Austenítico, níquel e outras ligas de grãos grossos
Visão geral
Austenítico, níquel e outras ligas de grãos grossos
Materiais revestidos e resistentes à corrosão
Metais de ligas de soldas baseadas em níquel e austenítico e outros materiais anisotrópicos de grãos grossos afetam a propagação do ultrassom provocando distorção no feixe, na dispersão do feixe, nos modos de conversão e aumenta substancialmente a atenuação criando uma fraca relação de sinal-ruído (SNR) em comparação com as inspeções de ondas de cisalhamento de aços carbonos de baixa liga. Para inspecionar esses materiais é preciso usar sondas duplas de Phased Array com calços RL (longitudinalmente refratados) projetados para isolar acusticamente os feixes transmissor e receptor para melhorar a irregularidade da relação sinal-ruído e eliminar os ecos dos calços. Nossas sondas Dual Linear Array™ (DLA) e Dual Matrix Array™ (DMA) são usadas com calços removíveis para combinar diferentes técnicas de inspeção, como onda longitudinal direta, creeping wave, arredondamento de trajeto tandem (RTT) e outras técnicas multimodo em uma única imagem de S-scan Phased Array para inspeção volumétrica completa da solda. |  |
Sondas Dual Array (DMA/DLA)
As sondas Dual Array consistem de duas sondas Phased Array ligadas ao mesmo conector. Elas podem ser matriciais ou lineares. Uma sonda executa o rastreamento setorial, e os ecos que retornam dos defeitos são capturados usando a segunda onda.
A25 |
A27 |
A26 |
A36 | |
| Frequência | 5 MHz | 4 MHz | 2,25 e 4 MHz | 2,25 e 4 MHz |
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| Configuração | Dual 16 (linear) | Dual 32 (matriz 16 × 2) | Dual 32 (linear) | Dual 64 (linear) |
| Abertura | 12 mm × 5 mm | 16 mm × 6 mm | 32 mm × 12 mm | 64 mm × 12 mm |
| Série de calços recomendada | SA25-DN70L-IH | SA27-DN55L-FD15-IHC | SA26-DN55L-FD40-IHC | SA36-DN55L-FD200-IHC |
| Características | Compatível com o scanner COBRA™ para inspeção de tubos com diâmetros pequenos (<10 mm de espessura) | Uso geral com excelente desempenho geral e resolução próxima à superfície (espessura de 10 a 40 mm) | Otimizado para materiais muito espessos (40 mm–80 mm) | Otimizado para materiais extra espessos (>80 mm) |
| Requisito mínimo de instrumentação |
16:64PR (uma sonda)
32:128PR (duas sondas) | 32:128PR (duas sondas) | 32:128PR (duas sondas) | 64:128PR (uma sonda) |
Sondas Dual UT (TRL) A27As sondas UT duplas convencionais podem ser usadas para inspeção com ondas de superfície ou em conjunto com as sondas DMA para cobertura completa da solda. Os calços destacáveis proporcionam maior versatilidade e estabilidade para vários diâmetros de tubos. |
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Criação de DMA e DLA integrado e configuração de feixe
O OmniScan™ X3 permite criar sondas e calços DLA (Dual Linear Array) ou DMA (Dual Matrix Array). Além de criar leis focais phased array (PA), você também pode usar o plano de varredura para configurar grupos de método de foco total (TFM) e formação de imagem com coerência de fase (PCI). O plano de varredura acomoda uma ampla variedade de geometrias, incluindo configurações COD. |
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