Electronics

Решения Olympus для электроники

Электронные устройства становятся все меньше, как и их компоненты. Выполнение контроля интегральных схем, полупроводниковых пластин и прочих электронных компонентов — это сложная задача, потому что даже мельчайшие частицы загрязнений могут вызвать неисправности.

Производители используют микроскопы с высококачественной оптикой для контроля паяных соединений в контурах, состояния проводов в печатных платах и поиска загрязняющих частиц. В некоторых случаях шероховатость поверхностей компонентов устройства измеряется с помощью бесконтактных лазерных конфокальных микроскопов для обеспечения соответствия этих компонентов строгим стандартам.

Решения для измерения и контроля 5G-устройств

Микроскопы для производства полупроводников

Микроскопы для производства печатных плат

Микроскопы для производства литий-ионных батарей

Дополнительные ресурсы

Блог

Mix Observation Methods to See More in Your Wafer Defect Inspection

Static Electricity and Surface Roughness in Films: An Experiment

Преимущества лазерных микроскопов для измерения шероховатости поверхности медной фольги, используемой в печатных платах 5G

Управление контролем качества на производстве электроники с помощью программного обеспечения PRECiV™

Интеллектуальный способ контроля загрязнения в рамках высокопроизводительного метрологического контроля

5 преимуществ цифрового микроскопа DSX1000

Что такое цифровой микроскоп?

ASNT 2018 Wrap Up

От макро до микро: как цифровые микроскопы преображают процесс промышленного контроля

Toy Trouble: Detecting Hazardous Materials in a Popular Toy

Получение высококачественных изображений через кремниевый слой без нарушения целостности готового изделия

Использование ПО анализа и обработки изображений для автоматического обнаружения частиц в теллуриде цинка-кадмия

Контроль качества потребительских товаров с помощью портативного РФ-анализатора Vanta

Тенденция перехода к светодиодным источникам света в микроскопии

Под зорким объективом стереомикроскопа

Преимущества полностью моторизованного микроскопа

Освещение по Кёллеру

Чем базы данных изображений могут быть полезны для вас?

Новые видео-инструкции помогут вам по максимуму использовать возможности вашего толщиномера

 Показать больше

Инструкция по применению

プリント基板（PCB）における不良解析の課題と解析事例紹介

Using a High-Resolution Digital Microscope to Perform Highly Accurate Thickness Measurements of the Internal Layer of a Multilayer Ceramic Condenser

High-precision three-dimensional measurement : Measuring the shape of microchannels with a 3D laser microscope (Japanese only)

Measuring the Circuit Shape of a Printed Wiring Board Using a Digital Microscope

Inspecting Glass Fiber Peeling in a Printed Wiring Board’s Glass Epoxy Substrate—Clear Images Are Essential for Quality Control

Обнаружение производственных дефектов на полупроводниковых пластинах с помощью цифрового микроскопа

Получение четких изображений и точное измерение размеров многослойного керамического конденсатора с помощью цифрового микроскопа.

Measuring the Volume of Integrated Circuit Chipping After the Dicing Process Using a Digital Microscope

Как глубина резкости микроскопа (глубина фокуса) влияет на контроль качества штыревых разъемов

Контроль проволочных выводов с помощью цифрового микроскопа

Inspecting the Cavity Profile of Xenon Difluoride (XeF2) Etched Silicon (Si) Wafers for Suspended Antenna-Coupled Nanothermocouples

Measuring the Profile of a Bonding Wire Ball

Measuring the Thickness of Photoresist Film

Height Measurement of Microscopic Bumps on an Integrated Circuit

Measuring the shape of scratches on vehicle-mounted camera lenses

Measuring the shape of an automotive millimeter-wave radar’s circuit board

Measuring the Layer Profiles of Thin-Film Solid-State Lithium-Ion Batteries Manufactured Using the Inkjet Technique

Измерение шероховатости поверхности контактной площадки выводной рамки

Measuring the Roughness of Lithium-Ion Battery Electrodes Using a Laser Microscope

Измерение шероховатости поверхности коллекторов электродов литий-ионных аккумуляторов

Using a microscope to inspect the solder wettability of mounting components

Observing the Surface Condition of Separators in Lithium-Ion Batteries Using a Scanning Probe Microscope (SPM) Combined with a Laser Microscope

Оценка шероховатости поверхности карт памяти

Анализ рельефа схемы на образцах полупроводниковых пластин

Using Image Analysis Software to Measure Throwing Power or PCB Copper Plating Thickness Uniformity

Wiring Inspections for Flexible Printed Circuit Boards (PCBs)

Относительная площадь Au на спаянных поверхностях после обрыва контактной площадки

Загрязнения в сквозных отверстиях печатных плат

Линейные измерения тисненой ленты-носителя для конденсаторов

Step measurement of transparent film applied to a glass surface

Evaluating the Coating on a Smartphone Housing / Film thickness measurement and 3D surface profile measurement using a laser microscope

Roughness Evaluation of the Inner Lead of a Lead Frame / Surface roughness measurement of a micro area using a laser microscope

Анализ профиля поверхности светорассеивающих пластин в ЖК мониторах/Бесконтактное измерение 3D формы с помощью лазерного микроскопа

Evaluating the Shape of the Landing Zone Pattern and Contaminants on a Hard Disk / All-in-one system of optical, laser, and probe microscope capabilities provides seamless measurement from the millimeter to nanometer level.

Анализ профиля поверхности светопроводящих пластин в ЖК мониторах/Бесконтактное измерение 3D формы с помощью лазерного микроскопа

Quantitative Investigations of the Interconnect

Looking towards a Future of Affordable Solar Energy

Studying the Electro-mechanical Behavior of Thin Films

Измерение шероховатости поверхности основы гибкой печатной платы с помощью лазерного конфокального микроскопа Olympus OLS4100

Evaluating the Contacting Terminals of Wafer Level Chip Size Packages (CSPs) using the Olympus OLS4100 Laser Confocal Microscope

Использование лазерного конфокального микроскопа Olympus OLS5000 для измерения шероховатости поверхности печатных плат

Sectioning Analysis for Ball Grid Array (BGA) Surface Mounting of Semiconductor Package using the Olympus OLS5000 Laser Confocal Microscope

Setting standards in optical metrology at the PTB

Inspection of PGA packaging

Анализ поперечного сечения компоновки типа BGA

Semiconductor Bear Wafer Lasermark

Альтернативные материалы для альтернативных источников энергии

Maximizing Data Recovery: Utilizing 3D Digital Laser Microscopy to Image Damaged Optical Media

The Benefits of Handheld XRF for Medical Device RoHS Compliance

The future of industrial quality control

Quilt Packaging: Lining Up an Array of Opportunities

HHXRF Analyzers for Screening Consumer Goods for Lead (Pb), Cadmium (Cd) and Other Metals

 Показать больше

Видео

RVI Tutorial Video Series—Inspection Management with the IPLEX™ NX Videoscope

IE Japan Seminar: DSX1000 Solution

IE Japan Seminar: Microscope Solution

IE Japan Seminar: Stereo Microscope and Digital Camera Solution

DSX1000: Demonstration Guaranteed The Accuracy and Repeatability

DSX1000: Demonstration Stiching Function

DSX1000: Demonstration Reproduction Function of Observation Conditions

DSX1000: Demonstration Various Observation Method With One Touch

DSX1000: Demonstration Best Image Function

DSX1000: Demonstration Free Angle Observation System

DSX1000: Demonstration Wide Field Range Observation from Macro to Micro

DSX1000: Demonstration Digest

OLS5000: Demonstration (Japanese only)

Решения Olympus для электронной промышленности

DSX1000: Рекламный ролик

Серия обучающих видеороликов Vanta: Начало работы с программным обеспечением Vanta PC

CIX100 - Technical Cleanliness Inspection System

Proper Setup of a Basic Stereo Microscope

BX3M Product Overview

Stereo Microscope Ergonomic Video

STM7 Measuring Microscope

EPOCH 600: Функция хранения шаблонов

Ультразвуковой толщиномер 27MG — Краткий обзор

Краткий технический обзор – Промышленные микроскопы Olympus

OLYMPUS Stream – Модули Material Solution

Серия OLYMPUS Inspector - Краткий обзор

45MG: Ознакомительный видеоролик

OLYMPUS Stream – Измерение толщины слоя

OLYMPUS Stream – Функция Inclusion Worst Field (анализ неметаллических включений)

FOX IQ Анализатор жидкостей

OLYMPUS Stream – Получение 3D-изображений и высокоточное измерение

IPLEX UltraLite: Тест на прочность (падение с высоты 1,2 м)

IPLEX: Стерео измерения: Точка-Линия

38DLP/39DLP : Краткий обзор продукта

 Показать больше

Инфографика

Vanta Infographic

SZX Ergonomic Infographic

Решения

Vanta for Manufacturing QA/QC

Портативный XRF анализатор DELTA – Анализ сплавов и металлов

Вебинар

Webinar - XRF as Part of a Reasonable Testing Program for Consumer Products Regulations

Брошюры

VANTA для подтверждающего анализа

Характеристики VANTA

Microscope/Optical Metrology General Overview for Industrial Applications

Remote Visual Inspection Solutions General Overview

MX63/MX63L brochure

LC30 Microscope Digital Camera

Серия VANTA

Motorized Microscope System BX61

Исследовательский микроскоп BX53M/BXFM

ФР-преобразователи и призмы

 Показать больше

Учебные материалы

Application Considerations in Specifying High Frequency Ultrasonic Transducers

Roughness Measurement with LEXT, Laser Scanning Microscopes

Basic Principles of Laser Scanning Microscopes

 Показать больше

Ознакомительный курс

Ultrasonic Flaw Detection Tutorial

Технология применения фазированных решеток — Вводный курс

Вводный курс по контролю вихретовокой матрицей

Ultrasonic Thickness Gauge Tutorial

 Показать больше

Вопросы и ответы

Ultrasonic Testing FAQ

Learn about microscope

Frequently Asked Transducer Questions

 Показать больше

Руководства

Vanta Family X-Ray Fluorescence Analyzer User Interface Guide

Vanta Family X-Ray Fluorescence Analyzer Getting Started Guide

Справочники

LEXT Roughness measurement guidebook