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Analisadores Vanta: perfilagem geológica com fluorescência de raios X portátil


Os analisadores por fluorescência de raios X (XRF) portáteis da Olympus fornecem excelente desempenho e dados geoquímicos em tempo real para caracterização multielementos de solos, rochas e minérios. Um dos maiores avanços na tecnologia de XRF portátil reduz significativamente o tempo de teste de análises, melhora substancialmente os limites de detecção e a quantidade de elementos medidos. Atualmente, os analisadores Vanta são utilizados diariamente na identificação de tipos de rochas usando litogeoquímica. Eles também são integrados em atividades de perfilagem geológica padrão (solos, farpas da broca e núcleo) pois os analisadores Vanta podem fornecer instantaneamente os dados químicos objetivos no próprio local da amostra. Esses dados podem ser usados para classificar e interpretar os tipos de rochas, alterações e mineralização simultaneamente ou antes da perfilagem visual de rotina.

Analisador portátil Vanta fornecendo dados do tipo de rocha e de alteração de perfilagem.
Analisador portátil Vanta fornecendo dados do tipo de rocha e de alteração de perfilagem.

Perfilagem geológica orientada por dados com XRF portátil

Com a perfilagem geológica, um geocientista faz observações visuais para analisar o tipo de rocha, alteração, estrutura e outras características de uma variedade de amostras, incluindo solo, lascas, rochas e núcleos. Normalmente, o geocientista utiliza uma tabela de perfilagem (registro geológico) para documentar as características visuais ou paramagnéticas incluindo cor, tamanho do grão, textura, orientações estruturais, estratificação, alteração, metamorfismo e transversalidade.

A perfilagem geológica é um recurso fundamental adquirido depois de vários anos de pesquisa teórica de rochas e coleção de sedimentos seguidos de anos de observação geológica em campo ou usando amostras de perfuração. Posteriormente, um geocientista se prepara para realizar pesquisas detalhadas sobre o registro do campo para analisar a complexidade e a variação geológica ao redor do mundo. Por isso, uma expressão que é usada com frequência na indústria de exploração mineral é: “O geólogo que vir mais rochas ganha!”

O XRF portátil e outras técnicas analíticas estão transformando o modo como conduzimos a perfilagem moderna e de rotina. A transmissão em tempo real das informações objetivas de perfilagem aos sistemas de informações geográficas (GIS, sigla em inglês), os sistemas de gerenciamento de informações geológicas (GIMS, sigla em inglês), a visualização tridimensional e os pacotes de modelagem estão revolucionando a indústria.

Sistema de gerenciamento de informação geológica (GIMS, sigla em inglês) exibindo em tempo real os dados geoquímicos em um analisador manual por XRF da Olympus
Sistema de gerenciamento de informação geológica (GIMS, sigla em inglês) exibindo em tempo real os dados geoquímicos em um analisador manual por XRF da Olympus

A perfilagem visual é subjetiva

O maior problema com a perfilagem geológica visual é que cada geólogo possui experiência, opinião e ideia diferente sobre as rochas que estão analisando. Essa situação causa dificuldades ao combinar os dados provenientes de vários geocientistas em um determinado projeto. O caráter subjetivo das observações visuais é demonstrado na figura 1 em que oito geólogos receberam a mesma sequência para analisar. Isso resultou em sete respostas diferentes (os geocientistas seis e sete copiaram o trabalho um do outro).

Figura 1. Observações de 8 geólogos com experiências diferentes da mesma sequência de rocha
Figura 1. Observações de 8 geólogos com experiências diferentes da mesma sequência de rocha

Os dados do teste laboratorial ficaram prontos bem depois que a extração geológica foi feita, causando uma desconexão importante entre as informações de perfilagem, as referências cruzadas e a validação geoquímica. Isso pode levar a decisões de fechamento de perfuração precárias e defasadas (continuar ou parar a perfuração) em campo que provoca a ociosidade da equipe de perfuração ou o deslocamento para um local diferente. É nesse ponto que a tecnologia de XRF portátil agrega um valor significativo fornecendo dados geoquímicos praticamente em tempo real.

A perfilagem geológica com o analisador portátil por XRF oferece muitas vantagens, o analisador portátil por difração de raios X TERRA® oferece:

  • Dados objetivos que podem correlacionar perfeitamente os locais ou as escavações
  • Auxílio para tipificação de rocha e identificação
  • Permite que o geocientista relacione as observações litológicas com a geoquímica
  • Tome decisões precisas quando tempo é uma preocupação importante (fechamento de perfuração ou prolongamentos)
  • A litogeoquímica e a geoquímica multivariada criteriosa pode ser aplicada para identificar unidades de rochas, alterações, controles estruturais e delimitações litológicas
  • Integra os dados em algoritmos ou até mesmo em rotinas de aprendizagem de máquina para automatizar o fluxo de trabalho
  • Os dados do XRD portátil podem complementar os dados do XRF portátil fornecendo mineralogia quantitativa
  • Os dados podem ser entregues, processados, traçados, plotados ou exibidos
  • Observação dos dados online em qualquer lugar do mundo

Como ocorre em qualquer tecnologia de análise, a fluorescência de raios X portátil exige sua aplicação adequada com a preparação e apresentação da amostra apropriada, o controle e garantia de qualidade e a cadeia de conservação do mesmo modo que os dados de um laboratório convencional.

A figura 2 (abaixo) mostra o tipo de dados que podem ser gerados com uma amostra de detritos de perfuração de diamante da mina de pirita de Brukunga e o trabalho de pesquisa conduzido pelo Deep Exploration Technologies Commonwealth Research Cooperative (DET CRC) na Austrália.

Figura 2. Diário digital de Brukunga 2 mostrando a geoquímica com XRF portátil e mineralogia por XRD portátil derivada de escavações
Figura 2. Diário digital de Brukunga 2 mostrando a geoquímica com XRF portátil e a mineralogia por XRD portátil derivada de escavações

A figura 3 mostra o potencial da utilização de algoritmos avançados (tesselação da transformada ondaleta em metal) para domínio dos recursos litológicos em três ordens de grandeza diferentes.

Figura 3. Tesselação da transformada ondaleta aplicada aos dados do XRF portátil de metal do fundo do poço em Brukunga, sul da Austrália
Figura 3. Tesselação da transformada ondaleta aplicada aos dados do XRF portátil de metal do fundo do poço em Brukunga, sul da Austrália


 

Para mais informações sobre os dados da figura 3, por favor, consulte os seguintes documentos: Uvarova, Cleverley Baensch. (2014). “Coupled XRF & XRD analyses for rapid and low-cost characterisation of geological materials in the mineral exploration and mining industry.” AAG Explore Newsletter # 162. Hill, Robertson Uvarova. (2015). “Multiscale hierarchical domaining and compression of drill hole data.” Computers & Geosciences 79, 47–57.

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Os analisadores portáteis por XRF da série Vanta™ são os nossos mais novos e possantes dispositivos portáteis por XRF, fornecem análise rápida e precisa de elementos para clientes que exigem resultados de qualidade laboratorial em campo. Os analisadores são resistentes, possuem classificação IP55 ou IP54, e são à prova de queda para aumentar o tempo de atividade e reduzir os custos de propriedade.
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