_{Микроскопы для применения}
в сфере производства полупроводников

Анализ поверхности кристаллов ИС

Одним из важных этапов при проектировании интегральных схем (ИС) является контроль качества готовых кристаллов ИС. Кроме того, производители кристаллов ИС должны проводить анализ кристаллов ИС на этапе опытного производства. Поскольку количество исследуемых образцов не так велико, производители могут использовать неавтоматизированное оборудование с высокой точностью.

Наше решение

Наши промышленные микроскопы серий BX/MX предоставляют возможность увеличения до 1000Х, благодаря чему вы можете исследовать рельеф ИС в микронном или субмикронном диапазоне. Микроскопы серии DSX обеспечивают увеличение до 7000Х и отличаются простотой эксплуатации.

Микроскоп серии MX для анализа полупроводников Подробнее о продукте

Металлографический микроскоп серии BX Подробнее о продукте

Цифровой микроскоп серии DSX Подробнее о продукте

Указания по применению

Подробнее об областях применения:

	Обнаружение производственных дефектов на полупроводниковых пластинах с помощью цифрового микроскопа Подробнее
	Измерение толщины пленки фоторезиста Подробнее
	Контроль проволочных выводов с помощью цифрового микроскопа Подробнее