Avaliação de rugosidade em superfícies de cartões de memória

Medições em escala de mícrons com microscópio a laser

Cartão de memória

(1) Aplicação

Os cartões de memória variam em tamanho e são amplamente usados como mídia de armazenamento em câmeras digitais, telefones celulares, gravadores, etc. Os cartões são inseridos nos slots desses dispositivos e a rugosidade da superfície do cartão afeta a suavidade do encaixe. Como a rugosidade da superfície dos cartões influencia no valor comercial, é uma característica importante a ser medida durante o controle de qualidade. Realizar o controle de qualidade com testadores de rugosidade convencionais pode ter limitações de medição, pois esses testadores exigem contato com a superfície testada e normalmente medem apenas a altura (rugosidade) em um único movimento linear.

(2) Solução

O microscópio de varredura a laser LEXT OLS5000 3D, da Olympus, permite a medição de perfis tridimensionais de alta resolução e alta precisão sem contato com a superfície examinada. Ele permite que os usuários obtenham imagens claras e de alta resolução usando um sistema óptico confocal. O sistema usa parâmetros tridimensionais de rugosidade que atendem à norma ISO 25178, permitindo a avaliação da área superficial sem contato. Sua ampla avaliação da superfície é mais adequada para irregularidades aparentemente aleatórias e fornece mais informações de medição do que os testadores de rugosidade convencionais que medem uma única linha. O microscópio OLS5000 possui a função de platina automática padrão que facilita a aquisição de dados de múltiplos pontos na superfície, registrando coordenadas de medição e usando a função de costura de imagens.

Imagens