Обратная связь
Обратная связь
Продукты
▾
Решения НК
▾
Дефектоскопы
▾
Портативные ультразвуковые дефектоскопы
Оборудование с фазированными решётками
Вихретоковые дефектоскопы
Вихретоковые матрицы
Контроль качества композитных материалов
Портативные толщиномеры
▾
72DL PLUS
39DL PLUS
45MG
Magna-Mike 8600
27MG
35RDC
Преобразователи и аксессуары
Датчики и преобразователи
▾
Одноэлементные и раздельно-совмещенные преобразователи
Вихретоковые преобразователи
Преобразователи для контроля труб
Фазированные преобразователи (ФР-ПЭП)
BondMaster Probes
Автоматизированные системы контроля
▾
Система контроля колесных пар ж/д вагонов
Wheelset Inspection System (PASAWIS)
Системы контроля прутков
Системы контроля труб
Система контроля сварных соединений полученных сваркой трением с перемешиванием (СТП)
Pipeline Girth Weld Inspection
Оборудование НК
▾
FOCUS PX / PC / SDK
QuickScan
QuickScan iX ECA
QuickScan iX PA+
Промышленные сканеры НК
▾
Сканеры для контроля сварных соединений
Сканеры для коррозионного мониторинга
Сканеры для аэрокосмической промышленности
Комплектующие сканеров
Evident Connect
▾
X3 RCS
Inspection Project Manager (IPM)
Software
▾
Программное обеспечение WeldSight™
Программное обеспечение TomoView
Программное обеспечение NDT SetupBuilder
OmniScan MX2 and SX Software
Программное обеспечение OmniPC 4
ScanPlan Software
AeroView™ Software
РФ-анализаторы и рентгеновские дифрактометры
▾
Портативные РФ-анализаторы
▾
Vanta
Vanta Element
Компактные переносные РФ-анализаторы
▾
Vanta GX
In-Line XRF Analysis
Решения OEM
▾
X-STREAM
Ключевые прикладные решения
Evident Connect
▾
Vanta Data Viewer
Промышленные микроскопы
▾
Лазерные конфокальные микроскопы
▾
OLS5100
ISO/IEC 17025校正認定ソリューション
表面粗さ測定ポータル
Цифровые микроскопы
▾
Цифровые микроскопы
ISO/IEC 17025校正認定ソリューション
Измерительные микроскопы
▾
STM7
STM7-BSW
Контроль чистоты
▾
CIX100
Оптические микроскопы
▾
Прямые микроскопы
Инвертированные микроскопы
Модульные микроскопы
Микроскопы для контроля полупроводников и плоскопанельных дисплеев
▾
MX63 / MX63L
AL120
AL120-12
Микроскопы с дополненной реальностью
▾
SZX-AR1
Стереомикроскопы
▾
SZX16
SZX10
SZX7
SZ61/SZ51
Цифровые камеры
▾
DP75
DP28
SC180
DP23
LC35
DP23M
ПО для анализа изображений
▾
PRECiV
Stream Enterprise
Микроспектрофотометр
▾
USPM-RU-W
Линзы объектива
▾
MPLAPON
MPLAPON-Oil
MXPLFLN
MXPLFLN-BD
MPLN
MPLN-BD
MPLFLN
MPLFLN-BD
LMPLFLN
LMPLFLN-BD
SLMPLN
LCPLFLN-LCD
LMPLN-IR/LCPLN-IR
White Light Interferometry Objective
Micrometer
Компоненты микроскопов OEM
Промышленные микроскопы — Часто задаваемые вопросы
Специализированные решения
Customized Solutions
Видеоскопы, бороскопы
▾
Видеоскопы
▾
IPLEX NX
IPLEX GAir
IPLEX GX/GT
IPLEX G Lite and IPLEX G Lite-W
IPLEX TX II
IPLEX с длинной рабочей частью
Wind Turbine Inspection Video Borescopes
Aviation Borescopes for Aircraft Inspection
Video Borescopes for Automotive Engine Inspection
Промышленные фиброскопы
▾
Фиброскопы малого диаметра
Sweeney Digital Turning Tool
Программное обеспечение для генерации отчетов
▾
InHelp
3DAssist 3D Modeling Software
Источники света
Evident Connect
▾
ViSOL
Отрасли
Ресурсы
Обучение
Блог
Поддержка
▾
Контакты
Consultation Reception about Introduction
Служба поддержки клиентов
XRF and XRD Technical Support
Service Solutions
▾
Overview
Сервисные центры
Custom Financing Solutions
Olympus Scientific Cloud
Программное обеспечение
User Manuals
Сертификаты ISO
MSDS Datasheets
Compliance and Ethics at Evident
Информация о продукции
Product Service Termination List
Оборудование снятое с производства
▾
MultiScan MS5800 для контроля труб
▾
Программное обеспечение MultiView
Программное обеспечение TubePro
CIC
Evident Technolab
Microscope Classroom
EVIDENT Modern Slavery Act Statement
APAC Technology Center
▾
Overview
Automated Multi-Element XRF Analysis
▾
Overview
Microscope Inspection System
▾
Overview
Bolt Inspection Scanner
▾
Overview
Simplified Data Transfer and Management
▾
Overview
Rentals
Shop
Careers
What is EVIDENT?
Поиск
My Account
IMS Log in
App Marketplace
Connected Devices
My Apps
My Data
My Organization
Evident Connect Log in
Evident Connect Log in
Log Out
Log Out
English (English)
|
日本語 (Japanese)
|
français (French)
|
简体中文 (Simplified Chinese)
|
Deutsch (German)
|
italiano (Italian)
|
čeština (Czech)
|
Español (Spanish)
|
русский (Russian)
|
polski (Polish)
|
português (Portuguese)
|
한국어 (Korean)
Промышленные решения
Карьера
Карьера
Ресурсы
Оптические измерения
Главная
/
Ресурсы
/
Оптические измерения
Ceramics
Альтернативные материалы для альтернативных источников энергии
Glass
Quilt Packaging: Lining Up an Array of Opportunities
Metal
Gaining the Edge: The Design and Development of a Device Equipped to Create 3D Ski Edge Measurements
Quilt Packaging: Lining Up an Array of Opportunities
The future of industrial quality control
Альтернативные материалы для альтернативных источников энергии
Others
Evaluating New Methods of Dental Erosion Analysis
Evaluating Sample Preparation of Stone Tools: Effects of Cleaning on Surface Measurements
Maximizing Data Recovery: Utilizing 3D Digital Laser Microscopy to Image Damaged Optical Media
Multi-Scale Analysis: Evaluating Measured Topographies on Surfaces Made by Additive Manufacturing (3D Printing)
Quantifying Microwear: The Effectiveness of LSCM and ReIA for Surface Roughness Analysis of Experimental Mistassini Quartzite Scrapers
Robot Insect Wings
Альтернативные материалы для альтернативных источников энергии
Plastic
Multi-Scale Analysis: Evaluating Measured Topographies on Surfaces Made by Additive Manufacturing (3D Printing)
К сожалению, эта страница недоступна в вашей стране.
Let us know what you're looking for by filling out the form below.
Обратная связь
Подписаться на информационный бюллетень
Главная
/
Ресурсы
/
Оптические измерения
Печать
Search
Cancel
Redirecting
You are being redirected to our local site.
Attention: Please enable JavaScript
К сожалению, эта страница недоступна в вашей стране.