Capacidade além do convencionalLibere todo o potencial de uma inspeção de semicondutores automatizada com hardware e software para microscópio personalizados. |
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Os sistemas de microscópio para semicondutores MX63 e MX63L oferecem observações de qualidade para wafers de até 300 mm, monitores de tela plana, placas de circuito impresso e outras amostras grandes. Esses sistemas ergonômicos e fáceis de usar possuem um design modular para diversas aplicações. Para simplificar a sua inspeção, a série MX63 pode ser personalizada com:
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Personalize seu microscópio para semicondutores |
Completamente motorizadoDescubra as nossas platinas XY e eixo Z motorizados para uma inspeção de semicondutores automatizada. |
Formação de imagem aprimoradaUse luz IV transmitida para inspeção através de amostras de silício, como inspeção de danos em chips e detecção de curto-circuito. |
Suportes para amostra personalizadosEscolha entre uma variedade de suportes para amostra que podem ser personalizados para aplicações específicas. |
Software personalizado para otimizar seus fluxos de trabalho de inspeçãoMaximize todas as vantagens de uma platina motorizada com soluções de software personalizadas. O nosso software PRECiV™ pode ser personalizado de acordo com o seu fluxo de trabalho específico. |
Por exemplo, a solução personalizada de Navegação no wafer oferece um fluxo de trabalho de medição multiposição. Assista ao vídeo para saber como essa solução define o layout do wafer e navega para vários pontos no wafer para a formação de imagem. |
Entre em contato conosco para conversar sobre os seus requisitos |