Opis
6 metod obserwacji i zaawansowane funkcje pomiaroweNajbardziej zaawansowany model DSX1000 |  |
|---|
Szybkie przechwytywanie obrazów 3D o wysokiej rozdzielczości
|
|---|
 | Pełna kontrola nad kątem obserwacji
|
|---|
Szybka analiza za pomocą wielofunkcyjnej konsoli
|  |
|---|
 | Wysoka wiarygodność wyników dzięki gwarantowanej* dokładności i precyzji
*W celu zagwarantowania dokładności XY prace kalibracyjne muszą być wykonywane przez technika serwisu firmy Olympus. |
|---|
5 zalet serii DSX1000 mikroskopów cyfrowych w porównaniu z konwencjonalnymi mikroskopami cyfrowymi
|
Powrót do mikroskopów cyfrowych
Modele
Gama mikroskopów cyfrowych DSX1000Mikroskopy z serii DSX1000 — od modelu podstawowego po najbardziej zaawansowany — odpowiadają na różne potrzeby w dziedzinie obserwacji.
|
Zobacz pełne tabele danych technicznych
Obiektywy DSX1000Gama 17 obiektywów, w tym obiektywów o wyjątkowo dużej odległości roboczej i dużej aperturze numerycznej, zapewnia elastyczność w uzyskiwaniu różnorodnych obrazów.
|
Powrót do mikroskopów cyfrowych
Specifications
Dane techniczne DSX1000 |
| DSX10-SZH | DSX10-UZH | |||
| Układ optyczny | Układ optyczny | Telecentryczny układ optyczny | ||
| Zoom | 10X (ruch zmotoryzowany) | |||
| Metoda zmiany zoomu | Ruch zmotoryzowany | |||
| Kalibracja | Automatyczna | |||
| Przystawki obiektywu | Szybko wymienialne, kodowane przystawki obiektywu automatycznie aktualizują informacje o powiększeniu i polu obserwacji | |||
|
Maksymalne powiększenie całkowite
(na monitorze) | 7000X | |||
| Odległość robocza (W.D.) | 66,1 mm – 0,35 mm | |||
| Dokładność (płaszczyzna X-Y) | Dokładność*1 | ±3% | ||
| Powtarzalność 3σ n-1 | 2% | |||
| Dokładność(oś Z)*2 | Powtarzalność σ n-1 | 1 μm | ||
| Kamera | Matryca obrazująca | 1/1,2 cala, 2,35 miliona pikseli, kolorowa CMOS | ||
| Chłodzenie | Za pomocą ogniwa Peltiera | |||
| Częstość klatek | 60 kl./s (maksymalnie) | |||
| Standard | 1200 × 1200 (1:1) / 1600 × 1200 (4:3) | |||
| Tryb 3CMOS | Niedostępny | 1200 × 1200 (1:1) / 1600 × 1200 (4:3) | ||
| Tryb 3CMOS x funkcja pixel shift | Niedostępny | 3600 × 3600 (1:1) / 4800 × 3600 (4:3) | ||
| Oświetlenie | Źródło światła kolorowego | LED | ||
| Trwałość użytkowa | 60 000 h (wartość projektowa) | |||
| Obserwacja | BF (jasne pole) | Standard | ||
| OBQ (ukośna) | Standard | |||
| DF (ciemne pole) |
Standard
Pierścień LED podzielony na cztery segmenty | |||
| MIX (jasne i ciemne pole) |
Standard
Jednoczesna obserwacja BF + DF | |||
| PO (polaryzacja) | Standard | |||
| DIC (kontrast różnicowo-interferencyjny) | Niedostępny | Standard | ||
| Zwiększenie kontrastu | Standard | |||
| Zwiększenie głębi ostrości | Niedostępny | Standard | ||
| Światło przechodzące | Standard*3 | |||
| Regulacja ostrości | Ogniskowanie | Ruch zmotoryzowany | ||
| Zakres ruchu | 101 mm (ruch zmotoryzowany) | |||
*1 Wymagana jest kalibracja przez serwis firmy Olympus lub dealera. W celu zagwarantowania dokładności XY wymagana jest kalibracja za pomocą DSX-CALS-HR (próbka kalibracyjna). Aby możliwe było wystawianie certyfikatów, konieczne jest wykonanie kalibracji przez technika serwisu firmy Olympus.
*2 W przypadku użycia obiektywu 20X lub z wyższym powiększeniem.
*3 Wymagany jest opcjonalny element DSX10-ILT.
| Obiektyw | DSX10-SXLOB | DSX10-XLOB | UIS2 | |
| Soczewka obiektywu | Maksymalna wysokość próbki | 50 mm | 115 mm | 145 mm |
|
Maksymalna wysokość próbki
(do obserwacji pod dowolnym kątem) | 50 mm | |||
| Odległość parafokalna | 140 mm | 75 mm | 45 mm | |
| Przystawki obiektywu | Zintegrowane z obiektywem | Dostępne | ||
| Powiększenie całkowite | 20X–1400X | 42X–5600X | 23X*4–7000X | |
| Rzeczywiste pole obserwacji (μm) | 19 200 µｍ–270 µｍ | 9 100 µｍ–70 µｍ | 17 100 µｍ–50 µｍ | |
| Adapter | Adapter rozproszeniowy (opcja) | Dostępny | Niedostępny | |
| Adapter eliminujący odblaski (opcja) | Dostępny | Niedostępny | ||
| Przystawki obiektywu | Liczba obiektywów możliwa do podłączenia |
Maks. 1 sztuka
(przystawka jest zintegrowana z soczewką) | Maks. 2 sztuki | |
| Etui na obiektyw | Mieści trzy przystawki obiektywu | |||
*4 Całkowite (maksymalne) powiększenie w przypadku używania MPLFLN1.25X
| Stolik | DSX10-RMTS | DSX10-MTS | U-SIC4R2 |
| Stolik XY: zmotoryzowany / ręczny | Ruch zmotoryzowany (z funkcją obrotu) | Ruch zmotoryzowany | Ruch ręczny |
| Zakresy ruchu XY |
W trybie priorytetu dla ruchu liniowego: 100 mm × 100 mm
W trybie priorytetu dla obrotu: 50 mm × 50 mm | 100 mm × 100 mm | 100 mm × 105 mm |
| Kąt obrotu |
W trybie priorytetu dla ruchu liniowego: ±20°
W trybie priorytetu dla obrotu: ±90° | Niedostępny | |
| Wyświetlanie kąta obrotu | W graficznym interfejsie użytkownika | Niedostępne | |
| Maksymalne obciążenie | 5 kg (11 funtów) | 1 kg (2,2 funta) | |
| Rama | DSX-UF | DSX-TF |
| Zakres ruchu w osi Z | 50 mm (ruch ręczny) | |
| Obserwacja przy pochyleniu | Niedostępna | ±90° |
| Wyświetlanie kąta pochylenia | Niedostępne | W graficznym interfejsie użytkownika |
| Metoda zmiany kąta pochylenia | Niedostępna | Ręczna, uchwyt do unieruchamiania i zwalniania |
| Pomiar | Pomiar płaszczyzny |
| Pomiar profilu | |
| Pomiar kroku | |
| Pomiar powierzchni/objętości | |
| Analiza chropowatości linii | |
| Analiza chropowatości powierzchni | |
| Pomiar suwmiarką (opcja) | |
| Analiza cząstek (opcja) |
| Wyświetlacz | 23-calowy płaski wyświetlacz panelowy |
| Rozdzielczość | 1920 (pozioma) × 1080 (pionowa) |
| Razem dla systemu | System z ramą pionową | System z ramą pochylaną |
| Masa (rama, głowica, stolik zmotoryzowany, wyświetlacz i konsola) | 43,7 kg (96,3 funta) | 46,7 kg (103 funty) |
| Pobór mocy | 100–120 V/220–240 V, 1,1/0,54 A, 50/60 Hz | |
Powrót do mikroskopów cyfrowych
Zastosowania
Zastosowania systemu DSX1000 |
 | Inspekcja powierzchni klocka hamulcowego za pomocą mikroskopu cyfrowegoPowierzchnia klocka hamulcowego wpływa na jego cechy użytkowe, w tym siłę hamowania, stabilność termiczną, emisję hałasu i wytwarzanie ciepła. Mikroskopy cyfrowe są używane do sprawdzania, czy związki wykorzystane do produkcji klocka hamulcowego zostały prawidłowo wymieszane. |
|
|---|
 | Inspekcja połączeń drutowych za pomocą mikroskopu cyfrowegoMikroskopy cyfrowe są skutecznym narzędziem do analizy wad, takich jak pęknięcie drutu, odchylenia średnicy drutu, złuszczenie spoiny i przemieszczenie drutu, które mogą wystąpić podczas procesu wytwarzania połączeń. |
|
|---|
Przemysł motoryzacyjny |
Elektronika |
Części metalowe/formowane poddane obróbce |
Przemysł chemiczny/materiały, szkło i ceramika |
Inne |
Powrót do mikroskopów cyfrowych
Multimedia
Uwagi dotyczące aplikacjiFilmySeminaria internetoweBroszuryInstrukcje obsługiBooksBlog |
