Evident LogoOlympus Logo
Ресурсы
Application Notes
Назад к ресурсам

Анализ профиля поверхности светопроводящих пластин в ЖК мониторах/Бесконтактное измерение 3D формы с помощью лазерного микроскопа


Область применения

Специальные пленки наслаиваются друг на друга в оптической системе, что способствует поддержанию равномерной яркости жидкокристаллического (ЖК) дисплея. В маленьких дисплеях используется светопроводящая пластина для направления света через панель. Свет, поступающий от источника, то есть от светодиодов, установленных по краю панели дисплея, рассеивается светопроводящей пластиной и циклически отражается для освещения передней поверхности панели. Неровности на поверхности светопроводящей пластины распределяются с такой плотностью, чтобы рассеивание света увеличивалось по мере удаления от источника света. Свет, отражаемый пластиной, равномерно распределяется светорассеивающей пластиной. После чего свет собирается призматическим листом, усиливается и направляется через TFT панель. Оценка профиля поверхности (шероховатости) светопроводящей пластины является важным этапом для обеспечения равномерной яркости ЖК-дисплеев.

Решение Olympus

3D сканирующий лазерный микроскоп Olympus LEXT позволяет в высоком разрешении и с высокой точностью измерить угол конусности и расстояние от пика до впадины или высоту элементов рельефа на поверхности светопроводящей пластины. Благодаря специализированному объективу с высокой числовой апертурой и улучшенной оптической системе, обеспечивающей максимальную производительность лазера с длиной волны 405 нм, микроскоп LEXT способен захватывать профиль сложных для обнаружения искривленных скосов, позволяя получать более достоверные объемные данные и контролировать качество светопроводящих пластин.

Объемный профиль поверхности светопроводящей пластины              

3D профиль поверхности светопроводящей пластины

Объектив 100Х; увеличение 1Х

Olympus IMS

Продукты, используемые для этой цели

The LEXT™ OLS5100 laser scanning microscope combines exceptional accuracy and optical performance with smart tools that make the system easy to use. The tasks of precisely measuring shape and surface roughness at the submicron level are fast and efficient, simplifying your workflow and delivering high-quality data you can trust.

К сожалению, эта страница недоступна в вашей стране.
Let us know what you're looking for by filling out the form below.
К сожалению, эта страница недоступна в вашей стране.