TFM и другие преимущества дефектоскопа OmniScan X3 для специалистов НК — Отзыв клиента

Перед официальным запуском дефектоскопа OmniScan™ X3 компания Olympus передала прибор для испытания в отдел IS Expert Institut de Soudure (группы специалистов НК, базирующейся во Франции). Отдел IS Expert контролирует разработку новых методов и средств неразрушающего контроля (НК).

Эксперт по УЗК протестировал OmniScan X3 и дал свою оценку

После проведения нескольких лабораторных тестов с OmniScan X3, Мануэль Тессье, специалист по неразрушающему контролю (УЗК/TOFD), поделился своим взглядом на новые функции X3 и какие преимущества они дают дефектоскопистам. Он особо выделил такие функции, как: метод общей фокусировки (TFM), улучшенную поддержку преобразователей DLA и DMA, а также инновационный инструмент моделирования AIM (карта акустического воздействия).

Ниже приводится выдержка из статьи, появившейся в журнале Contrôles Essais Mesures (CEM) № 69.

Мануэль Тессье, специалист по НК (УЗК/TOFD), тестирующий возможности визуализации TFM дефектоскопа OmniScan X3 в лаборатории Institut de Soudure (Франция)

«Мы смогли протестировать TFM на разных образцах. Результаты убедительны.» Мануэль Тессье, специалист в области НК (УЗК/TOFD), имел возможность первым протестировать новые функции OmniScan X3 в лаборатории Institut de Soudure. Ответы на вопросы журнала CEM см. ниже:

CEM: В Institut de Soudure вы ежедневно используете приборы OmniScan. Для каких целей?

M. Тессье: Устройства OmniScan являются для нас стандартным оборудованием. Мы ценим их за компактность, высокое качество и надежность. Все наши специалисты прошли обучение по использованию оборудования и прикладного ПО. В Institut de Soudure, мы имеем около 20 дефектоскопов такого типа. Контроль сварных швов, картирование и измерение толщины, оценка параметров дефектов, выявление различных типов повреждений: наш отдел IS Expert ежедневно использует данное оборудование, как для традиционных методов контроля (с одним преобразователем), так и для полуавтоматического и автоматического контроля сварных соединений, комбинируя методики TOFD и ФР.

CEM: Как насчет специализированных преобразователей?

M. Тессье: Да, мы также используем данный дефектоскоп с преобразователями DLA (Dual Linear Array) или DMA (Dual Matrix Array). Одним из преимуществ OmniScan X3 является простота программирования датчиков данного типа. Это было менее удобно с OmniScan MX2, который был способен управлять преобразователями, но не облегчал их программирование. OmniScan X3 предлагает интересные возможности, а в комбинации с усовершенствованными преобразователями позволяет решать довольно специфические задачи; настройки фокальных законов здесь имеют существенное значение. Конфигурация параметров позволяет детализировать контроль. Встроенные преобразователи данного типа позволяют задать параметры законов фокусировки непосредственно в дефектоскопе, что было довольно затруднительно с MX2. Для меня это огромный плюс.

CEM: Что вы думаете о методе TFM, теперь доступном в OmniScan X3?

M. Тессье: TFM также приветствуется. До сих пор мы использовали другие устройства с данным режимом обнаружения дефектов, поскольку OmniScan MX2 не мог предоставить необходимые нам данные для более точного анализа. С новым OmniScan X3 больше нет необходимости в других приборах, в частности, для обнаружения HTHA-дефектов (это избавляет от скопления нескольких устройств на рабочем месте). Мы смогли протестировать TFM на разных образцах и получили убедительные результаты. Я бы также хотел протестировать мультигрупповой режим TFM, который предлагает возможность использования до четырех групп одновременно. Функция AIM (карта акустического воздействия), которой нет в других устройствах, — еще одно преимущество нового дефектоскопа. Эта функция дает возможность моделирования луча, позволяя увидеть возможные интерференции в конкретной зоне, — что не только удобно, но и является хорошим инструментом обучения.

См. также

3 способа упростить настройку с помощью инструмента построения схемы сканирования OmniScan X3

Как вы используете наше оборудование? Поделитесь своей историей!

Технический документ: Карта акустического воздействия TFM