Amostra de Wafer
Aplicação
Quando a observação microscópica do padrão de circuitos e da cor de uma amostra de wafer é necessária, o método convencional requer uma iluminação de campo escuro para o primeiro e uma iluminação de campo claro para o último, com alternação repetida entre as duas técnicas. Esse método de observação é demorado, pois é necessário adquirir uma imagem para cada técnica ao criar um relatório.
A solução da Olympus
Os microscópios industriais MX63/MX63L para inspeção de FPD/semicondutor oferecem uma alternativa eficiente para os métodos de observação convencionais: a função de iluminação MIX. Com a iluminação MIX é possível observar padrões de circuitos e informações sobre a cor de wafers simultaneamente. A nitidez e a clareza da imagem MIX ajudam a melhorar a eficiência do trabalho e a elaboração de relatórios.
Características dos produtos
- Fluxo de trabalho simplificado
Os microscópios MX63/MX63L estão equipados com funções que facilitam o fluxo de trabalho de inspeção do início até o fim, e com um nível de desempenho igualmente eficiente em ambientes de sala limpa. - Fácil de usar
As configurações dos microscópios MX63/MX63L são fáceis de ajustar devido às funcionalidades de assistência de foco, intensidade de luz e controle de abertura. A operação simplificada dos microscópios MX63/MX63L permite que até os operadores menos experientes realizem inspeções em condições adequadas de observação. - Tecnologia de formação de imagem avançada
Desenvolvidos com base em décadas de experiência em óptica, os microscópios MX63/MX63L fornecem imagens claras e nítidas para ajudar a garantir resultados de medição confiáveis. - Modularidade
O design modular dos microscópios MX63/MX63L permite que os usuários escolham componentes ópticos de uma vasta gama para adequá-los às suas necessidades específicas da aplicação. É possível criar o sistema desejado sem custos de investimento exorbitantes.
Iluminação de campo claro: |
Iluminação de campo escuro: | ||
Iluminação MIX (iluminação de campo claro e de campo escuro):
os padrões de circuito e informações sobre a cor do wafer podem ser observados simultaneamente com nitidez e clareza.
