Измерение формы на микронном уровне с помощью лазерного микроскопа
Полиэтиленовый пакет со струнным замком
Область применения
Все мы часто используем полиэтиленовые пакеты в повседневной жизни. Пакеты со струнным замком очень удобны и экономичны, поскольку легко открываются и закрываются и могут использоваться многократно. Такие пакеты изготавливаются из разных материалов, в зависимости от того, для хранения каких продуктов предназначен пакет. Чаще всего для изготовления используются полиэтилен и полипропилен. Одна из важнейших функций струнного замка — обеспечить достаточную герметичность, чтобы содержимое пакета не вытекло или не подвергалось воздействию воздуха. Контроль состояния верхней поверхности направляющей струнного замка (поверхность, которая контактирует со второй направляющей при закрывании пакета) важен для гарантии достижения требуемой герметичности.
Решение Olympus
3D лазерный сканирующий микроскоп Olympus LEXT предназначен для выполнения измерений 3D форм с высокими разрешением и точностью. Эти функции позволяют пользователям проводить точные измерения профиля шероховатости поверхности, а также глубины (или высоты) неровностей на поверхности. Микроскоп LEXT использует те же параметры шероховатости (двухмерной), что и микроскопы контактного типа, позволяя получать эквивалентные результаты измерений. Помимо этого в микроскопе LEXT также заданы параметры для измерения трехмерной шероховатости, отвечающие стандарту ISO25178, что дает вам возможность получать больше информации при анализе поверхности, чем при измерении линейной шероховатости, используя 3D изображения вместе с числовыми данными. Выполнять измерения с помощью традиционных контактных микроскопов достаточно проблематично, поскольку будет сложно разместить измерительный датчик на поверхности тонкой направляющей, а микроскоп LEXT позволяет выполнять бесконтактные измерения с низкими и высокими коэффициентами увеличения без потери фокусировки на малой измеряемой площади.
Изображения направляющей струнного замка пластикового пакета с разными коэффициентами увеличения
|
|
|
|
3D + профиль
До коррекции искривленной поверхности
После коррекции искривленной поверхности