Evident LogoOlympus Logo

Промышленные микроскопы
Ваша система

Персонализируйте программный пакет

Программное обеспечение OLYMPUS Stream™ – это мощный и простой в использовании инструмент измерения, специально разработанный для микроскопов Olympus. Нет необходимости вручную регистрировать оптические параметры объективов Olympus UIS2 при использовании с обычным микроскопом. Калибровка увеличения также не требуется при импорте изображений с микроскопов DSX и LEXT™. Программное обеспечение предлагается в разных пакетах: от базовой комплектации до более усовершенствованных версий.


Пакеты ПО OLYMPUS Stream 

ПО OLYMPUS Stream доступно в четырех вариантах с разными наборами функций: Start, Basic, Essentials и Motion.
Для упрощения многоразовых процедур анализа в систему можно добавлять программные модули для конкретных материалов. Представители компании Olympus помогут вам определить наиболее подходящий для вас пакет ПО. 

Узнать больше


Полностью интегрируется с большинством оптических микроскопов Olympus 

Прямые микроскопы

Система микроскопа BX53M и программного обеспечения

Система микроскопа BX53M и программного обеспечения 

Микроскоп BX53M использует запрограммированные функции, которые интегрируют аппаратные настройки микроскопа в программное обеспечение OLYMPUS Stream. Метод наблюдения, интенсивность освещения и положение объектива записываются с помощью ПО и/или рукояток. Настройки микроскопа можно автоматически сохранять вместе с каждым изображением, чтобы позволяет воспроизводить настройки в дальнейшем и предоставляет документацию для отчетности. 

Прямые микроскопы


Инвертированные микроскопы

Система микроскопа GX53 и программного обеспечения

Система микроскопа GX53 и программного обеспечения

Наши цифровые камеры обеспечивают получение изображений высокого качества и быструю передачу изображений, в то время как наше программное обеспечение предоставляет все необходимые инструменты для выполнения сложных процедур металлографического контроля. 
Пользователям доступен выбор расширенных измерений, стандартных методов металлографических исследований, а также расширенных модулей для конкретных металлографических задач (доступно более десятка специальных приложений). Кроме того, пользователям доступно автоматическое заполнение данных и создание отчетов, соответствующих общим спецификациям ASTM и ISO. 

Инвертированные микроскопы


Микроскопы для контроля полупроводников

Интегрированный микроскоп и системное ПО

Интегрированный микроскоп и системное ПО

Мы предлагаем пользователям несколько программных платформ, которые интегрируются в раму микроскопа для управления всеми механическими функциями, включая цифровую камеру и столик с механическим приводом. Каждый интерфейс предназначен для базовых процедур контроля и управления, расширенного анализа изображений или многократного контроля рабочего места или анализа дефектов.

Микроскопы для полупроводников


Стереомикроскопы

Система микроскопа SZX16 и программного обеспечения

Система микроскопа SZX16 и программного обеспечения

Наш стереомикроскоп оснащен моторизованным приводом фокусировки, который позволяет упростить и полностью автоматизировать процесс цифрового документирования с помощью расширенной фокальной визуализации (EFI). Вы даже можете создавать псевдо 3D-изображения. В программном обеспечении представлены инструменты для простых 2D-измерений и сложных процедур фазового анализа, а также поддержка большого количества процедур контроля, включая наблюдение, создание отчетов, создание баз данных и архивирование.

Стереомикроскопы


Расширьте возможности конфокальных и цифровых микроскопов Olympus

Используйте программное обеспечение OLYMPUS Stream для постобработки (Stream Desktop) с полным спектром цифровых микроскопов серии DSX и измерительным лазерным 3D-микроскопом LEXT.

Измерительный лазерный 3D-микроскоп LEXT

Измерительный лазерный 3D-микроскоп LEXT

Цифровой микроскоп серии DSX

Цифровой микроскоп серии DSX

Измерительный лазерный 3D-микроскоп LEXT
Цифровой микроскоп DSX


Поддержка большинства цифровых камер Olympus

Разрешение и точность цветопередачи

Изображения с низким уровнем шума и высоким разрешением, полученные с помощью 9-мегапиксельного датчика, позволяют при их увеличении рассмотреть структуру образца (песчаник)

Изображения с низким уровнем шума и высоким разрешением, полученные с помощью 9-мегапиксельного датчика, позволяют при их увеличении рассмотреть структуру образца (песчаник)

Превосходное пространственное разрешение, а также большое количество пикселей, используют полную разрешающую способность объективов, отображая структуры и мельчайшие детали самых мелких образцов даже с объективами малого увеличения. Благодаря высокому разрешению изображений, пользователи могут проводить наблюдения исключительно на экране, без использования окуляров.

Детальный обзор с помощью инфракрасного (ИК) освещения

Изображение в светлом поле, 5-кратное увеличение, полученное монохромной камерой DP23M. a. Светлопольное изображение 5x b.) ИК-изображение 5x (фильтр BP1100 нм), c.) Обрезанная деталь 20x ИК, d.) Обрезанная деталь 20x ИК с фильтром DCE

Изображение в светлом поле, 5-кратное увеличение, полученное монохромной камерой DP23M.
a. Светлопольное изображение 5x
b.) ИК-изображение 5x (фильтр BP1100 нм),
c.) Обрезанная деталь 20x ИК,
d.) Обрезанная деталь 20x ИК с фильтром DCE

Режим ИК-визуализации является неотъемлемым инструментом для проведения контроля качества и работы в научно-исследовательских лабораториях. ИК-режим позволяет выполнять неразрушающий контроль через слои силиконовой упаковки продукции на завершающем этапе производства.

Цифровые камеры


Специальные методы наблюдения для материаловедения

Визуализация в режиме HDR для улучшенного контраста

Изображения с расширенным динамическим диапазоном (HDR) отличаются усиленным контрастом в неблагоприятных условиях измерения (слишком высветленные зоны в сочетании с крайне затемненными). В данном режиме могут использоваться все камеры, поддерживаемые ПО OLYMPUS Stream; специализированные камеры имеют динамический режим.

Выравнивание контраста слишком высветленной и затемненной областей с помощью HDR (пример: баллон топливного инжектора)

Выравнивание контраста слишком высветленной и затемненной областей с помощью HDR (пример: баллон топливного инжектора)

Усиление контраста в режиме HDR (образец: срез магнезита)

Усиление контраста в режиме HDR (образец: срез магнезита)


Наблюдение MIX для визуализации структуры поверхности образца

Программное обеспечение поддерживает функцию наблюдения MIX

Данная техника освещения сочетает метод направленного темного поля, в котором используется светодиодная лампа круговой подсветки для освещения одного или более квадрантов в определенный момент времени; и методы светлого поля, флуоресценция или поляризация, которые позволяют выделять дефекты и различать выпуклые поверхности от вогнутых, что обычно сложно сделать при использовании традиционных микроскопов. Методика MIX уменьшает ореолообразование вокруг образца и помогает рассмотреть текстуру поверхности.

Стандартный метод: светлое поле направляет свет прямо на образец, тогда как темное поле выделяет царапины и несовершенства на плоской поверхности путем освещения образца со стороны объектива.

Стандартный метод: светлое поле направляет свет прямо на образец, тогда как темное поле выделяет царапины и несовершенства на плоской поверхности путем освещения образца со стороны объектива.

Усовершенствованный метод: метод MIX – это комбинация светлого поля и направленного темного поля от кольца LED лампы; направление освещения светодиодной лампы можно настроить

Стандартный метод: светлое поле направляет свет прямо на образец, тогда как темное поле выделяет царапины и несовершенства на плоской поверхности путем освещения образца со стороны объектива.

Усовершенствованный метод: метод MIX – это комбинация светлого поля и направленного темного поля от кольца LED лампы; направление освещения светодиодной лампы можно настроить

 

К сожалению, эта страница недоступна в вашей стране.

Let us know what you're looking for by filling out the form below.

К сожалению, эта страница недоступна в вашей стране.