Visão geral
Analisador por XRF em linha Vanta™ iX para análise automatizada de materiais
Mantenha seu processo atualizado
O analisador de fluorescência de raios X (XRF) em linha Vanta™ iX , da Olympus, dá a você segurança em seus produtos, automatizando a análise de materiais e identificação de ligas na linha de produção:
|  |
Inspeção 100% para fabricação de metal de tubos, barras e hastesPara organizações que adotam práticas da Indústria 4.0 e controle de processo 24 horas por dia, 7 dias por semana para verificar ligas com análise aprovado/reprovado, o analisador Vanta iX oferece verificação de material e controle de lote/temperatura para fabricação de barras, tarugos, tubos e hastes, bem como peças usinadas e componentes personalizados. Automatizar seus testes com um analisador Vanta iX aumenta sua vantagem competitiva para seu produto acabado, pois você pode demonstrar que os materiais são 100% testados e verificados. |
Varredura e monitoramento para controle de teor de minério na mineraçãoPara processamento geológico e mineração, o analisador Vanta iX permite a varredura do núcleo e a análise na esteira com resultados em tempo real para monitorar a variabilidade do processo e garantir a consistência do teor de minério. Durante a análise na esteira, o analisador fornece verificação de mistura e validação de processo de concentrados. |  |
 | Análise elementar rápida e precisa para controle de qualidade contínuoComo todos os componentes eletrônicos do Vanta, o analisador Vanta iX funciona rapidamente, enquanto fornece resultados confiáveis e acessíveis para orientar as decisões críticas.
|
Integra-se facilmente em uma variedade de sistemas de produçãoO analisador Vanta iX é versátil, compacto e fácil de instalar — use os orifícios de montagem em cada lado para montar o analisador em robótica e outros sistemas. Não há caixa de controle externa, então você pode controlar facilmente o analisador com a API Vanta Connect ou um PLC e fio discreto. Opções de conector:
|  |
Robusto para maior tempo de atividade em ambientes de fabricaçãoO analisador Vanta iX é construído para suportar os altos níveis de vibração, ruído eletromagnético e acústico, poeira e umidade das instalações de produção para maior confiabilidade e tempo de atividade.
Um dissipador de calor embutido reduz a temperatura interna, enquanto os pontos de conexão do ventilador estão disponíveis se o resfriamento adicional for necessário. O analisador possibilita a substituição de janela sem necessidade de utilizar ferramentas para proporcionar manutenção rápida. |
Especificações
Especificações do Vanta iX
| Dimensões (A × L × C) | 10 cm × 7,9 cm × 26,6 cm (3,9 pol. × 3,1 pol. × 10,5 pol.) |
| Peso | 2,4 kg (5,29 lb) |
| Fonte de excitação |
Tubo de raios X: ânodo de Rh ou W (aplicação otimizada) 5–200 μA
Modelo MR: 8–50 keV (4 W, máx.) Modelo CW: 8–40 keV (4 W, máx.) |
| Filtragem de feixe primário | Oito posições de filtro selecionáveis automaticamente por feixe por método |
| Detector |
Modelo MR: detector de desvio de silício de grande área
Modelo CW: detector de desvio de silício padrão |
| Energia | Power over Ethernet (PoE+) ou adaptador de energia CA de 18 V |
| Alcance elementar |
Dependente do método:
Modelo MR: Mg – U Modelo CW: Ti – U (com janela padrão e calibração) |
| Correção de pressão | Barômetro embutido para altitude automática e correção de pressão do ar |
| Classificação IP | IP54 |
| Ambiente de operação |
Faixa de temperatura: de –10 °C a 50 °C (de 14 °F a 122 °F) sob ciclo de trabalho contínuo
Umidade: de 10% a 90% de umidade relativa, sem condensação |
| Sistema operacional | Linux |
| Software de aplicação | Aquisição de dados de propriedade da Olympus e pacote de processamento |