Evident LogoOlympus Logo
Ресурсы
Application Notes
Назад к ресурсам

Обнаружение дефектов на термически обработанных деталях из алюминиевых сплавов/Применение различных методов микроскопии на цифровых микроскопах


Область применения

Термическая обработка некоторых металлов может привести к образованию аномальных кристаллов, называемых дендритами. Например, когда слиток металла протягивают через фильер для получения прутка определенного диаметра, условия термообработки могут изменяться, вызывая различия в рекристаллизации между центром и периферийными областями прутка. В результате, размер зерен кристаллов в центре остается большим, и кристаллы затвердевают. Образовавшиеся дендриты могут стать причиной внешних дефектов, заметных при поверхностной обработке (один из заключительных этапов в процессе изготовления деталей) или привести к усталостным трещинам при сильном механическом воздействии.

Решение Olympus

Цифровые микроскопы DSX1000 Olympus оснащены стандартной функцией EFI (расширенное фокальное изображение). Функция EFI позволяет выполнять точную настройку фокуса для объединения множества изображений на разных Z-уровнях в единое полностью сфокусированное изображение. Благодаря EFI пользователи могут с легкостью фокусироваться на любой области, даже на образцах, для которых фокусировка на всей поверхности невозможна ввиду мельчайших поверхностных неровностей от вытравливания. Кроме того, расширенный динамический диапазон (HDR) микроскопа облегчает оптимизацию контраста, упрощая измерения профиля частиц. Эти функции позволяют определить наличие и размер дендритов в деталях из алюминиевых сплавов. Микроскоп DSX1000 оснащен большинством функций, необходимых для эффективного контроля металлических структур, и пользователи могут выбирать для анализа лучшее изображение из полученных разными методами.

Изменение внешнего вида
алюминиевый сплав

 

Правильная кристаллизация металлической структуры: микроскопия по методу дифференциально-интерференционного контраста (ДИК)

non-defective_dic objective lens 5x
Линза объектива 5х

non-defective_dic objective lens 10x
Линза объектива 10х

non-defective_dic objective lens 20x
Линза объектива 20х

Дендриты (аномальная кристаллизация): микроскопия по методу дифференциально-интерференционного контраста

dendrite_dic objective lens 5x
Линза объектива 5х

dendrite_dic objective lens 10x
Линза объектива 10х

dendrite_dic objective lens 20x
Линза объектива 20х

Olympus IMS

Продукты, используемые для этой цели

Превосходное качество изображений и лучшие результаты.  Цифровые микроскопы DSX1000 позволяют с высокой точностью проводить анализ отказов и неисправностей. 

К сожалению, эта страница недоступна в вашей стране.
Let us know what you're looking for by filling out the form below.
К сожалению, эта страница недоступна в вашей стране.