Evident LogoOlympus Logo

Kontakt z nami   Kontakt z nami  

Rozwiązania dla przemysłu
Careers
Careers

Rozwiązania z mikroskopami
Konfiguracje

Skomponowanie wysoce niezawodnego systemu o modułowej konstrukcji
nigdy nie było tak łatwe

Sześć sugerowanych konfiguracji mikroskopu BX53M zapewnia swobodę podczas wyboru żądanych funkcji.

Przeznaczenie ogólne

Przeznaczenie do specjalnych zastosowań

Podstawowy

Łatwa konfiguracja i podstawowe funkcje

Standardowy

Łatwość użytkowania z
różnorodnymi rozszerzonymi funkcjami

Zaawansowany

Wyposażony w wiele zaawansowanych funkcji

Fluorescencja

Idealnie nadaje się do
obserwacji w świetle fluorescencyjnym

Podczerwień

Przeznaczony do prowadzenia obserwacji w podczerwieni w celu kontroli układów scalonych

Polaryzacja

Przeznaczony do prowadzenia obserwacji obiektów dwójłomnych

Filtr kolorów LCD

Filtr kolorów LCD
(światło przechodzące/BF)

Mikrostruktura z ziarnami ferrytowymi

Mikrostruktura z ziarnami
ferrytowymi
(światło odbite/DF)

Zwój drutu miedzianego

Zwój drutu miedzianego
(BF + DF/MIX)

Opór na matrycy układu scalonego

Opór na matrycy układu scalonego
(FL + DF/MIX)

Warstwa krzemowa matrycy układu scalonego

Warstwa krzemowa matrycy układu scalonego
(IR)

Azbest

Azbest
(POL)

Podstawowy

Standardowy

Zaawansowany

Fluorescencja

Podczerwień

Polaryzacja

Zobacz tabelę danych technicznych

 Podstawowy Standardowy Zaawansowany Fluorescencja Podczerwień Polaryzacja
Rama mikroskopu Światło odbite lub światło odbite/światło przechodzące Światło odbite lub światło odbite/światło przechodzące Światło odbite Światło przechodzące
Standardowy R-BF T-BFR-BF T-BF DFR-BF T-BF DF MIXR-BF T-BF DF FLR-BF IRT-BF POL
Opcja DICDIC MIXDICDIC MIX － －
Prosty oświetlacz － ■■ － － －
Legenda apertury － ■■■ － ■
Kodowany sprzęt － ■■■ － ■
Indeks skali ostrości ■■■■■■
Moduł zarządzania natężeniem światła ■■■ － － ■
Obsługa za pomocą przełącznika ręcznego □□■□ － －
Obserwacja MIX □□■□ － －
Obiektywy Do wyboru 3 obiektywy odpowiednio do zastosowania Do wyboru 3 obiektywy odpowiednio do zastosowania Obiektywy do obserwacji w podczerwieni Obiektywy do obserwacji w świetle spolaryzowanym
Stolik Do wyboru 5 stolików odpowiednio do rozmiaru próbek Do wyboru 5 stolików odpowiednio do rozmiaru próbek Stolik do obserwacji w świetle spolaryzowanym

METODA OBSERWACJI

R-BF: jasne pole (światło odbite)
T-BF: jasne pole (światło odbite/światło przechodzące)
DF: ciemne pole
DIC: kontrast różnicowo-interferencyjny/polaryzacja prosta
MIX: MIX
FL: fluorescencja
IR: podczerwień
POL: polaryzacja

*Metody T-BF można używać po wybraniu ramy mikroskopu do obserwacji w świetle odbitym/świetle przechodzącym.

■: Standard
□: Opcja

Przykładowe konfiguracje dla materiałoznawstwa

Modułowa konstrukcja umożliwia wybór konfiguracji dostosowanej do konkretnych wymagań użytkownika.
Poniżej przedstawiono przykładowe konfiguracje dla materiałoznawstwa.

Konfiguracja mikroskopu BX53M — obserwacja w świetle odbitym i w świetle odbitym/świetle przechodzącym

W serii BX3M dostępne są dwa typy ram mikroskopu — jedna przeznaczona wyłącznie do obserwacji w świetle odbitym, a druga do obserwacji w świetle odbitym i przechodzącym. Obie ramy można skonfigurować w taki sposób, aby zawierały podzespoły ręczne, kodowane lub zmotoryzowane. Ramy są wyposażone w możliwość blokowania wyładowań elektrostatycznych, aby chronić próbki elektroniczne.

BX53MRF-S — przykładowa konfiguracja

BX53MRF-S — przykładowa konfiguracja

BX53MTRF-S — przykładowa konfiguracja

BX53MTRF-S — przykładowa konfiguracja

Konfiguracja mikroskopu BX53M — obserwacja w podczerwieni

Konfiguracja mikroskopu BX53M — obserwacja w podczerwieni

Obiektywy IR mogą być używane do zastosowań takich jak kontrola, wykonywanie pomiarów i obróbka półprzewodników, podczas których wymagane jest prowadzenie obrazowania przez warstwy krzemowe w celu obserwacji matrycy. Obiektywy do obserwacji w podczerwieni (IR) dostępne są w wariantach o powiększeniu od 5X do 100X, z korekcją aberracji chromatycznej od długości światła widzialnego do bliskiej podczerwieni. Podczas pracy przy dużych powiększeniach aberracje wywołane grubością próbki koryguje się, obracając kołnierz korekcyjny obiektywów z serii LCPLNIR. Wyraźny obraz można uzyskać za pomocą jednego obiektywu.

Kliknij tutaj, aby uzyskać szczegółowe informacje na temat soczewek obiektywów do obserwacji w podczerwieni

Konfiguracja mikroskopu BX53M — obserwacja w świetle spolaryzowanym

Układ optyczny dostępny w konfiguracji mikroskopu BX53M przeznaczonej do obserwacji w świetle spolaryzowanym udostępnia geologom narzędzia odpowiednie do prowadzenia wysokokontrastowego obrazowania w świetle spolaryzowanym. Stabilność systemu i precyzyjne wyrównywanie elementów układu optycznego są wysoce korzystne w przypadku zastosowań takich jak identyfikacja minerałów, badanie właściwości optycznych kryształów i obserwacja części skał litych.

BX53-P — konfiguracja ortoskopowa

BX53-P — konfiguracja ortoskopowa

BX53-P — konfiguracja konoskopowa/ortoskopowa

BX53-P — konfiguracja konoskopowa/ortoskopowa

Soczewka Bertranda do obserwacji konoskopowych i ortoskopowych

Przystawka do obserwacji konoskopowych U-CPA ułatwia i przyspiesza przełączanie widoku między obserwacją ortoskopową a obserwacją konoskopową. Regulacja ogniskowej zapewnia uzyskiwanie wyraźnych wzorów interferencji tylnej płaszczyzny ogniskowania. Przysłona polowa Bertranda umożliwia generowanie jednolicie ostrych i wyraźnych obrazów konoskopowych.

Soczewka Bertranda do obserwacji konoskopowych i ortoskopowych
Szeroka gama kompensatorów i płytek falowych

Szeroka gama kompensatorów i płytek falowych

Dostępnych jest sześć różnych kompensatorów przeznaczonych do pomiarów dwójłomności w cienkich warstwach skał i minerałów. Zakres poziomu opóźnienia pomiaru wynosi od 0 do 20 λ. Aby ułatwić wykonywanie pomiarów i zwiększyć kontrast obrazu, można używać kompensatorów Bereka i Senarmonta, które zmieniają poziom opóźnienia w całym polu widzenia.

Zakres pomiarowy kompensatorów

Kompensator Zakres pomiarowy Główne zastosowanie
Gruby Bereka (U-CTB) od 0 do 11 000 nm
(20 λ) 		Pomiar wysokiego poziomu opóźnienia (R*>3 λ)
(kryształy, makrocząsteczki, włókna itd.)
Bereka (U-CBE) od 0 do 1640 nm
(3 λ) 		Pomiar poziomu opóźnienia
(kryształy, makrocząsteczki, żywe organizmy itd.)
Kompensator Senarmonta (U-CSE) od 0 do 546 nm
(1 λ) 		Pomiar poziomu opóźnienia (kryształy, żywe organizmy itd.)
Wzmocnienie kontrastu obrazu (żywe organizmy itd.)
Kompensator Brace'a-Koehlera
1/10 λ (U-CBR1) 		od 0 do 55 nm
(1/10 λ) 		Pomiar niskiego poziomu opóźnienia (żywe organizmy itd.)
Wzmocnienie kontrastu obrazu (żywe organizmy itd.)
Kompensator Brace'a-Koehlera
1/30 λ (U-CBE2) 		od 0 do 20 nm
(1/30 λ) 		Pomiar kontrastu obrazu (żywe organizmy itd.)
Klin kwarcowy (U-CWE2) od 500 do 2200 nm
(4 λ) 		Szacunkowy pomiar poziomu opóźnienia
(kryształy, makrocząsteczki itd.)

*R = poziom opóźnienia
W celu uzyskania dokładniejszych pomiarów zalecane jest korzystanie z kompensatorów (z wyjątkiem U-CWE2) w połączeniu z filtrem interferencyjnym 45-IF546.

Układ optyczny wolny od naprężeń

Dzięki zaawansowanej konstrukcji i technologii produkcyjnej firmy Olympus stosowanej w obiektywach UPLFLN-P maksymalnie zmniejszono naprężenia wewnętrzne. Oznacza to wyższą wartość EF, co przekłada się na doskonały kontrast obrazu.

Kliknij tutaj, aby uzyskać szczegółowe informacje na temat soczewek obiektywów UPLFLN-P
Kliknij tutaj, aby uzyskać szczegółowe informacje na temat soczewek obiektywów PLN-P / ACHN-P
System BXFM

System BXFM

System BXFM można zaadaptować do specjalnych zastosowań lub zintegrować z innymi przyrządami. Dzięki modułowej konstrukcji systemu można go łatwo zaadaptować do unikalnych środowisk i wybrać konfigurację z różnorodnymi małymi oświetlaczami i mocowaniami odpowiednimi do specjalnych zastosowań.

Dzięki modułowej konstrukcji stworzysz dokładnie taki system, jakiego potrzebujesz

Ramy mikroskopu

Oferowane są dwie ramy mikroskopu przeznaczone do obserwacji w świetle odbitym; jedna z nich jest również przystosowana do obserwacji w świetle przechodzącym. Dostępny jest adapter, który umożliwia uniesienie oświetlacza w celu obserwacji wyższych próbek.

 Światło odbite Światło przechodzące Wysokość próbki
1 BX53MRF-S ■ － od 0 do 65 mm
2 BX53MTRF-S ■ ■ od 0 do 35 mm
1, 3 BX53MRF-S + BX3M-ARMAD ■ － od 40 do 105 mm
2, 3 BX53MTRF-S + BX3M-ARMAD ■ ■ od 40 do 75 mm

Akcesoria ułatwiające pracę z mikroskopem

－ HP-2 Ręczny docisk
－ COVER-018 Osłona przeciwpyłowa

Ramy mikroskopu

Stojaki

W przypadku zastosowań w mikroskopii, podczas których próbka nie mieści się na stoliku, oświetlacz i elementy optyczne można przymocować do większego stojaka lub innego elementu wyposażenia.

Konfiguracja z oświetlaczem BXFM + BX53M

1 BXFM-F Do ramy przyłączony jest słupek o rozmiarze 32 mm mocowany do ściany
2 BX3M-ILH Uchwyt na oświetlacz
3 BXFM-ILHSPU Sprężyna dla BXFM
6 SZ-STL Duży stojak

Konfiguracja z oświetlaczem BXFM + U-KMAS

1 BXFM-F Do ramy przyłączony jest słupek o rozmiarze 32 mm mocowany do ściany
4 BXFM-ILHS Uchwyt na U-KMAS
5 U-ST Stojak
6 SZ-STL Duży stojak

Stojaki

Nasadki obserwacyjne

W przypadku obrazowania mikroskopowego przy użyciu okularów lub w przypadku obserwacji przez kamerę należy dobrać nasadki obserwacyjne odpowiednio do typu obrazowania oraz postawy operatora podczas obserwacji.

 FN Typ Typ regulacji kąta Obraz Liczba mechanizmów
regulacji dioptrii
1 U-TR30-2 22 Trinokular Ust. w stałej pozycji Odwrócony 1
2 U-TR30IR 22 Trinokular do podczerwieni Ust. w stałej pozycji Odwrócony 1
3 U-ETR-4 22 Trinokular Ust. w stałej pozycji Prosty －
4 U-TTR-2 22 Trinokular Przechylanie Odwrócony －
5 U-SWTR-3 26,5 Trinokular Ust. w stałej pozycji Odwrócony －
6 U-SWETTR-5 26,5 Trinokular Przechylanie Prosty －
7 U-TLU 22 Jeden port － － －
Nasadki obserwacyjne

Oświetlacze

Oświetlacz emituje światło na próbkę w sposób odpowiedni do wybranej metody obserwacji. Oprogramowanie łączy się z kodowanymi oświetlaczami w celu odczytu pozycji kostki filtrowej i automatycznego rozpoznania metody obserwacji.

Oświetlacze

 Funkcja kodowana Źródło światła BF DF DIC POL IR FL MIX AS/FS
1 BX3M-RLAS-S Pozycja – 3 kostki, montaż na stałe LED — wbudowane ■ ■ ■ ■ － － ■ ■
2 BX3M-URAS-S Pozycja — 4 kostki, mocowane LED ■ ■ ■ ■ － － ■ ■
Halogen ■ ■ ■ ■ ■ － ■ ■
Lampa rtęciowa/światłowód ■ ■ ■ ■ － ■ ■ ■
3 BX3M-RLA-S

LED ■ ■ ■ ■ － － ■ ■
Halogen ■ ■ ■ ■ ■ － ■ ■
4 BX3M-KMA-S

LED — wbudowane ■ － ■ ■ － － ■ －
5 BX3-ARM Ramię mechaniczne do obserwacji w świetle przechodzącym
6 U-KMAS

LED ■ － ■ ■ － － ■ －
Halogen ■ － ■ ■ ■ － ■ －

Źródła światła

Źródła światła i urządzenia zasilające do oświetlania próbki. Należy dobrać odpowiednie źródło światła do metody obserwacji.

Źródła światła

Konfiguracja ze standardowym źródłem światła LED

1 BX3M-LEDR Oprawa źródła LED dla światła odbitego
2 U-RCV Konwerter DF dla BX3M-URAS-S, w określonych przypadkach wymagany do przeprowadzenia obserwacji DF i BF
3 BX3M-PSLED Zasilacz do oprawy źródła LED, wymaga systemu BXFM
4 BX3M-LEDT Oprawa źródła LED dla światła przechodzącego

Konfiguracja ze źródłem światła fluorescencyjnego

5 U-LLGAD Adapter światłowodu
2 U-RCV Konwerter DF dla BX3M-URAS-S, w określonych przypadkach wymagany do przeprowadzenia obserwacji DF
6 U-LLG150 Światłowód, długość: 1,5 m
7 U-LGPS Źródło światła fluorescencyjnego
8, 9 U-LH100HG (HGAPO) Oprawa lampy rtęciowej dla światła fluorescencyjnego
2 U-RCV Konwerter DF dla BX3M-URAS-S, w określonych przypadkach wymagany do przeprowadzenia obserwacji DF
10 U-RFL-T Zasilacz do lampy rtęciowej 100 W

Konfiguracja ze źródłem halogenowym i źródłem halogenowym światła podczerwonego

11 U-LH100IR Oprawa lampy halogenowej dla podczerwieni
12 U-RMT Przedłużacz do oprawy lampy halogenowej, długość przewodu 1,7 m{(w określonych przypadkach wymaga dodatkowego przedłużacza)
13, 14 TH4-100 (200) Zasilacz o napięciu znamionowym 100 V (200 V) do lampy halogenowej 100 W/50 W
15 TH4-HS Przełącznik ręczny do zmiany natężenia oświetlenia halogenowego (ściemniacz TH4-100 (200) bez przełącznika ręcznego)

Końcówki obiektywów

Przystawka do obiektywów i suwaków. Dobierana z uwzględnieniem potrzebnej liczby obiektywów i ich typów oraz tego, czy wymagana jest przystawka z suwakiem.

Końcówki obiektywów

 Typ Otwory BF DF DIC MIX ESD Liczba otworów
centrujących
1 U-P4RE Ręczny 4 ■

■

4
2 U-5RE-2 Ręczny 5 ■

3 U-5RES-ESD Kodowany 5 ■

■

4 U-D6RE Ręczny 6 ■

■

5 U-D6RES Kodowany 6 ■

■

6 U-D5BDREMC Zmotoryzowany 5 ■ ■ ■ ■

7 U-D6BDRE Ręczny 6 ■ ■ ■ ■

8 U-D5BDRES-ESD Kodowany 5 ■ ■ ■ ■ ■

9 U-D6BDRES-S Kodowany 6 ■ ■ ■ ■ ■

10 U-D6REMC Zmotoryzowany 6 ■

■

11 U-D6BDREMC Zmotoryzowany 6 ■ ■ ■ ■ ■

Suwaki

Można wybrać suwak pozwalający na uzupełnienie tradycyjnej obserwacji w jasnym polu o dodatkowe techniki. Suwak DIC umożliwia uzyskanie informacji o topografii próbki; dostępne są opcje maksymalizacji kontrastu albo rozdzielczości. Suwak MIX zapewnia swobodę regulacji oświetlenia przy użyciu segmentowego źródła LED w drodze pola ciemnego.

Suwaki

Suwak DIC

Typ Opór Dostępne obiektywy
1 U-DICR Standardowy Średni MPLFLN, MPLAPON, LMPLFLN i LCPLFLN-LCD

Suwak MIX

Dostępne obiektywy
2 U-MIXR MPLFLN-BD, LMPLFLN-BD, MPLN-BD

Przewód

U-MIXRCBL* Przewód U-MIXR, długość przewodu: 0,5 m

*Wyłącznie MIXR

Moduły sterowania i przełączniki ręczne

Moduły sterowania przeznaczone do łączenia elementów sprzętowych mikroskopu z komputerem oraz przełączniki ręczne umożliwiające sterowanie mechanizmami i wyświetlanie związanych z nimi informacji.

Konfiguracja BX3M-CB (CBFM)

1 BX3M-CB Moduł sterowania dla systemu BX53M
2 BX3M-CBFM Moduł sterowania dla systemu BXFM
3 BX3M-HS Sterowanie obserwacją MIX, wskaźnik mechanizmu kodowanego, programowalny przycisk funkcyjny oprogramowania (Stream)
4 BX3M-HSRE Zmotoryzowana rotacja końcówki obiektywu

Przewód

－ BX3M-RMCBL (ECBL) Przewód do zmotoryzowanej końcówki obiektywu, długość przewodu: 0,2 m

Moduły sterowania i przełączniki ręczne

Stoliki

Stoliki i płytki na stolik do umieszczania próbki. Dobierane do kształtu i rozmiaru próbki.

Stoliki

Konfiguracja ze stolikiem 150 mm x 100 mm

1 U-SIC64 Stolik 150 mm × 100 mm z płaską górną częścią i rękojeścią
2 U-SHG (T) Gumka na rękojeść wykonana z gumy silikonowej (grubego typu)
3 U-SP64 Płytka na stolik dla U-SIC64
4 U-WHP64 Płytka na wafel dla U-SIC64
5 BH2-WHR43 Uchwyt na wafel, rozmiar 4-3″
6 BH2-WHR54 Uchwyt na wafel, rozmiar 5-4″
7 BH2-WHR65 Uchwyt na wafel, rozmiar 6-5″
8 U-SPG64 Płytka szklana dla U-SIC64

Konfiguracja ze stolikiem 76 mm x 52 mm

13 U-SVRM Stolik 76 mm × 52 mm z rękojeścią po prawej stronie
2 U-SHG (T) Gumka na rękojeść wykonana z gumy silikonowej (grubego typu)
14 U-MSSP Płytka na stolik dla U-SVR (/L) M
15, 16 U-HR (L) D-4 Uchwyt na cienkie szkiełka przeznaczony dla otworu po prawej (lewej) stronie
17, 18 U-HR (L) DT-4 Uchwyt na grube szkiełka przeznaczony dla otworu po prawej (lewej) stronie; do dociskania szkiełka do górnej powierzchni stolika; uniesienie próbki sprawia trudności

Konfiguracja ze stolikiem 100 mm x 100 mm

9 U-SIC4R2 Stolik 105 mm × 100 mm z rękojeścią po prawej stronie
10 U-MSSP4 Płytka na stolik dla U-SIC4R (L) 2
11 U-WHP2 Płytka na wafel dla U-SIC4R (L) 2
6 BH2-WHR43 Uchwyt na wafel, rozmiar 4-3″
12 U-MSSPG Płytka szklana dla U-SIC4R

Inne

19 U-SRG2 Obrotowy stolik
20 U-SRP Obrotowy stolik do obserwacji POL, możliwość blokady pod kątem 45° z dowolnej pozycji
21 U-FMP Mechaniczny stolik dla U-SRP/U-SRG2

Adaptery do kamer

Adapter do obserwacji przez kamerę. Dobierany odpowiednio do żądanego pola widzenia i powiększenia. Rzeczywisty zakres obserwacji można obliczyć ze wzoru: rzeczywiste pole widzenia (przekątna w mm) = pole obserwacji (numer) ÷ powiększenie obiektywu.

Adaptery do kamer

 Powiększenie Regulacja wycentrowania Pole obrazu matrycy CCD (numer pola) mm
2/3 cala 1/1,8 cala 1/2 cala
1 U-TV1x-2 z U-CMAD3 1 － 10,7 8,8 8
2 U-TV1xC 1 ø2 mm 10,7 8,8 8
3 U-TV0.63xC 0,63 － 17 14 12,7
4 U-TV0.5xC-3 0,5 － 21,4 17,6 16
5 U-TV0.35xC-2 0,35 － － － 22
6 U-TV0.25xC 0,25 － － － －

Okulary

Okular przeznaczony do patrzenia bezpośrednio przez mikroskop. Dobierany odpowiednio do żądanego pola widzenia.

 FN (mm) Mechanizm regulacji dioptrii Wbudowana siatka krzyżowa
1 WHN10x 22

2 WHN10x-H 22 ■

3 CROSS WHN10x 22 ■ ■
4 SWH10x-H 26,5 ■

5 CROSS SWH10x 26,5 ■ ■
Okulary

Filtry optyczne

Filtry optyczne przekształcają światło ekspozycji próbki na różne typy oświetlenia. Filtr należy dobrać tak, aby uzyskać wymagane warunki obserwacji.

Filtry optyczne

BF, DF, FL

1, 2 U-25ND25,6 Filtr o gęstości obojętnej, transmitancja 25%, 6%
3 U-25LBD Filtr barwny do światła dziennego
4 U-25LBA Filtr barwny do oświetlenia halogenowego
5 U-25IF550 Filtr zielony
6 U-25L42 Filtr wycinający promieniowanie ultrafioletowe
7 U-25Y48 Filtr żółty
8 U-25FR Filtr frost (wymagany dla BX3M-URAS-S)

POL, DIC

9 U-AN-2 Stały kierunek polaryzacji
10 U-AN360-3 Możliwość obrotu kierunku polaryzacji
11 U-AN360P-2 Możliwość obrotu kierunku polaryzacji o wysokiej jakości
12 U-PO3 Stały kierunek polaryzacji
13 U-POTP3 Stały kierunek polaryzacji, do użytku z U-DICRH
14 45-IF546 Zielony filtr ø45 mm do obserwacji w świetle spolaryzowanym

IR

15 U-AN360IR Możliwość obrotu kierunku polaryzacji IR (ograniczenie halacji przy obserwacji IR w przypadku stosowania w połączeniu z produktami U-AN360IR i U-POIR)
16 U-POIR Stały kierunek polaryzacji IR
17 U-BP1100IR Filtr pasmowoprzepustowy: 1100 nm
18 U-BP1200IR Filtr pasmowoprzepustowy: 1200 nm

Światło przechodzące

19 43IF550-W45 Zielony filtr ø45 mm
20 U-POT Filtr polaryzatora

Inne

22 U-25 Pusty filtr, do użytku z filtrami ø25 mm użytkownika

*W przypadku stosowania produktów BX3M-RLAS-S i U-FDICR filtry AN i PO nie są wymagane

Kondensory

Kondensory zbierają i skupiają światło przechodzące. Są używane do obserwacji w świetle przechodzącym.

1 U-AC2 Kondensor Abbego (dostępny dla obiektywów o powiększeniu od 5x)
2 U-SC3 Kondensor wychylny (dostępny dla obiektywów o powiększeniu od 1,25x)
3 U-LWCD Kondensor o dużej odległości roboczej dla płytki szklanej
 (U-MSSPG, U-SPG64)
4 U-POC-2 Kondensor wychylny do obserwacji w świetle spolaryzowanym
Kondensory

Zespoły zwierciadeł

Zespół zwierciadeł dla systemu BX3M-URAS-S. Należy dobrać zespół do specyfiki obserwacji.

1 U-FBF Do BF, odłączany filtr ND
2 U-FDF Do DF
3 U-FDICR Do POL, stałe warunki przejścia przez nikol
4 U-FBFL Do BF, wbudowany filtr ND (konieczne jest stosowanie zarówno BF*, jak i FL) 
5 U-FWUS Do fluorescencji w świetle UV: BP330-385 BA420 DM400
6 U-FWBS Do fluorescencji niebieskiej: BP460-490 BA520IF DM500
7 U-FWGS Do fluorescencji zielonej: BP510-550 BA590 DM570
8 U-FF Pusty zespół zwierciadeł

*Wyłącznie do współosiowego episkopowego oświetlenia

Zespoły zwierciadeł

Nasadki pośrednie

Różne typy akcesoriów przeznaczone do różnych zastosowań. Do użytku między nasadką obserwacyjną a oświetlaczem.

1 U-CA Zmieniacz powiększenia (1X, 1,25X, 1,6X, 2X)
2 U-TRU Trinokularowa jednostka pośrednia
Nasadki pośrednie

Obiektywy UIS2

Obiektywy powiększają próbkę. Należy wybrać obiektyw dopasowany do odległości roboczej, zdolności rozdzielczej i metody obserwacji właściwej dla danego zastosowania.

Kliknij tutaj, aby uzyskać szczegółowe informacje na temat soczewek obiektywów UIS2

Sorry, this page is not available in your country

Let us know what you're looking for by filling out the form below.

Drukuj
Cancel
Sorry, this page is not available in your country