Функциональность

Невидимое становится видимым: наблюдение в смешанном режиме Технология наблюдения в смешанном режиме, доступная в микроскопе BX53M, объединяет традиционные режимы подсветки с режимом темного поля. При задействовании слайдера смешанного режима кольцо светодиодов подсвечивает образец направленным темнопольным освещением. Этот метод аналогичен стандартному методу темного поля, но предоставляет возможность задействовать отдельный выбранный квадрант светодиодного кольца для подсвечивания образца под разными углами. Такая комбинация направленного темнопольного и светлопольного/флуоресцентного/поляризованного освещения называется смешанной подсветкой и особенно эффективна для обнаружения мельчайших дефектов и дифференциации возвышений и углублений на поверхности образца.

Невидимое становится видимым:
наблюдение в смешанном режиме

Технология наблюдения в смешанном режиме, доступная в микроскопе BX53M, объединяет традиционные режимы подсветки с режимом темного поля. При задействовании слайдера смешанного режима кольцо светодиодов подсвечивает образец направленным темнопольным освещением. Этот метод аналогичен стандартному методу темного поля, но предоставляет возможность задействовать отдельный выбранный квадрант светодиодного кольца для подсвечивания образца под разными углами. Такая комбинация направленного темнопольного и светлопольного/флуоресцентного/поляризованного освещения называется смешанной подсветкой и особенно эффективна для обнаружения мельчайших дефектов и дифференциации возвышений и углублений на поверхности образца.

	Создание максимально четких изображений: EFI Функция расширенного фокального изображения (EFI) в ПО PRECiV выполняет захват изображений образцов, высота которых выходит за пределы глубины резкости объектива, и соединяет все полученные изображения для формирования одного сверхчеткого изображения. Функция EFI может использоваться как с механическим, так и с моторизованным предметным столиком с возможностью перемещения по оси Z, и формирует карту высот для облегчения визуализации структуры образца. На рабочем столе ПО PRECiV EFI-изображение можно сформировать даже в автономном режиме.

Создание максимально четких изображений: EFI

Функция расширенного фокального изображения (EFI) в ПО PRECiV выполняет захват изображений образцов, высота которых выходит за пределы глубины резкости объектива, и соединяет все полученные изображения для формирования одного сверхчеткого изображения. Функция EFI может использоваться как с механическим, так и с моторизованным предметным столиком с возможностью перемещения по оси Z, и формирует карту высот для облегчения визуализации структуры образца. На рабочем столе ПО PRECiV EFI-изображение можно сформировать даже в автономном режиме.

Точный захват светлых и темных зон: HDR С помощью усовершенствованной технологии обработки изображений функция расширенного динамического диапазона (HDR) корректирует перепады яркости на изображении для устранения бликов. HDR повышает визуальное качество цифровых изображений, способствуя таким образом созданию более профессиональных отчетов.	_{Четкая видимость как темных, так и светлых участков в режиме HDR (образец: головка топливной форсунки)}	_{Усиление контраста в режиме HDR (образец: срез магнезита)}

Точный захват светлых и темных зон: HDR

С помощью усовершенствованной технологии обработки изображений функция расширенного динамического диапазона (HDR) корректирует перепады яркости на изображении для устранения бликов. HDR повышает визуальное качество цифровых изображений, способствуя таким образом созданию более профессиональных отчетов.

_{Четкая видимость как темных, так и светлых участков в режиме HDR (образец: головка топливной форсунки)}

_{Усиление контраста в режиме HDR

(образец: срез магнезита)}

_{Изображение монеты, полученное с помощью функции MIA}	Формирование панорамного изображения при перемещении предметного столика: функция мгновенного создания панорамы MIA Вы можете быстро и без лишних усилий получить сшитое изображение, двигая механический предметный столик с помощью рычажков перемещения по осям XY; наличие предметного столика с электроприводом больше не обязательно. ПО PRECiV использует технологию распознавания контуров для формирования панорамного изображения, обеспечивая более широкое поле обзора по сравнению с однокадровым режимом.

_{Изображение монеты, полученное с помощью функции MIA}

Формирование панорамного изображения при перемещении предметного столика: функция мгновенного создания панорамы MIA

Вы можете быстро и без лишних усилий получить сшитое изображение, двигая механический предметный столик с помощью рычажков перемещения по осям XY; наличие предметного столика с электроприводом больше не обязательно. ПО PRECiV использует технологию распознавания контуров для формирования панорамного изображения, обеспечивая более широкое поле обзора по сравнению с однокадровым режимом.

Разнообразие возможностей измерения

Функции рутинных или базовых измерений В PRECiV доступны разнообразные измерительные функции, позволяющие пользователю с легкостью получать необходимые данные по изображениям. Функции выполнения измерений по изображениям зачастую необходимы при проведении контроля качества и итоговой проверки. Лицензии на ПО PRECiV всех уровней включают в себя интерактивные функции измерения такие как расстояние, углы, треугольники, окружности, эллипсы и многоугольники. Все измеренные результаты сохраняются вместе с файлами изображений для последующего внесения в отчет.

Функции рутинных или базовых измерений

В PRECiV доступны разнообразные измерительные функции, позволяющие пользователю с легкостью получать необходимые данные по изображениям. Функции выполнения измерений по изображениям зачастую необходимы при проведении контроля качества и итоговой проверки. Лицензии на ПО PRECiV всех уровней включают в себя интерактивные функции измерения такие как расстояние, углы, треугольники, окружности, эллипсы и многоугольники. Все измеренные результаты сохраняются вместе с файлами изображений для последующего внесения в отчет.

	Подсчет и измерение Обнаружение объектов и измерение размерного распределения являются одними из самых важных направлений в цифровой визуализации. ПО PRECiV имеет механизм обнаружения, функционирующий по методу определения границ, для надежной дифференциации объектов (например, частиц, царапин) от фоновой поверхности.

Подсчет и измерение

Обнаружение объектов и измерение размерного распределения являются одними из самых важных направлений в цифровой визуализации. ПО PRECiV имеет механизм обнаружения, функционирующий по методу определения границ, для надежной дифференциации объектов (например, частиц, царапин) от фоновой поверхности.

Решения для материаловедения ПО PRECiV имеет понятный интерфейс, ориентированный на оптимизацию рабочего процесса для комплексного анализа изображений. Большую часть задач по анализу изображений можно выполнить одним нажатием кнопки. При этом гарантируется их быстрое и точное выполнение в соответствии с наиболее широко применимыми промышленными стандартами. Благодаря значительному уменьшению длительности обработки повторяющихся задач специалисты по материаловедению могут посвятить больше времени аналитической и исследовательской работе. В любое время доступно использование модульных расширений для анализа включений и построения графиков для отсекаемого отрезка.

Решения для материаловедения

ПО PRECiV имеет понятный интерфейс, ориентированный на оптимизацию рабочего процесса для комплексного анализа изображений. Большую часть задач по анализу изображений можно выполнить одним нажатием кнопки. При этом гарантируется их быстрое и точное выполнение в соответствии с наиболее широко применимыми промышленными стандартами. Благодаря значительному уменьшению длительности обработки повторяющихся задач специалисты по материаловедению могут посвятить больше времени аналитической и исследовательской работе. В любое время доступно использование модульных расширений для анализа включений и построения графиков для отсекаемого отрезка.

_{3D-вид поверхности (образец шероховатости поверхности)}	_{Отдельный вид и измерение 3D профиля}	Измерение трехмерных образцов При использовании внешнего электроприводного механизма следящей фокусировки функция EFI может быстро выполнить захват и отображение трехмерных изображений. Полученные данные о высоте могут использоваться для трехмерных измерений профиля или одноплоскостного изображения. Поддержка запланирована в PRECiV 1.2.

_{3D-вид поверхности (образец шероховатости поверхности)}

_{Отдельный вид и измерение 3D профиля}

Измерение трехмерных образцов

При использовании внешнего электроприводного механизма следящей фокусировки функция EFI может быстро выполнить захват и отображение трехмерных изображений. Полученные данные о высоте могут использоваться для трехмерных измерений профиля или одноплоскостного изображения.

Поддержка запланирована в PRECiV 1.2.

Подробнее о PRECiV

Возможность исследования большего разнообразия типов и размеров образцов

Новый предметный столик 150 х 100 мм имеет больший диапазон перемещения по оси Х в сравнении с предыдущими моделями. Эта особенность вкупе с плоской поверхностью позволяют размещать на столике более крупные образцы или несколько образцов одновременно. На плоскости предметного столика имеются резьбовые отверстия для закрепления держателя образца. Увеличенная площадь предметного столика обеспечивает возможность исследовать большее количество разных типов образцов, позволяя сэкономить свободное пространство в лаборатории. Возможность настройки значения крутящего момента предметного столика способствует более точному позиционированию при большом увеличении в узком поле обзора.

Адаптивность под образцы различной высоты и массы С помощью дополнительного модульного блока на предметном столике можно разместить образец высотой до 105 мм. А благодаря усовершенствованному механизму фокусировки микроскоп способен выдержать общий вес до 6 кг (вес образца + вес предметного столика). Один микроскоп BX53M позволяет исследовать более крупные и тяжелые образцы, что устраняет необходимость установки в лаборатории большого количества оборудования. Разместив поворотный держатель для 6-дюймовых полупроводниковых пластин со смещением от центра, пользователь может наблюдать всю поверхность пластины, всего лишь вращая держатель при перемещении предметного столика в диапазоне 100 мм. Настройка крутящего момента предметного столика оптимизирована для максимальной простоты использования, а эргономичная рукоятка упрощает процесс поиска области интереса на образце.	_BX53MRF-S

Адаптивность под образцы различной высоты и массы

С помощью дополнительного модульного блока на предметном столике можно разместить образец высотой до 105 мм. А благодаря усовершенствованному механизму фокусировки микроскоп способен выдержать общий вес до 6 кг (вес образца + вес предметного столика). Один микроскоп BX53M позволяет исследовать более крупные и тяжелые образцы, что устраняет необходимость установки в лаборатории большого количества оборудования. Разместив поворотный держатель для 6-дюймовых полупроводниковых пластин со смещением от центра, пользователь может наблюдать всю поверхность пластины, всего лишь вращая держатель при перемещении предметного столика в диапазоне 100 мм. Настройка крутящего момента предметного столика оптимизирована для максимальной простоты использования, а эргономичная рукоятка упрощает процесс поиска области интереса на образце.

_BX53MRF-S

_BXFM	Адаптивность под размер образца Для случаев, когда необходимо исследовать образец, слишком крупный для стандартного предметного столика микроскопа, доступна модульная конфигурация основных оптических компонентов, используемых для отражательной микроскопии. Модульная конструкция микроскопа BXFM позволяет установить его на подставке большего размера с помощью специальной стойки или закрепить на другом инструменте с помощью крепежного кронштейна. Таким образом, пользователи могут получить все преимущества зарекомендовавших себя оптических технологий Evident для исследования даже уникальных по размеру или форме образцов.

_BXFM

Адаптивность под размер образца

Для случаев, когда необходимо исследовать образец, слишком крупный для стандартного предметного столика микроскопа, доступна модульная конфигурация основных оптических компонентов, используемых для отражательной микроскопии. Модульная конструкция микроскопа BXFM позволяет установить его на подставке большего размера с помощью специальной стойки или закрепить на другом инструменте с помощью крепежного кронштейна. Таким образом, пользователи могут получить все преимущества зарекомендовавших себя оптических технологий Evident для исследования даже уникальных по размеру или форме образцов.

Защита электронных компонентов от электростатического разряда: устойчивость к ЭСР

Микроскоп BX53M оснащен средствами гашения ЭСР, что помогает защитить электронные компоненты от статического электричества, исходящего от человека или окружающей среды.

К сожалению, эта страница недоступна в вашей стране.

Промышленные микроскопы
Функциональность

Невидимое становится видимым:
наблюдение в смешанном режиме