Описание
6 методов наблюдения и расширенный функционалУсовершенствованная модель DSX1000 |
---|
3D-изображения высокого разрешения и быстрая скорость съемки
|
---|
Отслеживание всех углов
|
---|
Быстрый анализ — Многофункциональная панель управления
|
---|
Будьте уверены в достоверности* полученных результатов
*Для обеспечения точности XY, калибровка должна быть выполнена сервисным специалистом Olympus. |
---|
Назад к цифровым микроскопам
Модели
Цифровые микроскопы DSX1000Микроскопы серии DSX1000 для разных задач (от базовой до усложненной модели)
|
См. таблицу технических характеристик
Объективы DSX1000Наша линейка из 17 объективов, в том числе со сверхдлинным рабочим расстоянием и высокой числовой апертурой, обеспечивает непревзойденную гибкость и качество изображений.
|
Назад к цифровым микроскопам
Технические характеристики
Технические характеристики цифрового микроскопа DSX1000 |
DSX10-SZH | DSX10-UZH | |||
Оптическая система | Оптическая система | Телецентрическая оптическая система | ||
Коэффициент масштабирования | 10X (моторизованный) | |||
Метод кратковременного увеличения | Моторизованный | |||
Калибровка | Автоматически | |||
Крепление объективов | Быстросменные объективы, автоматическое обновление информации (увеличение и поле зрения). | |||
Максимальное общее увеличение
(на 27-дюймовом мониторе) | 8220X | |||
Рабочее расстояние (раб.рст) | 66,1 мм – 0,35 мм | |||
Точность и воспроизводимость (плоскость X-Y) | Точность*1 | ± 3% | ||
Воспроизводимость 3σn-1 | 2% | |||
Воспроизводимость (ось Z)*2 | Воспроизводимость σn-1 | 1 мкм | ||
Камера | Светочувствительная матрица | Цветная КМОП-матрица 1/1,2 дюйма, 2,35 мегапикселей | ||
Охлаждение | Охлаждение элементом Пельтье | |||
Частота кадров | 60 кадров/с (максимум) | |||
Стандарт | 1200 × 1200 (1: 1) / 1600 × 1200 (4: 3) | |||
Режим 3-КМОП | Не доступно | 1200 × 1200 (1: 1) / 1600 × 1200 (4: 3) | ||
Режим 3-КМОП × смещение пикселей | Не доступно | 3600 × 3600 (1: 1) / 4800 × 3600 (4: 3) | ||
Метод освещения | Источник цветного света | Светодиод | ||
Срок службы | 60 000 ч (расчет. данные) | |||
Метод наблюдения | BF (светлое поле) | Стандарт | ||
OBQ (косое) | Стандарт | |||
DF (темное поле) |
Стандарт
Кольцевой светодиодный осветитель, разделенный на 4 сегмента | |||
MIX (светлое поле+темное поле) |
Стандарт
Одновременное использование методов BF + DF | |||
PO (поляризация) | Стандарт | |||
ДИК (дифференциально-интерференционный контраст) | Не доступно | Стандарт | ||
Увеличение контраста | Стандарт | |||
Увеличение глубины резкости | Не доступно | Стандарт | ||
Освещение в проходящем свете | Стандарт*3 | |||
Фокус | Фокусировка | Моторизованный | ||
Ход | 101 мм (моторизованный) |
*1 Необходима калибровка техническим специалистом компании Olympus или дилера. Для гарантии точности измерений по осям XY, требуется калибровка с DSX-CALS-HR (калибровочный образец). Для выдачи сертификата, калибровка должна быть выполнена специалистом Olympus.
*2 При использовании объектива с увеличением 20X и выше.
*3 Требуется DSX10-ILT.
Объектив | DSX10-SXLOB | DSX10-XLOB | UIS2 | |
Линза объектива | Макс. высота образца | 50 мм | 115 мм | 145 мм |
Макс. высота образца
(свободный угол обзора) | 50 мм | |||
Парфокальное расстояние | 140 мм | 75 мм | 45 мм | |
Крепление объективов | Интегрировано в объектив | Доступно | ||
Общий коэффициент увеличения
(на 27-дюймовом мониторе) | 23–1644X | 49–6570X | 26*4 – 8220X | |
Фактическое поле зрения (мкм) | 19 200 мкм – 270 мкм | 9 100 мкм – 70 мкм | 17 100 мкм – 50 мкм | |
Адаптер | Диффузор (приобретается отдельно) | Доступно | Не доступно | |
Адаптер, устраняющий отражение (приобретается отдельно) | Доступно | Не доступно | ||
Крепление объективов | Кол-во прикрепляемых объективов |
Не более 1
(крепление интегрировано в объектив) | Не более 2 | |
Кейс для объективов | Для хранения до 3-х объективов |
*4 Общее (макс.) увеличение при использовании MPLFLN1.25X
Предметный столик | DSX10-RMTS | DSX10-MTS | U-SIC4R2 |
Двухосевой предметный столик XY: моторизованный/ручной | Моторизованный (с функцией вращения) | Моторизованный | Ручной |
Ход по XY |
Режим приоритета хода: 100 мм × 100 мм
Режим приоритета вращения 50 мм × 50 мм | 100 мм × 100 мм | 100 мм × 105 мм |
Угол вращения |
Режим приоритета хода: ±20°
Режим приоритета вращения: ±90° | Не доступно | |
Угол поворота дисплея | Графический интерфейс пользователя | Не доступно | |
Допустимая нагрузка | 5 кг | 1 кг |
Корпус | DSX-UF | DSX-TF |
Длина хода по оси Z | 50 мм (ручн.) | |
Наблюдение под углом | Не доступно | ±90° |
Угол наклона дисплея | Не доступно | Графический интерфейс пользователя |
Метод наклона | Не доступно | Вручную, рукоятка блокировки/разблокировки |
Измерение | Измерение в плоскости |
Измерение профиля | |
Шаговое измерение | |
Шаг измерения высоты | |
Измерение площади/объема | |
Анализ шероховатости линии | |
Анализ шероховатости поверхности | |
Автоматическое измерение границ | |
Анализ частиц | |
Измерение перепадов | |
Анализ угла наклона поверхности сферы/цилиндра | |
Мультианализ данных* |
*Требуется экспериментальное программное приложение полной поддержки измерений (приобретается отдельно)
Дисплей | 27-дюймовый плоскопанельный |
Разрешение | 1920 (Ш) × 1080 (В) |
Вся система | Система с прямым тубусом | Система с наклонным тубусом |
Вес (рама, оптическая головка, моторизованный предметный столик, монитор и панель управления) | 43,7 кг | 46,7 кг |
Потребляемая мощность | 100–120 В / 220–240 В, 1,1/0,54 A, 50/60 Гц |
Назад к цифровым микроскопам
Применение
Области применения DSX1000 |
Контроль состояния поверхности тормозных колодок с помощью цифрового микроскопаПоверхность тормозной колодки влияет на ее рабочие характеристики, включая тормозную силу, термостойкость, шум и тепловыделение. Цифровые микроскопы позволяют проверить материал фрикционных накладок, правильно ли выдержаны пропорции компонентов фрикционных смесей. |
|
---|
Контроль проволочных выводов с помощью цифрового микроскопаЦифровые микроскопы являются эффективным инструментом для анализа таких дефектов, как обрывы и смещения проволок на шаге свивки каната, отслаивание и миграция, которые могут возникнуть в процессе металлизации. |
|
---|
Автомобилестроение | Электронные компоненты | Производство металлов/Литье | Силикатная промышленность (производство стекла и керамики) | Другие области |
Назад к цифровым микроскопам
Ресурсы
Инструкция по применениюВидеоБрошюрыРуководстваАнализ конкретных ситуацийСправочникиБлог |