Дефектоскоп OmniScan™ X3 — Улучшенная технология ФР и TFM-метод

Прибор, которому можно доверять

Запросить демо-версию

OmniScan X3

Улучшенная технология ФР

Инновации – главный фактор высокой эффективности

  • В 2 раза быстрее дефектоскопа OmniScan™ MX2 (частота повторения импульсов)
  • Одно меню TOFD (дифракционно-временной метод) для ускоренной работы
  • Улучшенная и быстрая калибровка ФР — Никакого стресса!
  • Диапазон высоких амплитуд 800% снижает необходимость повторного сканирования
  • Встроенная поддержка преобразователей Dual Linear Array™ и Dual Matrix Array™ ускоряет процесс настройки

Поддержка существующих файлов и настроек

  • Существующие ПЭП и сканеры
  • Файлы данных MX2/SX для сравнения показаний и отслеживания изменений во времени
  • Настройки MX/MX2/SX гарантируют соответствие процедур требованиям контроля

Надежность и простота использования

  • Возможность установки плана сканирования ускоряет освоение и упрощает работу с прибором
  • Главный инструмент парка оборудования – широкий диапазон применения
Подробнее о версии X3
  • Непрерывное сканирование благодаря максимальному размеру файла 25 ГБ
  • Класс защиты IP65 (защита от дождя и пыли); возможность беспроводного подключения и встроенный GPS

Инновационный TFM

TFM-изображения превосходного качества благодаря функции огибающей TFM в реальном времени

Предварительный обзор области сканирования с функцией AIM

Одновременное использование до 4-х режимов TFM упрощает измерение и оценку дефектов

Подробнее о версии X3

OmniScan® X3




Schedule a Demo

К сожалению, эта страница недоступна в вашей стране.