procedur. Wystarczy kliknąć przycisk, aby szybko i dokładnie wykonać nawet najbardziej skomplikowane zadania związane z analizą, zachowując zgodność z najczęściej stosowanymi normami przemysłowymi. Dzięki znaczącemu przyspieszeniu zadań powtarzalnych materiałoznawcy mogą skupić się na przeprowadzaniu analizy i badań. W dowolnym momencie można łatwo wykonać dodatkowe moduły dla wykresów wtrąceń i siecznych.

_{Widok powierzchni 3D (przykład testu chropowatości)}

_{Jeden widok i pomiar profilu 3D}

Pomiar próbki 3D

W przypadku stosowania zewnętrznego napędu zmotoryzowanego ogniskowania można szybko zarejestrować obraz EFI i wyświetlić go w trybie 3D. Uzyskanych danych dotyczących wysokości można użyć do wykonania pomiarów 3D w profilu lub z obrazu pojedynczego widoku.

Więcej informacji o oprogramowaniu Olympus Stream

Zobacz więcej typów i rozmiarów próbek

Nowy stolik o wymiarach 150 × 100 mm zapewnia dłuższą drogę w osi X niż poprzednie modele. Cecha ta, w połączeniu z konstruktem płaskiego blatu, umożliwia łatwe umieszczenie dużych próbek lub wielu próbek na stoliku. Płytka na stolik ma nawiercone otwory, które umożliwiają przymocowanie uchwytu próbki. Większy stolik zapewnia większą elastyczność pracy — użytkownicy mogą przeprowadzać kontrolę większej liczby próbek przy użyciu jednego mikroskopu, co oszczędza cenne miejsce w laboratorium. Regulowany moment obrotowy stolika ułatwia precyzyjne pozycjonowanie przy dużym powiększeniu i wąskim polu widzenia.

Elastyczność pod względem wysokości i masy próbki

Na stoliku z opcjonalną jednostką modułową można umieścić próbki o wysokości maksymalnie 105 mm. Dzięki ulepszonemu mechanizmowi ustawiania ostrości maksymalne obciążenie mikroskopu (próbka + stolik) wynosi 6 kg. Oznacza to, że za pomocą mikroskopu BX53M można przeprowadzać kontrolę większych i cięższych próbek — w laboratorium może zatem znajdować się mniejsza liczba mikroskopów. Dzięki strategicznemu ustawieniu obrotowego uchwytu na 6-calowe wafle w pozycji niecentralnej użytkownicy mogą obserwować całą powierzchnię wafla, obracając uchwyt podczas przemieszczania się w zakresie 100 mm. Regulacja momentu obrotowego stolika została zoptymalizowana pod kątem łatwości użytkowania, a wygodny uchwyt umożliwia proste odszukanie obszaru zainteresowania próbki.

_BX53MRF-S

_BXFM

Elastyczność pod względem wielkości próbki

Gdy próbki są zbyt duże, aby umieścić je na tradycyjnym stoliku mikroskopu, główne elementy optyczne do mikroskopii w świetle odbitym można zintegrować w konfigurację modułową. Modułowy system BXFM można przymocować do większego stojaka lub innego elementu wyposażenia za pomocą wybranego mocowania. Dzięki temu użytkownicy mogą skorzystać z uznanych w branży elementów optycznych firmy Olympus, nawet jeśli próbki mają unikalny rozmiar lub kształt.

Ochrona urządzeń elektronicznych przed wyładowaniami elektrostatycznymi: zgodność z normą dotyczącą ESD

System BX53M ma funkcję rozpraszania ESD, która chroni urządzenia elektroniczne przed wyładowaniami elektrostatycznymi spowodowanymi przez czynniki ludzkie lub środowiskowe.

Jakość obrazu

Historia najnowocześniejszych układów optycznych

Doskonałe parametry optyczne:
minimalne aberracje czoła fali

Charakterystyka optyczna soczewek obiektywów ma bezpośredni wpływ na jakość obserwowanych obrazów i wyniki analizy. Konstrukcja obiektywów Olympus UIS2 o dużym powiększeniu minimalizuje aberracje czoła fali, zapewniając wysoką niezawodność optyczną.

Dowiedz się więcej o soczewkach obiektywów UIS2

_{Nieprawidłowe czoło fali}

_{Prawidłowe czoło fali (obiektyw UIS2)}

_{Halogen: kolor zmienia się wraz z natężeniem światła.}

LED: kolor jest niezależny od natężenia i wyraźniej odwzorowany niż w oświetleniu halogenowym.

_{LED: kolor jest niezależny od natężenia i wyraźniej odwzorowany niż w oświetleniu lampa halogenowa}
^{*Wszystkie zdjęcia wykonano z automatyczną ekspozycją}

Stałość temperatury barw:
białe oświetlenie LED o wysokim natężeniu

System BX53M wykorzystuje źródła białego oświetlenia LED o wysokim natężeniu zarówno do światła odbitego, jak i przechodzącego. Diody LED mają stałą temperaturę barw niezależnie od natężenia oświetlenia. Diody LED zapewniają wydajne oświetlenie o długiej żywotności, które idealnie nadaje się do zastosowań w kontrolach wykonywanych w inżynierii materiałowej.

Doskonała jakość i zaawansowana charakterystyka użytkowa

Precyzyjne pomiary:
automatyczna kalibracja

W oprogramowaniu OLYMPUS Stream, podobnie jak w mikroskopach cyfrowych, dostępna jest automatyczna kalibracja. Eliminuje ona zmienność procesu kalibracji, gdy realizują go różni użytkownicy, a w efekcie podnosi wiarygodność pomiarów. Automatyczna kalibracja realizowana jest według algorytmu, który automatycznie oblicza prawidłowe parametry kalibracji na podstawie średniej z wielu punktów pomiarowych. Minimalizuje to zmienność wynikającą z wykonywania kalibracji przez różnych operatorów i pozwala zachować powtarzalną dokładność i uzyskać większą niezawodność regularnej weryfikacji.

_{Wafel półprzewodnikowy (obraz binarny):

korekcja cieniowania zapewnia równomierne oświetlenie pola widzenia.}

Łączenie bezspoinowe:
korekcja cieniowania obrazu

Oprogramowanie OLYMPUS Stream oferuje funkcję korekcji cieniowania, która kompensuje cienie występujące w narożnikach obrazu. Korekcja cieniowania, stosowana wraz z ustawieniami progów natężenia, pozwala na bardziej precyzyjną analizę.

Więcej informacji o oprogramowaniu Olympus Stream

Zastosowania

Matryca układu scalonego na waflu półprzewodnikowym

Obserwacja w ciemnym polu służy do wykrywania bardzo małych rys lub wad na próbce oraz do badania próbek o powierzchni lustrzanej, w tym wafli półprzewodnikowych.

Podświetlenie stosowane w metodzie obserwacji MIX umożliwia uwidocznienie zarówno matryc, jak i kolorów.

MIX (jasne pole + ciemne pole)

_{MIX (jasne pole + ciemne pole)}

Ciemne pole

_{Ciemne pole}

Fluorescencja

_{Fluorescencja}

MIX (fluorescencja + ciemne pole)

_{MIX (fluorescencja + ciemne pole)}

Pozostałość fotomaski na waflu półprzewodnikowym

Technika fluorescencji jest używana w przypadku próbek emitujących światło po oświetleniu przez specjalnie zaprojektowaną kostkę filtrową. Służy ona do wykrywania zanieczyszczeń i pozostałości fotomaski.

Podświetlenie stosowane w metodzie obserwacji MIX umożliwia uwidocznienie zarówno pozostałości fotomaski, jak i matrycy układu scalonego.

Filtr kolorów LCD

Ta technika obserwacji jest odpowiednia w przypadku próbek przezroczystych, takich jak wyświetlacze LCD, tworzywa sztuczne lub szkła.

Podświetlenie stosowane w metodzie obserwacji MIX umożliwia uwidocznienie zarówno koloru filtra, jak i matrycy układu.

Światło przechodzące

_{Światło przechodzące}

MIX (światło przechodzące + jasne pole)

_{MIX (światło przechodzące + jasne pole)}

Jasne pole

_{Jasne pole}

Kontrast różnicowo-interferencyjny (DIC)

_{Kontrast różnicowo-interferencyjny (DIC)}

Żeliwo z grafitem sferoidalnym

DIC to technika obserwacji, w której wysokość próbki jest widoczna jako relief, podobny do obrazu 3D ze wzmocnionym kontrastem; technika ta doskonale nadaje się do inspekcji próbek o minimalnych różnicach wysokości, w tym struktur metalurgicznych i minerałów.

Serycyt

Kontrast różnicowo-interferencyjny (DIC) to technika obserwacji, w której wysokość próbki, normalnie niewykrywalna w jasnym polu, jest widoczna jako relief, podobny do obrazu 3D ze wzmocnionym kontrastem. Technika ta doskonale nadaje się do inspekcji próbek o minimalnych różnicach wysokości, w tym struktur metalurgicznych i minerałów.

Jasne pole

_{Jasne pole}

Światło spolaryzowane

_{Światło spolaryzowane}

Podczerwień (IR)

_{Podczerwień (IR)}

Pola kontaktowe na matrycy układu scalonego

Technika IR znajduje zastosowanie w badaniach defektów wewnątrz układów scalonych i innych wyrobów wykonanych przy użyciu technologii Silicon-on-Glass (SiOG).

Dane techniczne

DANE TECHNICZNE MIKROSKOPU BX53M W SUGEROWANEJ KONFIGURACJI PRZEZNACZONEJ DO ZASTOSOWAŃ OGÓLNYCH

			Podstawowy		Standardowy		Zaawansowany
Układ optyczny			Układ optyczny UIS2 (optyka korygowana do nieskończoności)
Jednostka główna	Rama mikroskopu		BX53MRF-S (Światło odbite)	BX53MTRF-S (Światło odbite/światło przechodzące)	BX53MRF-S (Światło odbite)	BX53MTRF-S (Światło odbite/światło przechodzące)	BX53MRF-S (Światło odbite)	BX53MTRF-S (Światło odbite/światło przechodzące)
	Regulacja ostrości		Skok: 25 mm Skok precyzyjny na obrót: 100 μm Minimalna podziałka: 1 μm Ogranicznik górny, dźwignia do zgrubnej regulacji momentu obrotowego
	Maks. wysokość próbki		Światło odbite: 65 mm (bez podkładki), 105 mm (z BX3M-ARMAD) Światło odbite/światło przechodzące: 35 mm (bez podkładki), 75 mm (z BX3M-ARMAD)
	Nasadka obserwacyjna	Szerokie pole widzenia (F.N.22)	U-TR30-2-2 Odwrócona: trinokularowa
	Oświetlenie	Światło odbite Światło przechodzące	BX3M-KMA-S Biała dioda LED, BF/DIC/POL/MIX FS, AS (z mechanizmem centrującym), blokada BF/DF		BX3M-RLAS-S Kodowany, biała dioda LED, BF/DF/DIC/POL/MIX FS, AS (z mechanizmem centrującym), blokada BF/DF
			－	BX3M-LEDT Biała dioda LED Kondensory Abbego/o dużej odległości roboczej	－	BX3M-LEDT Biała dioda LED Kondensory Abbego/o dużej odległości roboczej	－	BX3M-LEDT Biała dioda LED Kondensory Abbego/o dużej odległości roboczej
	Rewolwerowa końcówka obiektywu		U-5RE-2 Do BF: pięciomiejscowy		U-D6BDRE Do BF/DF: sześciomiejscowy			U-D6BDRES-S Do BF/DF: sześciomiejscowy, kodowany
	Okular (F.N.22)		WHN10 WHN10X-H
	Obserwacja MIX		－					BX3M-CB Moduł sterowania BX3M-HS Przełącznik ręczny U-MIXR Suwak MIX do obserwacji w świetle odbitym U-MIXRCBL Przewód do MIXR
	Kondensor (duża odległość robocza)		－	U-LWCD	－	U-LWCD	－	U-LWCD
	Kabel zasilający		UYCP (x1)					UYCP (x2)
	Masa		Światło odbite: ok. 15,8 kg (rama mikroskopu 7,4 kg) Światło odbite/światło przechodzące: ok. 18,3 kg (rama mikroskopu 7,6 kg)
Obiektywy	Zestaw MPLFLN		MPLFLN5X, 10X, 20X, 50X, 100X Obserwacja metodą BF/POL/FL		－
	Zestaw MPLFLN BD		－		MPLFLN5XBD, 10XBD, BD, 50XBD, 100XBD Obserwacja metodą BF/DF/DIC/POL/FL
	Zestaw MPLFLN-BD, LMPLFLN-BD		－		MPLFLN5XBD, 10XBD, LMPLFLN20XBD, 50XBD, 100XBD Obserwacja metodą BF/DF/DIC/POL/FL
Stolik (X x Y)	Zestaw 76 mm x 52 mm		U-SVRM, U-MSSP Stolik ze współosiową rękojeścią po prawej stronie / 76 (X) × 52 (Y) mm, z regulacją momentu obrotowego
	Zestaw 100 mm x 100 mm		U-SIC4R2, U-MSSP4 Stolik ze współosiową rękojeścią po prawej stronie, rozmiar duży / 100 (X) x 100 (Y) mm, z mechanizmem blokady w osi Y
	Zestaw 100 mm x 100 (G) mm		U-SIC4R2, U-MSSPG Stolik ze współosiową rękojeścią po prawej stronie, rozmiar duży / 100 (X) x 100 (Y) mm, z mechanizmem blokady w osi Y (płytka szklana)
	Zestaw 150 mm x 100 mm		U-SIC64, U-SHG, U-SP64 Stolik ze współosiową rękojeścią po prawej stronie, rozmiar duży / 150 (X) x 100 (Y) mm, z regulacją momentu obrotowego, z mechanizmem blokady w osi Y
	Zestaw 150 mm x 100 (G) mm		U-SIC64, U-SHG, U-SPG64 Stolik ze współosiową rękojeścią po prawej stronie, rozmiar duży / 150 (X) x 100 (Y) mm, z regulacją momentu obrotowego, z mechanizmem blokady w osi Y (płytka szklana)
Opcja	Zestaw do obserwacji MIX*		BX3M-CB, BX3M-HS, U-MIXR, U-MIXRCBL				－
	DIC*		U-DICR
	Nasadki pośrednie		U-CA, U-EPA2, U-TRU
	Filtry		U-25ND6, U-25ND25, U-25LBD, U-25LBA, U-25Y48, U-AN360-3, U-AN360P, U-PO3, U-POTP3, U-25IF550, U-25L42, U-25, U-25FR
	Filtry dla kondensora		43IF550-W45, U-POT
	Płytka na stolik		U-D6BDRES-S, U-D6RE-ESD-2, U-D6BDRES-ESD, U-5RES-ESD
	Uchwyt badanego materiału		U-HRD-4, U-HLD-4, U-HRDT-4, U-HLDT-4
	Gumowy uchwyt		U-SHG, U-SHGT

_{*Nie może być używany z produktem U-5RE-2.}

JEDNOSTKI ESD BX53M / BXFM

Elementy	Rama mikroskopu	BX53MRF-S, BX53MTRF-S
	Oświetlacz	BX3M-KMA-S, BX3M-RLA-S, BX3M-URAS-S, BX3M-RLAS-S
	Końcówka obiektywu	U-D6BDREMC, U-D6BDRES-S, U-D6RE-ESD, U-D5BDREMC-ESD, U-5RES-ESD
	Stolik	U-SIC4R2, U-MSSP4

DANE TECHNICZNE MIKROSKOPU BX53M W SUGEROWANEJ KONFIGURACJI PRZEZNACZONEJ DO SPECJALNYCH ZASTOSOWAŃ

				Fluorescencja		Podczerwień	Światło spolaryzowane
Układ optyczny				Układ optyczny UIS2 (optyka korygowana do nieskończoności)
Jednostka główna	Rama mikroskopu			BX53MRF-S (Światło odbite)	BX53MTRF-S (Światło odbite/światło przechodzące)	BX53MRF-S (Światło odbite)	BX53MTRF-S (Światło odbite/światło przechodzące)
	Regulacja ostrości			Skok: 25 mm Skok precyzyjny na obrót: 100 μm Minimalna podziałka: 1 μm Ogranicznik górny, dźwignia do zgrubnej regulacji momentu obrotowego
	Maks. wysokość próbki			Światło odbite: 65 mm (bez podkładki), 105 mm (z BX3M-ARMAD) Światło odbite/światło przechodzące: 35 mm (bez podkładki), 75 mm (z BX3M-ARMAD)
	Nasadka obserwacyjna	Szerokie pole widzenia (F.N.22)		U-TR30-2 Odwrócona: trinokularowa		U-TR30IR Odwrócona: trinokularowa do podczerwieni	U-TR30-2 Odwrócona: trinokularowa
		Przystawka pośrednia do obserwacji w świetle spolaryzowanym (U-CPA)	Soczewka Bertranda	－		－	Możliwość regulacji ogniskowej
			Przysłona polowa Bertranda	－		－	Średnica ø3,4 mm (stała)
			Należy włączyć lub wyłączyć zmianę soczewki Bertranda między obserwacją ortoskopową a obserwacją konoskopową	－		－	Pozycja suwaka ● wsunięty Pozycja suwaka ○ wysunięty
			Gniazdo analizatora	－		－	Obrotowy analizator z gniazdem (U-AN360P-2)
	Oświetlenie	Światło odbite	Obserwacja FL	BX3M-URAS-S Kodowany, 4-pozycyjna głowica rewolwerowa zespołu zwierciadeł (standardowa: WB, WG, WU+BF itd.) z FS, AS (z mechanizmem centrującym), z mechanizmem sterowania przysłoną		－	－
			Obserwacja IR	－		BX3M-RLA-S Lampa halogenowa 100 W dla IR, BF/IR, AS (z mechanizmem centrującym) U-LH100IR (w tym HAL-L 12 V 10 W) Halogenowe źródło światła 100 W dla IR TH4-100 Zasilanie 100 W TH4-HS Przełącznik ręczny U-RMT Przedłużacz	－
		Światło przechodzące	Obserwacja POL	－		－	BX3M-LEDT Biała dioda LED Kondensory Abbego/o dużej odległości roboczej
	Rewolwerowa końcówka obiektywu			U-D6BDRES-S Do BF/DF: sześciomiejscowy, kodowany		U-5RE-2 Do BF: pięciomiejscowy	U-P4RE Czteromiejscowy, mocowane podzespoły z możliwością centrowania Płytkę ćwierćfalową wprowadzającą opóźnienie (U-TAD), płytkę barwioną (U-TP530) oraz różne kompensatory można przymocować za pomocą adaptera płytki (U-TAD)
	Okular (F.N.22)			WHN10X
				WHN10X-H			CROSS-WHN10X
	Zespoły zwierciadeł			U-FDF Do BF, odłączany filtr ND U-FBFL Do BF, wbudowany filtr ND U-FWUS Do fluorescencji w świetle UV U-FWBS Do fluorescencji niebieskiej U-FWGS Do fluorescencji zielonej		－
	Filtr / Polaryzator / Analizator			U-25FR Filtr frost		U-BP1100IR/U-BP1200IR Filtry pasmowoprzepustowe do IR	43IF550-W45 Filtr zielony
				U-POIR Suwak polaryzatora do obserwacji w świetle odbitym do IR		U-AN360IR Obrotowy suwak analizatora do IR	U-AN360P-2 Tarcza z możliwością obrotu o 360° Minimalny kąt obrotu 0,1°
	Kondensor			U-LWCD Duża odległość robocza		－	U-POC-2 Achromatyczny kondensor wolny od naprężeń. Polaryzator z możliwością obrotu o 360° z wychylną achromatyczną górną soczewką. Możliwość regulacji blokady w pozycji „0°”. NA 0,9 (górna soczewka włożona) / NA 0,18 (górna soczewka wyjęta) Przysłona apertury: możliwość regulacji średnicy w zakresie od 2 mm do 21 mm
	Suwaki / Kompensatory			－			U-TAD Suwak (adapter płytki)
							U-TP530 / U-TP137 Kompensatory
	Kabel zasilający			UYCP (x1)		UYCP (x2)	UYCP (x1)
	Masa			Światło odbite: ok. 15,8 kg (rama mikroskopu 7,4 kg)	Światło odbite/światło przechodzące: ok. 18,3 kg (rama mikroskopu 7,6 kg)	ok. 18,9 kg (rama mikroskopu 7,4 kg)	ok. 16,2 kg (rama mikroskopu 7,6 kg)
Źródło światła FL odbitego	Światłowód			Zestaw światłowodu U-LGPS, U-LLGAD, U-LLG150		－	－
	Lampa rtęciowa			Zestaw lampy rtęciowej U-LH100HGAPO1-7, USH-103OL (x2), U-RFL-T, U-RCV		－	－
Obiektywy	Zestaw MPLFLN			MPLFLN5X, 10X, 20X, 50X, 100X Obserwacja metodą BF/DIC/POL/FL		－	－
	Zestaw MPLFLN BD			MPLFLN5XBD, 10XBD, BD, 50XBD, 100XBD Obserwacja metodą BF/DF/DIC/POL/FL		－	－
	Zestaw MPLFLN-BD, LMPLFLN-BD			MPLFLN5XBD, 10XBD, LMPLFLN20XBD, 50XBD, 100XBD Obserwacja metodą BF/DF/DIC/POL/FL		－	－
	Zestaw IR			－		LMPLN5XIR, 10XIR, LCPLN20XIR, 50XIR, 100XIR Obserwacja IR	－
	Zestaw POL			－		－	UPLFLN4XP, 10XP, 20XP, 40XP Obserwacja POL
Stolik (X x Y)	Zestaw 76 mm x 52 mm			U-SVRM, U-MSSP Stolik ze współosiową rękojeścią po prawej stronie / 76 (X) × 52 (Y) mm, z regulacją momentu obrotowego
	Zestaw 100 mm x 100 mm			U-SIC4R2, U-MSSP4 Stolik ze współosiową rękojeścią po prawej stronie, rozmiar duży / 100 (X) x 100 (Y) mm, z mechanizmem blokady w osi Y
	Zestaw 100 mm x 100 (G) mm			U-SIC4R2, U-MSSPG Stolik ze współosiową rękojeścią po prawej stronie, rozmiar duży / 150 (X) x 100 (Y) mm, z mechanizmem blokady w osi Y (płytka szklana)
	Zestaw 150 mm x 100 mm			U-SIC64, U-SHG, U-SP64 Stolik ze współosiową rękojeścią po prawej stronie, rozmiar duży / 150 (X) x 100 (Y) mm, z regulacją momentu obrotowego, z mechanizmem blokady w osi Y
	Zestaw 150 mm x 100 (G) mm			U-SIC64, U-SHG, U-SPG64 Stolik ze współosiową rękojeścią po prawej stronie, rozmiar duży / 150 (X) x 100 (Y) mm, z regulacją momentu obrotowego, z mechanizmem blokady w osi Y (płytka szklana)
	Zestaw POL			－			I-SRP-1-2+U-FMP Obrotowy stolik do obserwacji w świetle spolaryzowanym + mechaniczny stolik
Opcja	Zestaw do obserwacji MIX*			BX3M-CB, BX3M-HS, U-MIXR, U-MIXRCBL
	DIC*			U-DICR
	Nasadki pośrednie			U-CA, U-EPA2, U-TRU
	Filtry			U-25ND6, U-25ND25, U-25LBD, U-25LBA, U-25Y48, U-AN360-3, U-AN360P, U-PO3, U-POTP3, U-25IF550, U-25L42, U-25, U-25FR
	Filtry dla kondensora			43IF550-W45, U-POT
	Płytka na stolik			U-WHP64, BH2-WHR43, BH2-WHR54, BH2-WHR65, U-WHP2, BH2-WHR43
	Uchwyt badanego materiału			U-HRD-4, U-HLD-4, U-HRDT-4, U-HLDT-4
	Gumowy uchwyt			U-SHG, U-SHGT