Общие сведения
Современные электронные устройства становятся все меньше, а их устройство все сложнее, в связи с чем спрос на миниатюрные печатные платы стремительно растет. Неотъемлемой частью процесса производства печатных плат является наслоение медной фольги на диэлектрическую полимерную основу. Для обеспечения надежной фиксации медной фольги поверхность полимера загрубляется, чтобы увеличить контактную площадь. Но если поверхность будет слишком шероховатая, она создаст электрическое сопротивление, что негативно скажется на работе электронного устройства. Поэтому обязательно необходимо измерять шероховатость поверхности, чтобы удостовериться, что она находится в оптимальных пределах.
Решения Olympus
3D лазерный измерительный микроскоп Olympus LEXT специально сконструирован для измерения шероховатости поверхности с разрешением в двухмерном представлении 0,12 мкм и разрешением для неровной поверхности 5 нм — эти параметры идеально подходят для проведения измерений шероховатости печатных плат. Данный микроскоп имеет высокую плотность пикселей и повышенную чувствительность к уклонам, благодаря чему вы можете измерять поверхности с мельчайшими неровностями и крутыми углами. В микроскопе LEXT реализована технология бесконтактного измерения шероховатости, которая обеспечивает сохранение целостности поверхности основы платы.
Характеристики продукта
Изображения, получаемые с помощью микроскопа LEXT, имеют высокое разрешение и высокую плотность пикселей, что позволяет проводить точные 3D наблюдения. Высокая чувствительность микроскопа к уклонам обеспечивает достоверность измерений образцов, имеющих крутые углы. Измерения шероховатости поверхности выполняются бесконтактным способом, так что поверхность полимерной основы точно не будет повреждена. Микроскоп LEXT соответствует требованиям JIS/ISO в отношении измерения шероховатости поверхности.
Изображение
Рис. 1: 3D изображение измерения шероховатости полимерной основы печатной платы
