Visão geral

Os microscópios Olympus BX61 foram desenvolvidos com base em tecnologias ópticas e de imagem inovadoras para abordar diversas aplicações de ciência dos materiais.

A Olympus se dedica a criar soluções de sistemas de microscópio para apoiar o seu trabalho em todos os níveis

Séries BX61TRF/BX-RLAA/U-AFA2M/DP

O BX61 foi projetado especialmente para funcionar com a unidade de foco automático a laser da Olympus. Com foco preciso e rastreamento ativo, os usuários podem acelerar as suas inspeções de rotina. É possível definir configurações adicionais, como o nível de iluminação, a seleção da lente e a configuração de abertura, usando os botões de ação na estativa do microscópio, um teclado numérico ou através do PC. Uma variedade de módulos motorizados incluindo porta-objetivas e iluminadores estão disponíveis para fornecer toda a flexibilidade para configurar o seu sistema.

Clareza de imagem excelente e resolução incrível

Escolha entre uma variedade de lentes objetivas para personalizar o seu sistema

A Olympus oferece uma variedade de lentes objetivas adequadas para todas as técnicas de observação. Você pode selecionar a lente certa para a sua aplicação a partir de uma linha de mais de 150 lentes objetivas. A fidelidade de cores é importante para inspeções precisas e eficientes. A série de lentes objetivas UIS2 apresenta uma reprodução de cor natural através da combinação de um vidro de alta transmitância e da tecnologia de revestimento avançada criteriosamente selecionados.

Exemplos de imagens de observação

Cabeçote magnético (campo claro)

DVD (campo claro)

Wafer (fluorescência)

Filtro de cores (transmitida)

Uma linha diversa oferece opções de acordo com a finalidade
MPLAPON	Série de lentes objetivas planacromáticas
MPLFLN	Série de lentes objetivas semiapocromáticas para campo claro
MPLFLN-BD	Série de lentes objetivas semiapocromáticas para campo claro e campo escuro
MPLFLN-BDP	Série de lentes objetivas semiapocromáticas para campo claro, campo escuro e contraste de fase
LMPLFLN	Série de lentes objetivas semiapocromáticas com DT longa para campo claro
LMPLFLN-BD	Série de lentes objetivas semiapocromáticas com DT longa para campo claro e campo escuro
MPLN	Série de lentes objetivas planacromáticas para campo claro
MPLN-BD	Série de lentes objetivas planacromáticas para campo claro e campo escuro
SLMPLN	Série de lentes objetivas planacromáticas com DT superlonga
LCPLFLN-LCD	Série de lentes objetivas semiapocromáticas com DT longa para LCD
LMPLN-IR/LCPLN-IR	Série de lentes objetivas planacromáticas com DT longa para luz infravermelha próxima

> Clique aqui para obter detalhes sobre as lentes objetivas UIS2

Soluções de software

Criadas para funcionar facilmente com câmeras digitais e software de análise de imagem

A nossa linha completa de câmeras digitais oferece visualização de alta resolução e transferência rápida de imagens ao passo que o nosso Software de análise de imagem avançada OLYMPUS capacita os usuários e fornece todas as ferramentas necessárias para os requisitos metalúrgicos atuais mais complexos. Escolha entre módulos para aplicações específicas de Medições estendidas, Metalografia padrão e Metalografia avançada (mais de uma dúzia de rotinas para aplicações específicas) e preencha os dados e crie relatórios automaticamente em conformidade com as especificações ASTM e ISO mais populares, tudo isso com somente alguns cliques.

> Clique aqui para ver a linha de câmeras digitais da Olympus

> Clique aqui para ver a linha de opções de software da Olympus

Especificações

Sistema óptico	Sistema óptico UIS2 (infinito corrigido)
Estativa do microscópio > Iluminação	Refletida/transmitida
Estativa do microscópio > Iluminação	Fonte de luz externa de 12 V 100 W Comutador predefinido de luz Indicador de tensão LED Comutador de luz refletida/transmitida
Estativa do microscópio > foco	Focalização motorizada Curso de 25 mm Graduação mínima 0,01 μm
Estativa do microscópio > altura máxima do espécime	25 mm (sem espaçador)
Tubos de observação > campo amplo (FN 22)	Invertido: binocular, trinocular, binocular inclinado Vertical: trinocular, binocular inclinado
Tubos de observação > super campo amplo (FN 26,5)	Invertido: trinocular Vertical: trinocular, trinocular inclinado
Iluminação com luz refletida > BF, etc.	BX-RLAA Comutação BF/DF motorizada AS motorizado
Iluminação com luz refletida > fluorescência refletida	BX-RFAA Torre motorizada de 6 posições Obturador motorizado integrado Com FS, AS
Luz transmitida	Halogênio de 100 W Condensadores Abbe/de longa distância de trabalho Filtros de luz transmitida integrados (LBD, ND25, ND6)
Porta-objetivas giratória > para BF	Sêxtupla motorizada
Porta-objetivas giratória > para BF/DF	Quíntupla motorizada, sêxtupla motorizada, quíntupla com centralização
Platinas	Platina com pega esquerda (direita) coaxial: 76 (X) x 52 (Y) mm, com ajuste de torque Platina com pega esquerda (direita) coaxial grande: 100 (X) × 105 (Y) mm, com mecanismo de bloqueio no eixo Y
Dimensões	Aprox. 318 (L) x 602 (P) x 541 (A) mm
Peso	Aprox. 25,5 kg (Estativa do microscópio, 11,4 kg)

Galeria de fotos por aplicação

Obtenha a imagem que você deseja com o BX61

Campo escuro

Superfície da placa de montagem

O campo escuro permite a observação da luz dispersa ou difratada do espécime. A luz da lâmpada se desloca através da óptica da iluminação em forma de anel no iluminador e é focada no espécime. A luz do espécime é refletida somente pelas imperfeições no eixo Z. O usuário pode identificar a existência de arranhões e defeitos ínfimos de até 8 nm – menor que o limite do poder de resolução de um microscópio óptico. O campo escuro é ideal para detectar arranhões e defeitos ínfimos em um espécime e para examinar espécimes com superfície espelhada, incluindo wafers.

Luz polarizada

Amianto

Esta técnica de observação microscópica usa a luz polarizada gerada por um conjunto de filtros (analisador e polarizador). As características da amostra afetam diretamente a intensidade da luz refletida pelo sistema. Ela é adequada para estruturas metalúrgicas (ou seja, padrão de crescimento do grafite em ferro fundido nodular), minerais, LCDs e materiais semicondutores.

Contraste de interferência diferencial (DIC)

Cabeçote magnético

O DIC é uma técnica de observação microscópica em que a diferença da altura de um espécime não detectável com campo claro se torna uma imagem em relevo ou tridimensional com contraste melhorado. Esta técnica com base em luz polarizada pode ser ajustada às suas necessidades com uma escolha de três prismas especiais. Ela é ideal para examinar espécimes com diferenças de altura muito pequenas, incluindo estruturas metalúrgicas, minerais, cabeçotes magnéticos e mídias de disco rígido, bem como superfícies de wafer polidas.

Fluorescência

Partícula em wafer semicondutor

Esta técnica é usada para espécimes que fluorescem (emitem luz de um comprimento de onda diferente) quando iluminadas com um módulo de filtro especialmente projetado que pode ser personalizado para a sua aplicação. Ela é adequada para inspeção de contaminação em wafers semicondutores, resíduos fotorresistentes e para detecção de trincas por meio do uso de corante fluorescente. Um sistema de lente coletora de projeção de luz apocromática opcional pode ser adicionado para compensar as aberrações cromáticas da luz visível para a luz infravermelha próxima.

Observação de luz transmitida

Filtro de cores LCD

Para amostras transparentes como LCDs, materiais de plástico e de vidro, a observação de luz transmitida real está disponível usando uma variedade de condensadores de luz transmitida. Você pode analisar as suas amostras em campo claro, campo escuro, DIC e por imagem polarizada em luz transmitida em um único sistema conveniente.

BX61