O software de suporte de medição STM7-BSW para microscópios de medição ajuda a tornar suas inspeções mais eficientes. Você pode capturar e exibir imagens, fazer observações e medições e criar relatórios, tudo a partir da mesma tela.

• Medições mais precisas, rápidas e simples de amostras complexas
• Capture imagens extremamente nítidas para medição de alta precisão com uma linha completa de câmeras
• Posicione a amostra e comece a medir – não é necessário alinhamento paralelo
• Grave procedimentos de medição repetida
• Funções convenientes eliminam a subjetividade da medição
• Geração de relatórios personalizável
• Funções de aquisição avançadas

Meça amostras complexas com rapidez e precisão

Ver a exibição de saída do seu microscópio de medição com nitidez e facilidade é essencial. Este software foi criado para fazer exatamente isso, ajudando a realizar medições complexas com grande precisão. O software também permite que você se beneficie de câmeras digitais para microscópio.

Exemplo da interface do STM7-BSW

Capture imagens extremamente nítidas com nossas câmeras digitais para microscópio

Alto desempenho com exibição em tempo real

Excelente valor com uma ótima relação custo/desempenho

Posicione a amostra e comece a medir – não é necessário alinhamento paralelo

Eixo original	Eixo novo

Medição do plano XZ

Os microscópios de medição convencionais medem o plano XY diretamente de cima. Contudo, em resposta à demanda dos usuários, incorporamos uma função de medição do plano XZ no STM7-BSW para possibilitar a medição de seções transversais conforme a vista lateral. Agora as medições que costumavam ser difíceis são muito mais fáceis, como as medições de raios para seções verticais de objetos hemisféricos ou a medição de profundidades de sulcos com bases curvas em comparação com uma linha de referência.

Medição R de uma amostra hemisférica

Medições de altura de um sulco da sua base à linha de referência

Grave os procedimentos de medição usados regularmente

Registro de macro

Os alinhamentos e outros procedimentos de medição usados frequentemente podem ser combinados e atribuídos a um único botão de macro, eliminando a necessidade de começar do zero todas as vezes que o microscópio é configurado.

Medição repetida 

As medições podem ser repetidas facilmente com base em um processo de trabalho gravado bastando inserir o movimento da platina e as coordenadas quando o software solicitar. Esta função pode ser usada para realizar a mesma medição repetidamente na mesma amostra ou em diferentes versões da mesma amostra. Além disso, se um determinado valor e tolerância estiverem definidos no processo de trabalho gravado, o software poderá identificar automaticamente quando uma medição tiver falhado.

Navegação do ponto de medição para medição repetida

Esta função exibe a direção e a distância até o próximo ponto de medição, ajudando a minimizar qualquer confusão por parte do operador. A função também elimina a necessidade de sempre verificar o próximo ponto de medição no diagrama, acelerando o processo de trabalho por meio de uma série de medições repetidas.

Funções convenientes eliminam a subjetividade da medição

Detecção automática de bordas

Esta função detecta as bordas da amostra e captura e mede automaticamente as suas coordenadas. Como resultado, você não precisa mais determinar as coordenadas, minimizando a subjetividade. A detecção automática de bordas também apresenta um temporizador que permite a aquisição de coordenadas em um tempo especificado e é compatível com o uso de um pedal interruptor, que permite que o operador se concentre nas operações de medição sem precisar tirar as mãos das pegas da platina.

Detecção automática de bordas dentro do círculo

Detecção automática de bordas de diversos pontos

Eliminação de ponto anômalo

Saliências de metal e outros pontos anômalos podem ser automaticamente excluídos durante a detecção de bordas. Isso permite um cálculo consistente dos valores medidos, independentemente do estado da amostra. Os pontos excluídos como anômalos também podem ser exibidos na tela em cores diferentes.

Amostra com ponto anômalo

Eliminação de ponto anômalo

Controle da iluminação 

A intensidade de luz do microscópio pode ser mantida através de um software de controle preciso. As configurações de intensidade de luz também podem ser salvas ao gravar um processo de trabalho para medição repetida, permitindo que as medições sejam realizadas sob as mesmas condições durante a repetição ou a detecção automática de bordas.

Reconhecimento automático do aumento (opcional, somente com configuração de revólver porta-objetivas giratório codificado)

Usando o revólver porta-objetivas giratório codificado, os valores de calibração definidos anteriormente são recuperados automaticamente ao mudar a objetiva. Isso permite que você tenha certeza de que a escala adequada está sendo exibida.

Funções de aquisição avançadas

Alinhamento de múltiplas imagens (MIA - Multiple Image Alignment) (opcional)

Organize múltiplas imagens lado a lado para capturar uma única imagem com grande aumento em uma área ampla. As imagens são organizadas lado a lado com base nos dados de coordenadas, por isso, o sistema é capaz de produzir imagens muito confiáveis.

Imagem focal estendida (EFI - Extend Focus Image) (opcional)

A função EFI é eficaz para obter imagens com bom foco ao longo do processo em amostras com superfície de forma irregular e complexa. Gere uma única imagem com pontos focais alinhados em todas as posições.
Processe múltiplas imagens com posições de pontos focais diferentes de forma fácil movendo o eixo Z ou use o modelo motorizado para uma composição de imagem automatizada.

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