Evident LogoOlympus Logo

Обратная связь   Обратная связь  

Промышленные решения
Карьера
Карьера

Промышленные микроскопы
Конфигурации

Высоконадежная модульная конструкция
Просто, как никогда

В линейке микроскопов BX53M представлено шесть возможных конфигураций, благодаря чему вы можете выбрать только самые необходимые вам функции.

Стандартное использование

Использование для выполнения специальных задач

Entry (Базовая)

Простая настройка с базовыми функциями

Standard (Стандарт.)

Простое использование с возможностью
различных обновлений

Advanced (Расшир.)

Поддержка ряда расширенных функций

Fluorescence (Флуоресценция)

Идеально подходит для
наблюдения с флуоресцентным освещением

Infrared (ИК)

Для исследования интегральных схем в инфракрасном свете

Polarization (Поляризация)

Для оценки характеристик двойного лучепреломления

Цветной ЖК-фильтр

Цветной ЖК-фильтр
(Проходящий свет/светлое поле)

Микроструктура с ферритными зернами

Микроструктура с ферритными
зернами
(Отраженный свет/темное поле)

Катушка медной проволоки

Катушка медной проволоки
(Темное поле + светлое поле/MIX)

Резист на структуре ИС

Резист на структуре ИС
(Флуоресценция + темное поле/MIX)

Структура ИС с кремниевым наслоением

Структура ИС с кремниевым наслоением
(ИК)

Асбест

Асбест
(ПОЛЯР)

Entry (Базовая)

Standard (Стандарт.)

Advanced (Расшир.)

Fluorescence (Флуоресценция)

Infrared (ИК)

Polarization (Поляризация)

См. таблицу технических характеристик

 Entry (Базовая) Standard (Стандарт.) Advanced (Расшир.) Fluorescence (Флуоресценция) Infrared (ИК) Polarization (Поляризация)
Корпус микроскопа Отраженный или отраженный/проходящий свет Отраженный или отраженный/проходящий свет Отраженный Проходящий
Стандарт. R-BF или T-BF R-BF или T-BF или DF R-BF или T-BF или DF или MIX R-BF или T-BF или DF или FL R-BF или IR T-BF или POL
Опция ДИК ДИК/MIX ДИК ДИК/MIX － －
Простой осветитель － ■■ － － －
Обознач. апертуры － ■■■ － ■
Аппарат. обеспечение － ■■■ － ■
Деление шкалы фокус. ■■■■■■
Диспетчер интенсивности освещения ■■■ － － ■
Ручное переключение □□■□ － －
Наблюдение MIX □□■□ － －
Объективы Выбор из 3 объективов Выбор из 3 объективов Объективы для ИК Объективы для ПОЛЯР
Предметный столик Выбор одного из 5 предмет. столиков в зависимости от размера образца Выбор одного из 5 предмет. столиков в зависимости от размера образца Предметный столик для ПОЛЯР

МЕТОД НАБЛЮДЕНИЯ

R-BF: светлое поле (отраженный свет)
T-BF: светлое поле (отраженный/проходящий свет)
DF: темное поле
ДИК: дифференциально-интерференционный контраст/простая поляризация
MIX: смешанный режим
FL: флуоресценция
IR: инфракрасный (ИК)
POL: поляризация

* Режим T-BF может использоваться для наблюдений в отраженном/проходящем свете.

■: Стандарт.
□: Опция

Примеры конфигурация для материаловедческих задач

Модульная конструкция позволяет создавать различные конфигурации в соответствии с задачей контроля
Ниже представлены примеры конфигураций для выполнения материаловедческих задач.

BX53M: конфигурация с отраженным и отражен./проходящим светом

В серии BX3M представлено два типа корпусов микроскопа: один в конфигурации только для наблюдения в отраженном свете, а второй — для наблюдения в отраженном и проходящем свете. Оба микроскопа можно оснастить ручными, кодированными или моторизованными компонентами. В обоих корпусах предусмотрена защита от ЭСР для обеспечения сохранности электронных образцов.

Пример конфигурации BX53MRF-S

Пример конфигурации BX53MRF-S

Пример конфигурации BX53MTRF-S

Пример конфигурации BX53MTRF-S

BX53M в комбинации с ИК

BX53M в комбинации с ИК

Для выполнения исследования, измерений и обработки полупроводников можно использовать ИК-объективы, поскольку для рассмотрения контуров на таких образцах требуется прохождение света через кремний. Инфракрасные (ИК) объективы с увеличением от 5X до 100X доступны с функцией коррекции хроматических аберраций от видимого до ближнего инфракрасного диапазона длин волн. При выполнении работ с большим увеличением вращение калибровочного кольца на объективах серии LCPLNIR помогает скорректировать аберрации, возникающие ввиду большой толщины образца. Четкое изображение можно получить, используя всего один объектив.

Нажмите здесь для получения более подробной информации об ИК-объективах

Комбинированное поляризованное освещение в BX53M

Оптические элементы, обеспечивающие излучение поляризованного света в микроскопе BX53M, являются идеальными инструментами для геологов для проведения высококонтрастной визуализации в поляризованном свете. Стабильная работа системы и комплекс высокоточных оптических элементов позволяют с уверенностью выполнять задачи по идентификации минералов, исследованию оптических характеристик кристаллов и анализу срезов твердых пород.

BX53-P в конфигурации для ортоскопического наблюдения

BX53-P в конфигурации для ортоскопического наблюдения

BX53-P в конфигурации для коноскопического/ортоскопического наблюдения

BX53-P в конфигурации для коноскопического/ортоскопического наблюдения

Линза Бертрана для коноскопического и ортоскопического наблюдения

С помощью насадки U-CPA для коноскопического наблюдения переключение между ортоскопическим и коноскопическим режимами наблюдения не составляет труда. Насадка имеет возможность фокусировки для получения четкой интерференционной картины задней фокальной плоскости. Диафрагма поля обзора в линзе Бертрана позволяет получить равномерно четкие и резкие коноскопические изображения.

Линза Бертрана для коноскопического и ортоскопического наблюдения
Широкий ассортимент компенсаторов и волновых пластинок

Широкий ассортимент компенсаторов и волновых пластинок

Для проведения измерений двойного лучепреломления в тонких срезах твердых пород и минералов доступно шесть типов компенсаторов. Уровень фазового сдвига измерения варьируется от 0 до 20 λ. Для упрощения процесса измерения и повышения контраста изображения можно использовать компенсаторы Берека и Сенармона, которые меняют уровень фазового сдвига во всем поле обзора.

Измерительный диапазон компенсаторов

Компенсатор Измерительный диапазон Основные области применения
Компенсатор Берека, толстый (U-CTB) от 0 до 11 000 нм
(20 λ) 		Измерение высокого уровня фазовой задержки (R*>3 λ)
(кристаллы, макромолекулы, волокна и т. п.)
Компенсатор Берека (U-CBE) от 0 до 1 640 нм
(3 λ) 		Измерение уровня фазовой задержки
(кристаллы, макромолекулы, живые организмы и т. п.)
Компенсатор Сенармона (U-CSE) от 0 до 546 нм
(1 λ) 		Измерение уровня фазовой задержки (кристаллы, живые организмы и т. п.)
Усиление контрастности изображения (живые организмы и т. п.)
Компенсатор Брейс-Келера
1/10 λ (U-CBR1) 		от 0 до 55 нм
(1/10 λ) 		Измерение низкого уровня фазовой задержки (живые организмы и т. п.)
Усиление контрастности изображения (живые организмы и т. п.)
Компенсатор Брейс-Келера
1/30 λ (U-CBE2) 		от 0 до 20 нм
(1/30 λ) 		Измерение контрастности изображения (живые организмы и т. п.)
Кварцевая призма (U-CWE2) от 500 до 2 200 нм
(4 λ) 		Приблизительное измерение уровня фазовой задержки
(кристаллы, макромолекулы и т. п.)

*R = уровень фазовой задержки
Для более точных измерений рекомендуется использовать компенсаторы (кроме U-CWE2) вместе с интерференционным фильтром 45-IF546.

Оптика без внутреннего напряжения

Благодаря особой конструкции и передовым технологиям производства объективы серии UPLFLN-P сводят к минимуму внутреннее напряжение линзы. Это означает более высокое значение EF, обеспечивающее непревзойденную контрастность изображения.

Нажмите здесь для получения более подробной информации об объективах UPLFLN-P
Нажмите здесь для получения более подробной информации об объективах PLN-P/ACHN-P
Система BXFM

Система BXFM

Микроскоп BXFM может быть адаптирован под особые случаи применения или интегрирован с другими инструментами. Модульная конструкция позволяет индивидуально подбирать конфигурацию под конкретные условия с возможностью выбора из широкого ассортимента специализированных малых осветителей и крепежных кронштейнов.

Модульная конструкция — соберите свою персональную систему

Корпусы микроскопа

Доступно два варианта корпусов микроскопа для наблюдения в отраженном свете, один из которых также предоставляет возможность проводить наблюдения в проходящем свете. Также доступен адаптер для поднятия осветителя для исследования образцов с большой высотой.

 Отраженный свет Проходящий свет Высота образца
1 BX53MRF-S ■ － от 0 до 65 мм
2 BX53MTRF-S ■ ■ от 0 до 35 мм
1, 3 BX53MRF-S + BX3M-ARMAD ■ － от 40 до 105 мм
2, 3 BX53MTRF-S + BX3M-ARMAD ■ ■ от 40 до 75 мм

Удобные принадлежности для микроскопии

－ HP-2 Ручной пресс
－ COVER-018 Пылезащитная крышка

Корпусы микроскопа

Стойки

Для проведения микроскопических исследований образцов, не помещающихся на предметном столике, осветитель и оптические элементы можно установить на стойке большего размера или закрепить на корпусе другого оборудования.

BXFM в конфигурации с осветителем BX53M

1 BXFM-F Корпус с возможностью крепления на стене/опорная стойка 32 мм
2 BX3M-ILH Держатель осветителя
3 BXFM-ILHSPU Амортизирующая пружина для BXFM
5 SZ-STL Большая стойка

BXFM в конфигурации с осветителем U-KMAS

1 BXFM-F Корпус с возможностью крепления на стене/опорная стойка 32 мм
4 BXFM-ILHS Держатель U-KMAS
5 SZ-STL Большая стойка

Стойки

Тубусы

Для проведения микроскопической визуализации с использованием окуляров или для видеонаблюдения подбирайте тубусы в соответствии с методом визуализации и рабочей позой оператора.

 FN Тип Тип угла Изображение Количество устройств диоптрийной
коррекции
1 U-TR30-2 22 Тринокулярный Фиксирован. Перевернут. 1
2 U-TR30IR 22 Тринокулярный для ИК-режима Фиксирован. Перевернут. 1
3 U-ETR-4 22 Тринокулярный Фиксирован. Вертик. －
4 U-TTR-2 22 Тринокулярный Наклон. Перевернут. －
5 U-SWTR-3 26,5 Тринокулярный Фиксирован. Перевернут. －
6 U-SWETTR-5 26,5 Тринокулярный Наклон. Вертик. －
7 U-TLU 22 Один порт － － －
8 U-SWATLU 26,5 Один порт － － －
Тубусы

Осветители

Осветитель направляет свет на образец в зависимости от выбранного метода наблюдения. Программные интерфейсы с запрограммированными осветителями для считывания положения фильтровального куба и автоматического распознавания метода наблюдения.

Осветители

 Кодированная функция Источник света BF DF ДИК POL IR FL MIX AS/FS
1 BX3M-RLAS-S Фиксированный, 3 положения куба Встроенный светодиод ■ ■ ■ ■ － － ■ ■
2 BX3M-URAS-S Съемный, 4 положения куба Светодиод ■ ■ ■ ■ － － ■ ■
Галоген ■ ■ ■ ■ ■ － ■ ■
Ртутный/световод ■ ■ ■ ■ － ■ ■ ■
3 BX3M-RLA-S

Светодиод ■ ■ ■ ■ － － ■ ■
Галоген ■ ■ ■ ■ ■ － ■ ■
4 BX3M-KMA-S

Встроенный светодиод ■ － ■ ■ － － ■ －
5 BX3-ARM Механический кронштейн для проходящего света
6 U-KMAS

Светодиод ■ － ■ ■ － － ■ －
Галоген ■ － ■ ■ ■ － ■ －

Источники света

Источники освещения и источники питания для подсветки образца; следует выбирать соответствующий источник света в зависимости от метода наблюдения.

Источники света

Стандартная конфигурация со светодиодным источником освещения

1 BX3M-LEDR Корпус светодиодной лампы отраженного света
2 U-RCV Преобразователь темнопольного освещения для BX3M-URAS-S, требуется для наблюдения в режиме темного поля
3 BX3M-PSLED Источник питания для корпуса светодиодной лампы, требуется для системы BXFM
4 BX3M-LEDT Корпус светодиодной лампы проходящего света

Конфигурация с флуоресцентным источником освещения

5 U-LLGAD Адаптер световода
2 U-RCV Преобразователь темнопольного освещения для BX3M-URAS-S, требуется для наблюдения в режиме темного поля
6 U-LLG150 Световод, длина 1,5 м
7 U-LGPS Источник флуоресцентного освещения
8, 9 U-LH100HG (HGAPO) Корпус ртутной лампы для наблюдения во флуоресцентном освещении
2 U-RCV Преобразователь темнопольного освещения для BX3M-URAS-S, требуется для наблюдения в режиме темного поля
10 U-RFL-T Источник питания для ртутной лампы мощностью 100 Вт

Конфигурация с галогенным и галоген-ИК источником освещения

11 U-LH100IR Корпус галогенной лампы для наблюдения в ИК освещении
12 U-RMT Удлинитель кабеля для корпуса галогеновой лампы, длина кабеля 1,7 м (удлинение кабеля требуется при необходимости)
13, 14 TH4-100 (200) Источник питания 100 В (200 В) для галогенной лампы 100 Вт/50 Вт
15 TH4-HS Ручной переключатель интенсивности освещения галогенной лампы (регулятор подсветки TH4-100 (200) без ручного переключателя)

Револьверные головки

Крепления для объективов и слайдеров. Выбираются в зависимости от количества и типа используемых объективов; с/без крепления для слайдера.

Револьверные головки

 Тип Отверстия BF DF ДИК MIX ESD Количество
центрирующих отверстий
1 U-P4RE Ручной 4 ■

■

4
2 U-5RE-2 Ручной 5 ■

3 U-5RES-ESD Кодир. 5 ■

■

4 U-D6RE Ручной 6 ■

■

5 U-D6RES Кодир. 6 ■

■

6 U-D5BDREMC Моториз. 5 ■ ■ ■ ■

7 U-D6BDRE Ручной 6 ■ ■ ■ ■

8 U-D5BDRES-ESD Кодир. 5 ■ ■ ■ ■ ■

9 U-D6BDRES-S Кодир. 6 ■ ■ ■ ■ ■

10 U-D6REMC Моториз. 6 ■

■

11 U-D6BDREMC Моториз. 6 ■ ■ ■ ■ ■

12 U-D5BDREMC-VA Моториз. 5 ■ ■

Слайдеры

Выберите слайдер, чтобы улучшить традиционное наблюдение методом светлого поля. Слайдер ДИК предоставляет топографические сведения об образце с возможностью максимального увеличения контрастности или разрешения. Слайдер MIX предусматривает возможность гибкого освещения с помощью сегментированного светодиодного источника в темном поле.

Слайдеры

Слайдер ДИК

Тип Степень сдвига Доступные объективы
1 U-DICR Стандарт. Средний MPLFLN, MPLAPON, LMPLFLN и LCPLFLN-LCD

Слайдер MIX

Доступные объективы
2 U-MIXR MPLFLN-BD, LMPLFLN-BD, MPLN-BD

Кабель

U-MIXRCBL* Кабель U-MIXR, длина кабеля: 0,5 м

* Только MIXR

Блоки управления и ручные переключатели

Блоки управления для обеспечения взаимодействия аппаратного обеспечения микроскопа с ПК и ручные переключатели для управления аппаратным обеспечением и вывода данных.

Конфигурация BX3M-CB (CBFM)

1 BX3M-CB Блок управления для системы BX53M
2 BX3M-CBFM Блок управления для системы BXFM
3 BX3M-HS Управление наблюдением со смешанным режимом освещения, индикатор запрограммированного аппаратного обеспечения, программируемая функциональная кнопка в ПО (PRECiV)
4 BX3M-HSRE Вращение револьверной головки с электроприводом

Кабель

－ BX3M-RMCBL (ECBL) Кабель револьверной головки с электроприводом, длина 0,2 м

Блоки управления и ручные переключатели

Предметные столики

Предметные столики и поверхности столиков для размещения образцов. Выбираются в зависимости от формы и размера образца.

Предметные столики

Конфигурация с предметным столиком 150 мм × 100 мм

1 U-SIC64 Предметный столик 150 мм × 100 мм с плоской поверхностью и рукояткой
2 U-SHG (T) Рукоятка из силиконового каучука для оптимизации работы (толстая)
3 U-SP64 Пластина предметного столика для U-SIC64
4 U-WHP64 Полупроводниковая пластина для U-SIC64
5 BH2-WHR43 Держатель полупроводниковой пластины на 4-3 дюйма
6 BH2-WHR54 Держатель полупроводниковой пластины на 5-4 дюйма
7 BH2-WHR65 Держатель полупроводниковой пластины на 6-5 дюйма
8 U-SPG64 Стеклянная пластина для U-SIC64

Конфигурация с предметным столиком 76 мм × 52 мм

13 U-SVR M Предметный столик 76 мм × 52 мм с рукояткой справа
2 U-SHG (T) Рукоятка из силиконового каучука для оптимизации работы (толстая)
14 U-MSSP Пластина предметного столика для U-SVR (/L) M
15, 16 U-HR (L) D-4 Тонкий держатель предметного стекла для установки справа (слева)
17, 18 U-HR (L) DT-4 Толстый держатель предметного стекла для установки справа (слева) для прижимания предметного стекла к поверхности предметного стола в случаях, когда образец сложно приподнимать

Конфигурация с предметным столиком 100 мм × 100 мм

9 U-SIC4R 2 Предметный столик 105 мм × 100 мм с рукояткой справа
10 U-MSSP4 Пластина предметного столика для U-SIC4R (L) 2
11 U-WHP2 Полупроводниковая пластина для U-SIC4R (L) 2
6 BH2-WHR43 Держатель полупроводниковой пластины на 4-3 дюйма
12 U-MSSPG Стеклянная пластина для U-SIC4R

Другие области применения

19 U-SRG2 Вращающийся предметный столик
20 U-SRP Вращающийся предметный столик для наблюдения в поляризованном свете; из любого положения может быть зафиксирован под наклоном 45°
21 U-FMP Механизированный предметный столик для U-SRP/U-SRG2

Адаптеры камеры

Адаптер для наблюдений посредством камеры. Выбор адаптеров зависит от требуемого поля обзора и коэффициента увеличения. Фактический диапазон наблюдения можно рассчитать по следующей формуле: фактическое поле обзора (диагональ в мм) = просматриваемое поле (номер проекции) ÷ коэффициент увеличения объектива.

Адаптеры камеры

 Коэффициент увеличения Регулировка центрирования Область ПЭС изображения (номер поля) мм
2/3 дюйма 1/1,8 дюйма 1/2 дюйма
1 U-TV1x-2 с U-CMAD3 1 － 10,7 8,8 8
2 U-TV1xC 1 ø 2 мм 10,7 8,8 8
3 U-TV0.63xC 0,63 － 17 14 12,7
4 U-TV0.5xC-3 0,5 － 21,4 17,6 16
5 U-TV0.35xC-2 0,35 － － － 22
6 U-TV0.25xC 0,25 － － － －

Окуляры

Окуляр – элемент микроскопа, предназначенный для рассматривания оптического изображения объекта. Выбор окуляров основан на необходимом поле обзора.

 FN (мм) Механизм диоптрической коррекции Встроенный крест визирных нитей
1 WHN10x 22

2 WHN10x-H 22 ■

3 CROSS WHN10x 22 ■ ■
4 SWH10x-H 26,5 ■

5 CROSS SWH10x 26,5 ■ ■
Окуляры

Оптические фильтры

Оптические фильтры преобразуют излучение при экспозиции образца в различные виды освещения. Выберите фильтр, соответствующий требованиям наблюдения.

Оптические фильтры

BF, DF, FL

1, 2 U-25ND25,6 Нейтральный фильтр со светопропусканием 25%, 6%
3 U-25LBD Цветной фильтр дневного света
4 U-25LBA Цветной фильтр для галогенного источника света
5 U-25IF550 Зеленый фильтр
6 U-25L42 Фильтр для подавления УФ-излучения
7 U-25Y48 Желтый фильтр
8 U-25FR Матовый фильтр (обязателен для BX3M-URAS-S)

POL, DIC

9 U-AN-2 Фиксированное направление поляризации
10 U-AN360-3 Вращающееся направление поляризации
11 U-AN360P-2 Вращающееся направление высокоточной поляризации
12 U-PO3 Фиксированное направление поляризации
13 U-POTP3 Фиксированное направление поляризации, для использования с U-DICRH
14 45-IF546 Зеленый фильтр ø45 мм для наблюдения в поляризованном свете

ИК

15 U-AN360IR Вращающееся направление ИК поляризации (уменьшение ореолов при ИК-наблюдении при использовании в комбинации с U-AN360IR и U-POIR)
16 U-POIR Фиксированное направление ИК поляризации
17 U-BP1100IR Полосовой фильтр диапазона: 1100 нм
18 U-BP1200IR Полосовой фильтр диапазона: 1200 нм

Проходящий свет

19 43IF550-W45 Зеленый фильтр ø45 мм
20 U-POT Фильтр поляризатора

Другие области применения

22 U-25 Пустое гнездо для установки пользовательского фильтра ø25 мм

AN и PO необязательны при использовании BX3M-RLAS-S и U-FDICR

Конденсоры

Конденсоры захватывают и фокусируют проходящий свет. Используются для наблюдения в проходящем свете.

1 U-AC2 Конденсор Аббе (доступен для объективов с увеличением 5х и более)
2 U-SC3 Конденсор открытого типа (доступен для объективов с увеличением 1,25х и более)
3 U-LWCD Конденсор с длинным фокусным расстоянием для стеклянных пластин
 (U-MSSPG, U-SPG64)
4 U-POC-2 Конденсор открытого типа для наблюдения в поляризованном свете
Конденсоры

Зеркальные модули

Зеркальный модуль для BX3M-URAS-S. Выберите модуль для проведения необходимого наблюдения.

1 U-FBF Для BF, съемный нейтральный фильтр
2 U-FDF Для DF
3 U-FDICR Для наблюдения в поляризованном свете с фиксированной призмой николя
4 U-FBFL Для светлопольного наблюдения, встроенный нейтральный фильтр (необходимо использовать как BF*, так и FL)
5 U-FWUS Для наблюдения в УФ-FL свете: BP330-385 BA420 DM400
6 U-FWBS Для наблюдения в синем-FL свете: BP460-490 BA520IF DM500
7 U-FWGS Для наблюдения в зеленом-FL свете: BP510-550 BA590 DM570
8 U-FF Пустой зеркальный модуль

* Только для коаксиального эпископического освещения

Зеркальные модули

Промежуточные тубусы

Различные типы принадлежностей для разнообразных целей. Для установки между тубусом и осветителем.

1 U-CA Вариатор увеличения (1X, 1,25X, 1,6X, 2X)
2 U-TRU Промежуточный тринокулярный блок
Промежуточные тубусы

Объективы UIS2

Объективы используются для увеличения образца. Выберите объектив, соответствующий фокусному расстоянию, разрешающей способности и методу наблюдения для выполнения конкретной задачи.

Нажмите здесь для получения более подробной информации об объективах UIS2

К сожалению, эта страница недоступна в вашей стране.

Let us know what you're looking for by filling out the form below.

Печать
Cancel
К сожалению, эта страница недоступна в вашей стране.