Проверка блоков управления

Блок управления представляет собой устройство, которое управляет электроэнергией во время движения электромобиля. Внутри блока управления находятся различные силовые полупроводники. Повреждения полупроводниковых пластин могут возникать в результате ухудшения состояния производственного оборудования, неправильной регулировки, человеческой ошибки или загрязнения.

Наше решение

Цифровой микроскоп DSX1000 — универсальное решение для контроля полупроводниковых пластин. Одна система позволяет получить доступ к различным методам наблюдения для обнаружения дефектов с помощью малого увеличения, а также определить тип дефекта с помощью большого увеличения.

Цифровой микроскоп серии DSX Подробнее о продукте

Дефекты поверхности полупроводниковой пластины, неровности пленки и измерение ширины линии

Для обеспечения нормального функционирования размеры полупроводниковой пластины необходимо измерить должным образом. Лазерный сканирующий микроскоп OLS5100 позволяет без лишних усилий точно определять размеры поверхности.

Лазерный сканирующий микроскоп серии OLS Подробнее о продукте

Измерение ширины и шага рисунка схемных соединений полупроводников