Soluções em microscopia
MXPLFLN-BD
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Visão geral
| Usamos tecnologia de fabricação inovadora para criar lentes objetivas com abertura numérica, distância de trabalho e correção de aberração simultaneamente melhoradas. A abertura numérica (AN) alta e a distância de trabalho de 3 mm melhora o transporte da amostra, o que permite uma produtividade operacionais maior na inspeção automatizada de semicondutor. Estão disponíveis lentes 20X e 50X. |  |
Objetivas MX planas semiapocromáticas com abertura numérica alta e distância de trabalho longa – MXPLFLN-BD
- Concebidas para os métodos de observação de campo claro, campo escuro, contraste de interferência diferencial (DIC), fluorescência e luz polarizada simples
- Combina uma alta NA, distância de trabalho longa e nivelamento da imagem
- Disponíveis em ampliações de 20X e 50X com uma distância de trabalho de 3 mm
MXPLFLN50XBD
A MXPLFLN50XBD é nossa primeira objetiva de 50X com uma abertura numérica de 0,8 e uma distância de trabalho de 3 mm. Comparada à objetiva LMPLFLN100X, o intervalo de observação é quatro vezes maior graças à AN de 0,8 com ampliação a 50X.
MXPLFLN20XBD
A MXPLFLN20XBD é nossa primeira objetiva de 20X com uma abertura numérica de 0,55 e uma distância de trabalho de 3 mm. Sua alta NA e o alto nivelamento da imagem produzem imagens homogêneas, ideais para a união de imagens.
MXPLFLN20XBD
Especificações
| Ampliação [X] | 20 |
|---|---|
| Abertura numérica (AN) | 0,55 |
| Distância de trabalho (DT) [mm] | 3 |
| Número de campo da objetiva | 26,5 |
| Meio de imersão | Ar/a seco |
| Acionada por mola | N/A |
| Colar de correção | N/A |
| Alcance de correção do colar de correção | N/A |
| Íris | N/A |
| Grau de correção de aberração cromática | Semiapocromática (FL) |
| Distância parfocal [mm] | 45 |
| Posição de plano focal posterior (BFP) | -8.0 |
| Tipo de rosca | W26 × 0,706 |
| Campo claro (refletido) | Bom |
| Campo claro (transmitido) | Bom |
| Campo escuro (refletido) | Bom |
| Campo escuro (transmitido) | N/A |
| Contraste de interferência diferencial (DIC) [refletido] | Bom |
| Contraste de interferência diferencial (DIC) [transmitido] | N/A |
| Contraste de fase | N/A |
| Contraste de relevo | N/A |
| Luz polarizada | Limitação |
| Fluorescência (excitação B, G) | Bom |
| Fluorescência UV (a 365 nm) | N/A |
| Multifóton | N/A |
| Fluorescência de reflexão interna total (TIRF) | N/A |
| IV | N/A |
| Interferometria de luz branca (WLI) | N/A |
| Foco automático | Bom |
Transmitância/comprimento de onda
Dimensões
MXPLFLN50XBD
Especificações
| Ampliação [X] | 50 |
|---|---|
| Abertura numérica (AN) | 0,8 |
| Distância de trabalho (DT) [mm] | 3 |
| Número de campo da objetiva | 26,5 |
| Meio de imersão | Ar/a seco |
| Acionada por mola | N/A |
| Colar de correção | N/A |
| Alcance de correção do colar de correção | N/A |
| Íris | N/A |
| Grau de correção de aberração cromática | Semiapocromática (FL) |
| Distância parfocal [mm] | 45 |
| Posição de plano focal posterior (BFP) | -8.0 |
| Tipo de rosca | W26 × 0,706 |
| Campo claro (refletido) | Bom |
| Campo claro (transmitido) | Bom |
| Campo escuro (refletido) | Bom |
| Campo escuro (transmitido) | N/A |
| Contraste de interferência diferencial (DIC) [refletido] | Bom |
| Contraste de interferência diferencial (DIC) [transmitido] | N/A |
| Contraste de fase | N/A |
| Contraste de relevo | N/A |
| Luz polarizada | Limitação |
| Fluorescência (excitação B, G) | Bom |
| Fluorescência UV (a 365 nm) | Bom |
| Multifóton | N/A |
| Fluorescência de reflexão interna total (TIRF) | N/A |
| IV | N/A |
| Interferometria de luz branca (WLI) | N/A |
| Foco automático | Bom |
Transmitância/comprimento de onda
Dimensões
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