Fale conosco
Fale conosco
Produtos
▾
Soluções em END
▾
Detectores de defeitos
▾
Detectores de defeitos portáteis ultrassônicos
Equipamentos de ultrassom Phased Array
Equipamentos de correntes parasitas
Produtos de correntes parasitas multielementos
Detector de defeitos para compósitos
Medidores portáteis de espessura
▾
72DL PLUS
39DL PLUS
45MG
Magna-Mike 8600
27MG
35RDC
Transdutores e acessórios
Transdutores e sondas
▾
Transdutores de elemento único e duplo
Sondas de correntes parasitas
Sondas para inspeção de tubos
Sondas Phased Array
Sondas BondMaster
Sistemas de inspeção automatizados
▾
Sistema de inspeção de rodas
Sistema de inspeção de rodeiro (PASAWIS)
Soluções de inspeção de barras
Sistemas para inspeção de tubos
Sistema de inspeção de solda por fricção
Inspeção de soldas circunferenciais de tubulações
Instrumentação de sistemas de END
▾
FOCUS PX/PC/SDK
QuickScan
QuickScan iX ECA
QuickScan iX PA+
Escâneres industriais de END
▾
Escâneres para inspeção de solda
Escâneres para inspeção de corrosão
Escâneres para inspeção aeroespacial
Acessórios para escâner
Evident Connect
▾
X3 RCS
Inspection Project Manager (IPM)
Software
▾
Software WeldSight™
Software TomoView
Software NDT SetupBuilder
OmniScan MX2 and SX Software
Software OmniPC 4
ScanPlan Software
AeroView™ Software
Analisadores por XRF
▾
Analisadores portáteis por XRF
▾
Vanta Max e Vanta Core
Vanta Element
Analisadores por XRF portáteis e compactos
▾
Vanta™ GX
Analisadores de fluorescência de raios X integrados à linha de produção
Soluções OEM
▾
X-STREAM
Aplicações e soluções estratégicas
Evident Connect
▾
Vanta Data Viewer
Soluções em microscopia
▾
Microscópios confocais a laser
▾
OLS5100
ISO/IEC 17025校正認定ソリューション
表面粗さ測定ポータル
Microscópios digitais
▾
Microscópios digitais
ISO/IEC 17025校正認定ソリューション
Microscópios de medição
▾
STM7
STM7-BSW
Inspetor de limpeza
▾
CIX100
Microscópios de luz
▾
Microscópios verticais
Microscópios invertidos
Microscópios modulares
Microscópios para inspeção de semicondutores e painéis de display planos
▾
MX63/MX63L
AL120
AL120-12
Microscópios de AR
▾
SZX-AR1
Microscópios estereoscópicos
▾
SZX16
SZX10
SZX7
SZ61/SZ51
Câmeras digitais
▾
DP75
DP28
SC180
DP23
LC35
DP23M
Software de análise de imagem
▾
PRECiV
Stream Enterprise
Micro-espectrofotometro
▾
USPM-RU-W
Lentes objetivas de microscópio para a indústria
▾
MPLAPON
MPLAPON-Oil
MXPLFLN
MXPLFLN-BD
MPLN
MPLN-BD
MPLFLN
MPLFLN-BD
LMPLFLN
LMPLFLN-BD
SLMPLN
LCPLFLN-LCD
LMPLN-IR/LCPLN-IR
Objetiva de interferometria de luz branca
Micrômetro
Componentes de microscópios OEM para integração
Perguntas frequentes sobre microscópios
Soluções customizadas
Soluções customizadas
Videoscópios e boroscópios
▾
Videoscópios industriais
▾
IPLEX NX
IPLEX GAir
IPLEX GX/GT
IPLEX G Lite e IPLEX G Lite-W
IPLEX TX II
Solução de sonda longa IPLEX
Boroscópios de vídeo para inspeção de turbinas eólicas
Boroscópios para inspeção de aeronaves
Video Borescopes for Automotive Engine Inspection
Fibroscópios
▾
Fibroscópios de pequeno diâmetro
Ferramenta de giro digital Sweeney
Software de vídeo
▾
InHelp
Software de Modelagem tridimensional 3DAssist
Fontes de luz
Evident Connect
▾
ViSOL
Indústrias
Recursos
Aprendizagem
Blog
Suporte
▾
Fale conosco
Consultation Reception about Introduction
Serviço ao cliente
XRF and XRD Technical Support
Service Solutions
▾
Overview
Centros de serviço
Soluções de financiamento personalizadas
Olympus Scientific Cloud
Baixar software
User Manuals
Certificações ISO
Fichas técnicas de MSDS
Ethics And Corporate Compliance
Informações sobre os produtos
Product Service Termination List
Produtos descontinuados e obsoletos
▾
MultiScan MS5800 para inspeção de tubos
▾
Software Multiview
Software TubePro
CIC
Evident Technolab
Microscope Classroom
EVIDENT Modern Slavery Act Statement
APAC Technology Center
▾
Overview
Automated Multi-Element XRF Analysis
▾
Overview
Microscope Inspection System
▾
Overview
Bolt Inspection Scanner
▾
Overview
Simplified Data Transfer and Management
▾
Overview
Rentals
Loja
Careers
What is EVIDENT?
Buscar
My Account
IMS Log in
App Marketplace
Connected Devices
My Apps
My Data
My Organization
Evident Connect Log in
Evident Connect Log in
Log Out
Log Out
English (English)
|
日本語 (Japanese)
|
français (French)
|
简体中文 (Simplified Chinese)
|
Deutsch (German)
|
italiano (Italian)
|
čeština (Czech)
|
Español (Spanish)
|
русский (Russian)
|
polski (Polish)
|
português (Portuguese)
|
한국어 (Korean)
Soluções industriais
Carreiras
Carreiras
Comunicados
Notícias principais
Página principal
/
Comunicados
2024
|
2023
|
2022
|
2021
|
2020
|
2019
|
2018
|
2017
|
2016
|
2015
|
2014
|
2013
|
2012
|
2011
|
2009
Títulos
23
Out
Our new OmniScan X4 flaw detector, the latest evolution in our OmniScan line, provides inspectors with multiple ultrasonic technologies and powerful imaging capabilities that enable fast and accurate detection of challenging damage mechanisms. Learn more in the press release.
24
Jun
O novo medidor de espessura ultrassônico 39DL PLUS™ redefine a eficiência no setor de END com velocidades de escaneamento ultrarrápidas e conectividade sem fio totalmente integrada em um design portátil e robusto. Saiba mais no comunicado de imprensa.
21
Jun
Important Announcement for the SZ-FLR ESD Fluorescent Ring Illuminator for Stereo Zoom Microscopes Users
16
Jun
Evident, a global leader in microscopy solutions, announces a strategic partnership with Connecticut Center for Advanced Technology, Inc. (CCAT), a trailblazer in applied technology and training.
30
Mai
Erika Taira da JASCO conversa sobre uma tecnologia fundamental para análise Raman: as objetivas de imersão em água. Veja como essas objetivas ajudam na análise de margarina e outros produtos alimentares.
13
Mai
Explore the future of nondestructive testing at WCNDT, May 27–31 in South Korea! Exclusive Sponsor of this year’s event, we’ve organized presentations offering insights on industry-shaping innovations. Find out more in this press release.
23
Abr
O software PRECiV DSX redefine a confiabilidade, a precisão e a facilidade de uso dos microscópios digitais DSX1000. Leia o comunicado de imprensa para saber mais.
11
Abr
A EEMCO, um fabricante de materiais de carboneto de silício (SiC), simplificou sua análise de imagens de wafers de SiC decapados usando nosso software personalizado com recursos de IA. Veja como essa colaboração tornou a detecção de defeitos nos wafers mais eficiente.
04
Mar
Facilite as inspeções de soldas e corrosão de peças com alta temperatura e difíceis de alcançar com os nossos escâneres reprojetados MapROVER™ e SteerROVER™. Leia sobre os novos recursos e aprimoramentos dos escâneres neste comunicado de imprensa.
01
Mar
Por ser um elemento controlado, o cobalto representa um desafio de controle de qualidade para os fornecedores de peças médicas. Saiba como a XRF pode ajudar a cumprir as normas de conformidade.
26
Fev
A inspeção de soldas circunferenciais durante a construção de tubulações costuma acontecer sob condições extremas. O sistema PipeWIZARD™ iX de AUT foi otimizado para facilitar essa aplicação desafiadora. Leia o comunicado de imprensa.
01
Fev
O videoscópio IPLEX TX II ultrafino combina a versatilidade de uma sonda flexível de 2,2 mm de diâmetro com uma sonda rígida ultrafina de 1,8 mm em um único pacote. Com melhor durabilidade, maneabilidade, iluminação e qualidade de imagem, o IPLEX TX II oferece melhor formação de imagem em espaços pequenos. Leia sobre todas as melhorias no comunicado de imprensa.
31
Jan
Transforme seus relatórios de inspeção RVI em análises dinâmicas e aprofundadas com nosso novo software de modelagem 3D 3DAssist para boroscópios de vídeo IPLEX. Saiba mais!
25
Jan
A Evident doa três milhões de ienes japoneses para apoiar os esforços de socorro ao terremoto da Península de Noto, no Japão.
17
Jan
Nossa próxima geração de analisadores portáteis por XRF Vanta™, Vanta Max e Vanta Core, combinam desempenho com conforto para maximizar a eficiência para profissionais de campo e laboratório. Saiba mais no comunicado de imprensa.
Desculpe, esta página não está disponível no seu país
Diga-nos o que você está procurando preenchendo o formulário abaixo.
Fale conosco
Inscreva-se para receber os boletins informativos
Social News
Olympus IMS
Página principal
/
Comunicados
Imprimir
Search
Cancel
Redirecting
You are being redirected to our local site.
Attention: Please enable JavaScript
Desculpe, esta página não está disponível no seu país