Nossas soluções para inspeção de barras de END empregam tecnologias de phased array ultrassônico, correntes parasitas multielementos e fluorescência de raios X para testar se há falhas nos materiais e determinar a composição.
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O analisador por fluorescência de raios X (XRF) em linha Vanta iX permite que você tenha confiança nos seus produtos, automatizando a análise de material e identificação de liga na linha de fabricação. Construído para operar 24 horas por dia em ambientes industriais, o sistema oferece resultados instantâneos para inspeção completa e controle de qualidade contínuo.
O sistema BIS PA usa tecnologia Phased Array para inspeção do volume total de barras circulares e quadradas. O sistema é baseado no conceito exclusivo de “cabeçote flutuante” para posicionamento ideal e constante de sondas, se adaptando às variações de linearidade das barras.
O RBIS combina as tecnologias de Phased Array e de correntes parasitas multielementos para inspecionar todo o volume e a superfície de grandes barras redondas; chamadas de lingotes. A inspeção é realizada durante a rotação do lingote e o movimento linear do suporte de transporte do cabeçote de inspeção.
O sistema de inspeção de barras (BIS) utiliza tecnologia de correntes parasitas multielementos (ECA, sigla em inglês) para inspecionar barras redondas e quadradas. Os atuadores do sistema adaptam automaticamente as posições da sonda de correntes de parasitas multielementos ao formato e ao tamanho do produto e acomodam qualquer irregularidade da superfície. Sapatas de revestimento robusto protegem as sondas contra choques e atrito.
9 razões para automatizar a análise de materiais com o analisador por XRF em linha Vanta™ iXO analisador por fluorescência de raios X (XRF) em linha Vanta iX é ideal para automatizar a análise de material e identificação de liga (ID) na linha de fabricação. Saiba mais aqui. | |
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O analisador por XRF em linha Vanta™ iX para análise de materiais e identificação de ligas automatizadas | |
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