Пашмина – очень тонкая, мягкая ткань, получаемая из пуха кашемировых коз; толщина
волокна пашмины составляет одну десятую от человеческого волоса. Контролеры
выполняют анализ этого ценного материала в процессе изготовления, чтобы
обеспечить качество продукции.
Однако, состав шерсти «пашмина», также как и других волокон животного
происхождения, бывает очень сложно проанализировать. Многие шерстяные
волокна имеют схожие характеристики поверхности, такие как диаметр и
плотность чешуек, что затрудняет увидеть разницу между ними.
Здесь мы рассмотрим два известных метода количественного анализа пашмины:
оптические микроскопы и сканирующие электронные микроскопы.
Метод первый: использование оптического микроскопа
Метод оптического микроскопа требует от контролеров идентификации увеличенных волокон пашмины путем наблюдения чешуйчатого строения и других характеристик поверхности. Узнать больше об этих отличительных признаках можно в стандартах текстильного анализа, таких как AATCC-20A и ASTM-D629. Однако, анализ данных характеристик с помощью оптического микроскопа может быть затруднительным. Многие оптические микроскопы обеспечивают ограниченное разрешение (около 0,35 микрон) и небольшую глубину резкости (около 1–2 микрон), поэтому некоторые характеристики волокна остаются вне фокуса. При наблюдении в проходящем свете, могут возникнуть тени с обеих сторон волокна.
Метод второй: использование сканирующего электронного микроскопа (СЭМ)
| Сканирующий электронный микроскоп (СЭМ) использует электроны для изображения характеристик поверхности волокна. Волокно обычно покрывают тонким слоем золота для отображения сканируемой поверхности, что увеличивает стоимость и время, затрачиваемое на анализ каждого образца. Даже если решения СЭМ обеспечивают более высокое разрешение и большую глубину резкости при анализе характеристик поверхности волокна, эти микроскопы являются дорогими и сложными в эксплуатации. Кроме того, методика СЭМ не позволяет увидеть внутреннюю структуру волокна и пигментацию, в отличие от оптических микроскопов. |
---|
Новое эффективное решение, как альтернатива оптическим и СЭМ-микроскопам
Компания Olympus предлагает эффективное и простое решение, которое позволяет преодолеть трудности, возникающие при использовании традиционных оптических микроскопов и СЭМ. Данное решение предполагает использование промышленного микроскопа Olympus BX53M и метод дифференциально-интерференционного контраста (ДИК). Мы использовали микроскоп BX53M для наблюдения чешуек волокна пашмины в отраженном свете. Во избежание чрезмерного отражения, мы поместили волокна шерсти пашмина на предметное стекло, используя адгезию воды. Мы нанесли немного воды/пара на предметное стекло, так чтобы создать микрокапли воды. Затем мы разместили на стекле шерстяное волокно, вытянув его примерно на 0,1 см для выравнивания. Мы дали волокну высохнуть в течение минуты. Важно оптимизировать настройки полевой диафрагмы и апертурной диафрагмы для наблюдения волокна шерсти пашмина по методу ДИК. Мы установили апертурную диафрагму на минимум и скорректировали полевую диафрагму для контроля избыточного отражения. Используя функцию расширенной фокусировки (EFI) в комбинации с апохроматическим объективом Olympus, мы получили полностью сфокусированное изображение волокна, включая границы цилиндрической поверхности шерсти. Эти точные изображения были получены менее чем за 10 минут без прогрева микроскопа | | Изображения волокна пашмины, полученные с помощью микроскопа BX53M. Вы можете четко видеть чешуйки шерстяного волокна. Информация любезно предоставлена IRTech Pvt. Ltd. India (дистрибьютор промышленных микроскопов Olympus в Индии) |
|